技术特征：
技术总结
本发明涉及一种激光测量的校验方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取校验图像；获取所述校验图像对应的激光图像，并识别所述激光图像的激光点；根据所述校验图像对应的三维参数，获取所述激光点的三维坐标；根据所述激光点的三维坐标，拟合三维激光平面；所述三维激光平面用于校验测量精度。根据本发明实施例，解决了利用尺寸精度不高的大型金属进行校验所造成的校验准确性较低的问题。
技术研发人员：贾玮
受保护的技术使用者：广州视源电子科技股份有限公司
技术研发日：2018.08.31
技术公布日：2018.11.16