用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置及方法与流程

本发明涉及输变电设备技术领域，具体而言，涉及一种用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置及方法。

背景技术：

电力系统是国民经济的重要支撑，同时也是世界上最复杂的人工网络。保持电网稳定是一项发展民生和经济的重要任务，但同时也受很多因素的制约。绝缘子作为电网中连接线路的主要载体，是支撑电网的重要支点，其重要性不言而喻。迄今为止，国内外已对绝缘子闪络开展了大量的研究工作，大量的新型绝缘材料已在输电线路上大量应用，特别是复合绝缘子绝缘材料。随着运行年限的推移，绝缘材料会固化，从而会导致绝缘子的各方面的性能都会下降，然而绝缘子的机械性能和电气性能由为重要，机械性能又与绝缘子的芯棒紧密相关，复合绝缘子机械性能不好，绝缘子芯棒易腐蚀断裂，是导致线路闪络的主要原因。

国内外经验均表明，线路事故很多都是绝缘质量问题和运行年限的问题所导致的，是发生线路闪络现象的根本原因，随着运行时间推移，复合绝缘子容易固化，那么复合绝缘子的芯棒被会腐蚀老化，其机械性能和电气性能均会变差，因此为有效地控制复合绝缘子能在线路上的正常工作、维持电网稳定运行，必须严格对复合绝缘子的芯棒进行检测。对复合绝缘子的芯棒的检测需要在其上开槽，而目前芯棒开槽往往存在开槽位置不准确、开槽效率低、操作困难等问题，对检测数据结果影响很大。

技术实现要素：

鉴于此，本发明提出了一种用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置及方法，旨在解决目前芯棒开槽位置不准确的问题。

一个方面，本发明提出了一种用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置，该装置包括：箱体；支撑装置，与箱体相连接并承载待开槽试验芯棒；切割装置，设置于箱体内且与待开槽试验芯棒的预设位置对齐，以在预设位置处开槽；限位装置，与箱体相连接并抵压于待开槽试验芯棒的表面，以对待开槽试验芯棒进行限位。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，限位装置通过抵压于待开槽试验芯棒的上表面和待开槽试验芯棒的侧面来调节待开槽试验芯棒的纵向位置和横向位置。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，限位装置包括：第一限位机构，与箱体可转动地相连接，并且，第一限位机构偏压于待开槽试验芯棒的上表面，以调节待开槽试验芯棒的纵向位置。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，支撑装置包括：第一支撑板和导轨；其中，第一支撑板设置于箱体的顶部，并且，第一支撑板的一侧开设有缺口，导轨设置于缺口内；箱体的顶部还设置有工作台，工作台的一侧靠近缺口。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，限位装置还包括：第二限位机构，第二限位机构第一端穿设于箱体的侧壁，第二限位机构的第二端位于箱体外，并且，第二限位机构与箱体的侧壁螺纹连接，通过第二限位机构的旋进使待开槽试验芯棒夹设于第二限位机构的第一端与工作台之间，以固定待开槽试验芯棒的横向位置。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，切割装置包括：电机和切割片；其中电机和切割片均设置于箱体内，并且，切割片与电机的转动轴相连接；切割片与预设位置对齐。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置，还包括：位置调节装置，设置于箱体内，并且，切割装置设置于位置调节装置上。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，位置调节装置包括：伸缩机构和第二支撑板；其中，伸缩机构的第一端与箱体的底壁相连接，伸缩机构的第二端与第二支撑板相连接，第二支撑板上设置有切割装置，伸缩机构用于调节切割装置的竖向高度。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，位置调节装置还包括：滑轨，设置于箱体的底壁，并且，伸缩机构的第一端与滑轨可滑动地相连接，滑轨用于在伸缩机构沿滑轨滑动时调节切割装置的水平位置。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置，还包括：处理设备，与切割装置相连接，处理设备用于控制切割装置的切割行程和切割速度，从而控制开槽直径和开槽速度。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，处理设备还与限位装置相连接，以控制限位装置的限位程度，从而控制开槽深度。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置，还包括：控制开关，与处理设备相连接且设置于箱体的侧壁。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置中，控制开关包括：与处理设备分别相连接的开槽深度调节旋钮、开槽直径调节旋钮和开槽速度调节旋钮和/或启动开关。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置，还包括：电源插座，设置于箱体的壁面且与切割装置相连接。

进一步地，上述用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置，还包括：减震地脚，设置于箱体的底部。

本发明中，一方面，在开槽前，连接于箱体的支撑装置将待开槽试验芯棒的预设位置与切割装置对齐，并且，限位装置抵压于待开槽试验芯棒的表面，可对待开槽试验芯棒的位置进行限定，从而精确地控制了开槽位置；另一方面，在开槽过程中，通过调整限位装置的位置可对待开槽试验芯棒的纵向位置进行调整，即随着开槽的进行使待开槽试验芯棒的位置逐渐下移，从而可控制开槽深度；通过这两方面，使开槽的位置及深度得到了保证，从而达到精确开槽的目的，为后续的试验检测数据的准确性提供了保障，进而可准确的分析绝缘子长期处于恶劣环境的老化、腐蚀情况并得出更精确的数据统计，为绝缘子的长期可靠运行提供了保证，降低了由于绝缘子老化等因素带来的危害。

另一方面，本发明还提出了一种用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽方法，该方法包括如下步骤：对齐步骤，将待开槽试验芯棒放置于支撑装置上，且使预设位置与切割装置对齐；限位步骤，通过限位装置对待开槽试验芯棒进行限位；开槽步骤，切割装置根据预设条件在预设位置处进行切割。

本发明中，一方面，在开槽前，将待开槽试验芯棒的预设位置与切割装置对齐，并且，限位装置抵压于待开槽试验芯棒的表面，可对待开槽试验芯棒的位置进行限定，从而精确地控制了开槽位置；另一方面，在开槽过程中，通过调整限位装置的位置可对待开槽试验芯棒的纵向位置进行调整，即随着开槽的进行使待开槽试验芯棒的位置逐渐下移，从而可控制开槽深度；通过这两方面，使开槽的位置及深度得到了保证，从而达到精确开槽的目的，为后续的试验检测数据的准确性提供了保障，进而可准确的分析绝缘子长期处于恶劣环境的老化、腐蚀情况并得出更精确的数据统计，为绝缘子的长期可靠运行提供了保证，降低了由于绝缘子老化等因素带来的危害。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1为本发明实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的立体结构示意图；

图2为本发明实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的主视图；

图3为本发明实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的俯视图；

图4为本发明实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的侧面的局部放大图；

图5为本发明实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的内部结构局部主视图；

图6为本发明实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的内部结构局部俯视图；

图7为本发明实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽方法的流程图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

开槽装置实施例：

参见图1至图3，图中示出了本实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的优选结构。如图所示，该装置包括：箱体1、支撑装置2、切割装置3和限位装置4。其中，用于承载待开槽试验芯棒5的支撑装置2设置于箱体1的顶部的一侧且与箱体1相连接，用于对待开槽试验芯棒5进行开槽的切割装置3设置于箱体1内，并且，切割装置3与待开槽试验芯棒5的预设位置对齐，从而在预设位置处开槽。限位装置4与箱体1相连接，并且，限位装置4抵压于待开槽试验芯棒5的表面，从而对待开槽试验芯棒5的位置进行限定。需要说明的是，预设位置可根据需要而确定，本实施例对其不做任何限定，优选地，预设位置为待开槽试验芯棒5底端2mm处。

开槽时，首先将待开槽试验芯棒5放置于支撑装置2上，并使待开槽试验芯棒5的预设位置与切割装置3对齐；然后将限位装置4分别抵压于待开槽试验芯棒5的上表面和侧面，通过限位装置4抵压于待开槽试验芯棒5的侧面，可以对待开槽试验芯棒5的横向位置进行固定，以保证待开槽试验芯棒5的横向位置在开槽过程中是不变的；最后启动切割装置3，并在预设位置处开槽，在此期间，调整限位装置4，使其抵压于待开槽试验芯棒5上表面的位置不断下移，从而使待开槽试验芯棒5的纵向位置不断下移，以达到控制开槽深度的目的。

本实施例中，一方面，在开槽前，连接于箱体1的支撑装置2将待开槽试验芯棒5的预设位置与切割装置3对齐，并且，限位装置4抵压于待开槽试验芯棒5的表面，可对待开槽试验芯棒5的位置进行限定，从而精确地控制了开槽位置；另一方面，在开槽过程中，通过调整限位装置4的位置可对待开槽试验芯棒5的纵向位置进行调整，即随着开槽的进行使待开槽试验芯棒5的位置逐渐下移，从而可控制开槽深度；通过这两方面，使开槽的位置及深度得到了保证，从而达到精确开槽的目的，为后续的试验检测数据的准确性提供了保障，进而可准确的分析绝缘子长期处于恶劣环境的老化、腐蚀情况并得出更精确的数据统计，为绝缘子的长期可靠运行提供了保证，降低了由于绝缘子老化等因素带来的危害。

参见图2至图4，限位装置4可以包括：第一限位机构41，第一限位机构41与箱体1的壁面可转动地相连接，并且，第一限位机构41偏压于待开槽试验芯棒5的上表面，通过第一限位机构41的转动，使第一限位机构41压着待开槽试验芯棒5逐渐下移，从而实现在待开槽试验芯棒5上开设具有一定深度的槽，且通过控制第一限位机构41的转动程度，可控制待开槽试验芯棒5的下移程度，从而控制开槽深度，在待开槽试验芯棒5下移的过程中，待开槽试验芯棒5可沿支撑装置2滚动。具体实施时，第一限位机构41可以压片，压条通过转轴与箱体1相连接。压条可具有一定弧度，从而与待开槽试验芯棒5的形状相适应，以增大压条与待开槽试验芯棒5的接触面积，便于对待开槽试验芯棒5进行限位。

上述实施例中，支撑装置2可以包括：第一支撑板21和导轨22。其中，第一支撑板21设置于箱体1的顶部，第一支撑板21的一侧开设有缺口，导轨22设置于缺口内，导轨22可承载待开槽试验芯棒5。箱体1的顶部还设置有水平的工作台11，并且，工作台11的一侧靠近缺口，也就是说，第一支撑板21和工作台11共同构成了具有缺口的箱体1的顶壁。

参见图5和图6，限位装置4还可以包括：第二限位机构42，第二限位机构42的第一端(图5所示的左端)横向穿设于箱体1的侧壁或第一支撑板21，第二限位机构42的第二端(图5所示的右端)位于箱体1外，并且，第二限位机构42与箱体1的侧壁或第一支撑板21螺纹连接。通过旋转第二限位机构42，使第二限位机构42旋进箱体1内，在旋进的过程中，待开槽试验芯棒5夹设于第二限位机构42的第一端与工作台11的一侧之间，从而固定待开槽试验芯棒5的横向位置，使预设位与切割装置3对齐。具体实施时，第二限位机构42可以包括：固定轮421、连接杆422和定位轮423，连接杆422的第一端(图5所示的左端)横向穿设于箱体1的侧壁或第一支撑板21，定位轮423位于箱体1内且与连接杆422的第一端相连接，固定轮421位于箱体1外且与连接杆422的第二端(图5所示的右端)相连接，连接杆422与箱体1的侧壁或第一支撑板21箱体1螺纹连接，通过旋转固定轮421，可以使固定轮421依次带动连接杆422和定位轮423向箱体1内旋进，从而将待开槽试验芯棒5夹设于定位轮423和工作台11之间。

上述实施例中，切割装置3可以包括：电机31和切割片32。其中，电机31和切割片32均设置于箱体1内，且切割片32与电机31的转动轴33相连接，切割片32则与待开槽试验芯棒5上的预设位置对齐。箱体1内还设置有位置调节装置6，切割装置3设置于位置调节装置6上，从而使切割装置3可在箱体1内移动，以便适应不同直径的待开槽试验芯棒5。

位置调节装置6可以包括：伸缩机构61和第二支撑板62。其中，伸缩机构61的第一端(图2所示的下端)与箱体1的底壁相连接，伸缩机构61的第二端(图2所示的上端)与第二支撑板62相连接，第二支撑板62上放置切割装置3，通过伸缩机构61的伸缩可调节切割装置3的竖向高度。需要说明的是，伸缩机构61可以为任何一种具有伸缩功能的结构，本实施例对其不做任何限定。位置调节装置6还可以包括：滑轨，滑轨设置于箱体1的底壁，伸缩机构61的第一端与滑轨可滑动地相连接，通过伸缩机构61沿滑轨滑动可调节切割装置3的水平位置。

上述各实施例中，还可以包括：设置于箱体底部的处理设备7，处理设备7与切割装置3的电机31相连接，处理设备7通过控制继电器开关(图中未示出)，将控制信号输出至电机31，通过控制电机31的转动轴33的转速可调节开槽速度，且通过控制切割片32的切割行程可调节开槽直径。同时，处理设备7还分别与限位装置4的第一限位机构41和第二限位机构42相连接，处理设备7通过输出信号控制第一限位机构41对待开槽试验芯棒5的纵向位置的限定以及第二限位机构42对待开槽试验芯棒5的横向位置的限定，实现自动控制开槽深度。可以看出，通过处理设备7可实现对开槽速度、开槽深度和开槽直径的控制，从而实现在预设位置的精准开槽。具体实施时，处理设备7可以包括：依次相连接的通用处理器、数字信号处理器和专用集成电路，专用集成电路分别与切割装置3、第一限位机构41和第二限位机构42相连接；或者，处理单元可以包括：依次相连接的通用处理器、数字信号处理器和现场可编程门阵列，现场可编程门阵列将控制信号分别输出给切割装置3、第一限位机构41和第二限位机构42，也就是说，专用集成电路和现场可编程门阵列可以相互替换。

处理单元还可以包括：与cpu等相连接的只读存储器、随机存取存储器、快闪存储器或电子可擦除可编程只读存储器，以对数据进行存储。

上述实施例中，还可以包括：控制开关8，控制开关8与处理设备7相连接且设置于箱体1的侧壁。控制开关8包括与处理设备7分别相连接的开槽深度调节旋钮81、开槽直径调节旋钮82和开槽速度调节旋钮83。箱体1的壁面还设置有与切割装置3的电机31相连接的电源插座9，以便于电机31连接电源。箱体1的底部设置有减震地脚10，以减少开槽过程中震动的传递。

综上，本实施例中，一方面，在开槽前，连接于箱体的支撑装置将待开槽试验芯棒的预设位置与切割装置对齐，并且，限位装置抵压于待开槽试验芯棒的表面，可对待开槽试验芯棒的位置进行限定，从而精确地控制了开槽位置；另一方面，在开槽过程中，通过调整限位装置的位置可对待开槽试验芯棒的纵向位置进行调整，即随着开槽的进行使待开槽试验芯棒的位置逐渐下移，从而可控制开槽深度；通过这两方面，使开槽的位置及深度得到了保证，从而达到精确开槽的目的，为后续的试验检测数据的准确性提供了保障，进而可准确的分析绝缘子长期处于恶劣环境的老化、腐蚀情况并得出更精确的数据统计，为绝缘子的长期可靠运行提供了保证，降低了由于绝缘子老化等因素带来的危害。

开槽方法实施例：

参见图7，图7为本实施例提供的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽方法的流程图。如图所示，该方法包括如下步骤：

对齐步骤s710，将待开槽试验芯棒放置于支撑装置上，且使预设位置与切割装置对齐。

具体地，使用上述装置实施例中的用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置对待开槽试验芯棒5进行开槽。首先，将待开槽试验芯棒5放置在支撑装置2上，并使待开槽试验芯棒5的预设位置与切割装置3对齐。

限位步骤s720，通过限位装置对待开槽试验芯棒进行限位。

具体地，调整限位装置4，使限位装置4分别抵压于待开槽试验芯棒5的上表面和侧面，从而对待开槽试验芯棒5的纵向位置和横向位置均进行限定。

开槽步骤s730，切割装置根据预设条件在预设位置处进行切割。

具体地，启动切割装置3，切割装置3根据预设条件在待开槽试验芯棒5的预设位置切割开槽。预设条件包括开槽深度、开槽速度和开槽直径等。

需要说明的是，用于绝缘子的体积电阻试验芯棒的开槽装置的具体结构和实施过程参见上述开槽装置实施例即可，本实施例在此不再赘述。

本发明中的开槽装置和开槽方法的原理相同，相关之处可以相互参照。

综上，本实施例中，一方面，在开槽前，将待开槽试验芯棒的预设位置与切割装置对齐，并且，限位装置抵压于待开槽试验芯棒的表面，可对待开槽试验芯棒的位置进行限定，从而精确地控制了开槽位置；另一方面，在开槽过程中，通过调整限位装置的位置可对待开槽试验芯棒的纵向位置进行调整，即随着开槽的进行使待开槽试验芯棒的位置逐渐下移，从而可控制开槽深度；通过这两方面，使开槽的位置及深度得到了保证，从而达到精确开槽的目的，为后续的试验检测数据的准确性提供了保障，进而可准确的分析绝缘子长期处于恶劣环境的老化、腐蚀情况并得出更精确的数据统计，为绝缘子的长期可靠运行提供了保证，降低了由于绝缘子老化等因素带来的危害。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。