一种带有吸附功能半自动直针测试插座的制作方法

本发明涉及芯片测试领域，特别涉及一种带有吸附功能半自动直针测试插座。

背景技术

随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，从而保留合格的芯片。

而芯片的测试插座是一种在集成电路测试、电子系统调试、可编程芯片烧录、电路失效分析等领域广泛应用的电气连接设备，在芯片测试中直接与被测芯片相连起到测试信号传输的功能。

特别是在集成电路测试行业中，测试插座作为测试机系统与被测芯片之间的接口，是保证测试良率、提高测试效率的关键之一，其性能如接触电阻、测试良品率、机械性能等，都会直接影响到测试效果。

目前，国内外的测试插座普遍采用磁铁吸附的形式来保证芯片在检测过程中的准确性和稳定性，但是在安装和检测的过程中会出现诸多的问题：

由于芯片测试插座都是批量生产，产量较大，工人在安装过程中难免会混淆磁铁的正反面，导致芯片检测结果的不准确性；

对于高度集成化的芯片，在芯片安装过程中，磁铁的上表面有可能会划伤芯片，导致芯片的损坏；在检测过程中，磁铁的回路可能会干扰到检测过程，导致检测结果的不准确性。

显然采用磁铁吸附的形式在插座安装和芯片检测过程中存在诸多问题，不利于工业生产的要求。

而且，目前测试插座进行测试时的闭合都是通过人工闭合实现的，这种方式一定程度上会影响工作效率，而且，人工闭合，上盖件与底座的刚性冲击不可控。

技术实现要素：

本发明为解决上述问题，提供一种具有磁铁吸附功能手动直针测试插座，将芯片的吸附方式由传统的磁铁吸附改为吸盘吸附，解决人工安装磁铁出现的正反面安装错误的问题，并且解决磁铁回路干扰检测的问题，达到较好的检测效果。

同时，本测试插座的闭合采用气缸传动结构执行，取代人工闭合，减少人工参与度，保证工作稳定性的同时，能够有效的提高工作效率，同时，采用气缸伸缩闭合，可以减少上盖与底座重合时产生的刚性冲击，有效的保护测试插座及其芯片。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案是：一种带有吸附功能半自动直针测试插座，包括测试插座本体和气缸传动件，测试插座本体包括下座件和上盖件，下座件和上盖件通过转轴连接，气缸传动件与上盖件连接固定；

下座件上设有测试基座，测试基座上设有芯片定位槽，芯片定位槽内设有多个吸附件安装通孔，吸附件安装通孔内设有吸盘，下座件在吸附件安装通孔下侧设有气路通孔；

上盖件上设有与测试基座作用的压板，压板上与芯片定位槽对应的位置设有浮板；

气缸传动件包括依次铰接的气缸、t型杆、传动杆和直角杆，直角杆与上盖件侧边连接固定，t型杆与传动基座铰接。

进一步地，下座件上设有锁紧扣，上盖件上设有弹簧扣。

进一步地，吸附件安装通孔个数优选为2。

进一步地，吸盘包括前端的吸盘口和后端的导气管。

进一步地，直角杆在上盖件两侧双道设置，后端通过第一连杆连接有两根传动杆，t型杆通过第二连杆与气缸连接。

综上所述，本发明具备以下优点：

本发明采用塑料吸盘吸附芯片，不仅能够解决磁铁在安装过程中发生的错误，同时又能够解决磁铁吸附对测试过程中一定影响的问题。

本发明具体采用塑料吸盘吸附芯片，在安装过程中避免了磁铁正反面的安装错误；

而且，由于芯片、压板、浮板均存在微动，在合上插座的同时，会对芯片进行挤压，并通过外部的装置对吸盘内部进行抽气，使得吸盘内部形成真空，最终吸牢芯片。

检测完毕后，通过外部的装置对吸盘内部进行放气，使得吸盘降低对芯片的吸引力，最终取下芯片。

在整个检测过程中，吸盘最终对芯片不会产生影响，对芯片的检测结果也不会产生影响。

本发明测试插座的闭合采用气缸传动结构执行，取代人工闭合，减少人工参与度，保证工作稳定性的同时，能够有效的提高工作效率，同时，采用气缸伸缩闭合，可以减少上盖与底座重合时产生的刚性冲击，有效的保护测试插座及其芯片。

附图说明

图1是本发明的结构示意图；

图2是下座件结构示意图；

图3是图2中a-a剖面示意图；

图4是吸盘结构示意图；

图5是测试插座本体结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述：

实施例1：

一种带有吸附功能半自动直针测试插座，如图1所示，包括测试插座本体200和气缸传动件6。

如附图5所示，测试插座本体200包括下座件1和上盖件2，下座件1和上盖件2通过转轴3连接，气缸传动件6与上盖件连接固定；

继续参照附图2,下座件1上设有测试基座4。

具体的，测试基座4上设有芯片定位槽41，芯片定位槽41内设有多个吸附件安装通孔42。

并且，吸附件安装通孔个数优选为2。

该吸附件安装通孔42内设有吸盘43，下座件1在吸附件安装通孔42下侧设有气路通孔11，如附图4所示，吸盘43包括前端的吸盘口431和后端的导气管432。

进一步参照附图3，气管从气路通孔11内穿过与导气管432连接，从而气路能与吸盘接通，可以通过吸气和放气来控制吸盘对芯片的吸附和吸附后放开。

具体的，塑料吸盘吸附芯片，不仅能够解决磁铁在安装过程中发生的错误，同时又能够解决磁铁吸附对测试过程中一定影响的问题，同时采用塑料吸盘吸附芯片，在测试插座的安装过程中避免了磁铁正反面的安装错误。

继续参照附图1，上盖件2上设有与测试基座作用的压板5。

该压板5上与芯片定位槽41对应的位置设有浮板51。

由于芯片、压板、浮板均存在微动，在合上插座的同时，会对芯片进行挤压。

具体的，通过外部的装置对吸盘内部进行抽气，使得吸盘内部形成真空，最终吸牢芯片，而检测完毕后，通过外部的装置对吸盘内部进行放气，使得吸盘降低对芯片的吸引力，最终取下芯片。

而且在整个检测过程中，吸盘最终对芯片不会产生影响，对芯片的检测结果也不会产生影响

进一步参照附图1，下座件1上设有锁紧扣12，上盖件2上设有弹簧扣21，锁紧扣12与弹簧扣21的应用实现了上盖件2与下座件1的锁紧。

为解决上盖与底座重合时产生的刚性冲击，对测试插座及芯片造成影响的问题，本测试插座采用缸传动件3与上盖件连接固定，完成上盖与下座的闭合。

再次参照附图1，气缸传动件6包括依次铰接的气缸61、t型杆62、传动杆63和直角杆64。

直角杆64与上盖件2侧边连接固定，且在上盖件2两侧双道设置。

直角杆64后端通过第一连杆7连接有两根传动杆63。

每根传动杆63均铰接有t型杆62。

t型杆62与传动基座65铰接。

同时，t型杆62通过第二连杆8与气缸61连接。

即，t型杆62的三个连接头分别连接传动杆63、第二连接杆8和传动基座65。

上述实施方式只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神实质所做的等效变换或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。