技术特征：
技术总结
本发明公开了一种工业摄影测量基准尺，基准尺上固定有两组共十个标志点，每组五个标志点，且每组标志点中相邻标志点之间标称距离的比例关系满足1:1:2:1或2:1:2:1或2:1:2:3或1:1:2:3或3:1:2:3或3:1:2:1或3:1:2:2或1:1:2:2或2:1:2:2，其中一组标志点固定于理论上与基准尺长度方向平行的平面上，另外一组标志点分别固定于理论上与基准尺长度方向成45度夹角的五个平面上，且后一组标志点之间的最大距离约为前一组标志点之间最大距离的倍。本发明的工业摄影测量基准尺适用于为工业摄影测量提供长度基准或者对工业摄影测量的相机参数进行标定，能够提高摄影测量仪器的测量精度。
技术研发人员：李维诗;李治城;张瑞;于连栋;夏豪杰
受保护的技术使用者：合肥工业大学
技术研发日：2018.08.24
技术公布日：2018.11.16