用于测试电子器件的系统的制作方法

技术特征：

技术总结
本发明涉及用于测试电子器件的系统和方法。本申请公开了用于静电放电探针尖端的适配器。该适配器的实施例包括可以附连到探针尖端的附连器件。第一导体被固定到附连器件上，以便当附连器件被附连到探针尖端时第一导体接触该尖端。第二导体在第一电导体和附连器件外部的一点之间延伸。

技术研发人员：R·M·默滕斯;J·E·小孔兹
受保护的技术使用者：德克萨斯仪器股份有限公司
技术研发日：2013.08.02
技术公布日：2018.10.16