技术特征：
技术总结
本发明公开了一种ATE测试板，包括：从上至下依次设置的顶层，中间层，以及底层；凹部，其从所述底层向所述中间层延伸设置；电子元器件，其设于所述凹部内；所述顶层与所述底层通过所述电子元器件电气连接。因此，同本申请的在测试板的底部开设一个凹部，并将电子元器件放置在凹槽内，实现电气连接，这种电路结构的改进，缩短了过孔长度，实现信号链路阻抗的高精度控制，优化了插损回损，保证测试系统高速信号的完整性。
技术研发人员：何菊;罗雄科
受保护的技术使用者：上海泽丰半导体科技有限公司
技术研发日：2018.09.10
技术公布日：2018.12.14