光学检测设备的制作方法

本发明是有关于一种检测设备，且特别是有关于一种光学检测设备。

背景技术：

光学检测是运用机器视觉做为检测标准技术，做为改良传统上以人力使用光学仪器进行检测的缺点。

现行自动x光检测机台，在进板时均是以输送机上的对照式感测器为主。但在实际运用中，若待测物板厚差异，使得对照式感测器无法使用统一阀值，造成操作人员需要针对不同板厚差异去调整感测器阀值。且对照式感测器因有指向角的限制，对于输送机在不同板宽的平整度要求也较高。

然而，现行以输送机上的对照式感测器做为停板感测，当待测物厚度变薄时，因光遮蔽的范围变小，待测物无法停在正确位置，造成检测产生异常。

技术实现要素：

本发明提出一种光学检测设备，改善先前技术的问题。

在本发明的一实施例中，本发明所提出的光学检测设备，其包含光学扫描装置、至少一反射式感测器、传动机件以及处理器。反射式感测器设置于光学扫描装置上，处理器电性连接光学扫描装置、反射式感测器与传动机件。传动机件用于传送待测物，在反射式感测器感测到待测物以后，处理器控制传动机件暂停传送待测物，使光学扫描装置得以对待测物进行光学扫描。

在本发明的一实施例中，光学扫描装置包含x光产生器与x光侦测器。x光产生器位于传动机件的一方，x光侦测器位于传动机件的另一方。x光产生器用于产生x光，x光侦测器用于侦测从x光产生器输出并透过待测物的x光。

在本发明的一实施例中，反射式感测器设置于x光产生器与x光侦测器中至少一者上。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于x光产生器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于x光产生器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，x光产生器具有x光输出口，第一反射式感测器与第二反射式感测器分别设置于x光输出口的相对两侧。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于x光产生器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于x光侦测器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于x光侦测器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于x光产生器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，反射式感测器包含第一反射式感测器以及第二反射式感测器。第一反射式感测器设置于x光侦测器上，当第一反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件减速传送待测物。第二反射式感测器设置于x光侦测器上，第二反射式感测器与第一反射式感测器彼此相间隔，当第二反射式感测器感测到待测物时，处理器控制传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，反射式感测器为单一个反射式感测器，单一个反射式感测器设置于x光产生器或x光侦测器上，当单一个反射式感测器感测到待测物时，处理器依据传动机件的传动速度预判停止时间点，进而于停止时间点令传动机件暂停传送待测物。

在本发明的一实施例中，待测物为电路板。

综上所述，本发明的技术方案与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。通过本发明的技术方案，光学扫描装置上反射式感测器的停板方式(即，停止待测物的传送)，可由处理器透过软件设定停板位置，提升停板稳定性，且操作人员不需更改硬件设定。

以下将以实施方式对上述的说明作详细的描述，并对本发明的技术方案提供更进一步的解释。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1是依照本发明一实施例的一种光学检测设备的前视示意图；以及

图2～图7是依照本发明多个实施例的光学检测设备的侧视示意图。

具体实施方式

为了使本发明的叙述更加详尽与完备，可参照所附的附图及以下所述各种实施例，附图中相同的号码代表相同或相似的元件。另一方面，众所周知的元件与步骤并未描述于实施例中，以避免对本发明造成不必要的限制。

于实施方式与权利要求书中，涉及“连接”的描述，其可泛指一元件透过其他元件而间接耦合至另一元件，或是一元件无须透过其他元件而直接连结至另一元件。

于实施方式与权利要求书中，涉及“电性连线”的描述，其可泛指一元件透过其他元件而间接与另一元件进行电气连结，或是一元件无须透过其他元件而实体连接至另一元件。

于实施方式与权利要求书中，除非内文中对于冠词有所特别限定，否则“一”与“该”可泛指单一个或复数个。

图1是依照本发明一实施例的一种光学检测设备100的前视示意图。如图1所示，光学检测设备100包含光学扫描装置110、至少一反射式感测器120、传动机件130以及处理器140。在架构上，反射式感测器120设置于光学扫描装置110上，处理器140电性连接光学扫描装置110、反射式感测器120与传动机件130。举例而言，传动机件130可为输送机，其包含步进马达、传送带…等元件，处理器140可为中央处理器、控制器或其他处理电路。

于运作时，传动机130件用于传送待测物190，在反射式感测器120感测到待测物190以后，处理器140控制传动机件130暂停传送待测物190，使光学扫描装置110得以对待测物190进行光学扫描。举例而言，待测物190可为电路板、半导体晶圆、显示面板或其他物体。

在图1中，光学扫描装置110包含x光产生器112与x光侦测器114。在架构上，x光产生器112位于传动机件130的一方，x光侦测器114位于传动机件130的另一方。于运作时，x光产生器112用于产生x光，x光侦测器114用于侦测从x光产生器输出并透过待测物190的x光。于本实施例中，x光产生器112位于传动机件130的上方，x光侦测器114位于传动机件130的下方，但此不限制本发明。于其他实施例中，x光产生器112可位于传动机件130的下方，x光侦测器114可位于传动机件130的上方，熟悉此项技艺者当视当时需要，弹性选择之。

应了解到，虽然图1绘示反射式感测器120置于x光产生器112，举例而言，反射式感测器120设置于x光产生器112的x光输出口113的侧边，但本发明不以此为限。实务上，反射式感测器120设置于x光产生器112与x光侦测器114中至少一者上。举例而言，反射式感测器120可为可为红光感测器、蓝光感测器、不可见光感测器(如：红外线感测器)、激光感测器或其他非x光感测器，以避免干扰x光产生器112与x光侦测器114。

为了对上述反射式感测器120做更进一步的阐述，请分别参照图2～图7，图2～图7是依照本发明多个实施例的光学检测设备200、300、400、500、600、700的侧视示意图。

在图2中，反射式感测器120包含第一反射式感测器210以及第二反射式感测器220。在架构上，第一反射式感测器210设置于x光产生器112上，第二反射式感测器220设置于x光产生器112上，第一反射式感测器210与第二反射式感测器220彼此相间隔。具体而言，x光产生器112具有x光输出口113，第一反射式感测器210与第二反射式感测器220分别设置于x光输出口113的相对两侧，以节省空间。

于运作时，待测物190被传动机件130传送，会先经过第一反射式感测器210，然后再经过第二反射式感测器220。当第一反射式感测器210感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130减速传送待测物190。接下来，当第二反射式感测器220感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130暂停传送待测物190，使x光产生器112产生x光，x光侦测器114侦测从x光产生器112输出并透过待测物190的x光。借此，x光产生器112与x光侦测器114得以对待测物190进行光学扫描。

或者，在进行光学扫描前，举例而言，处理器140可透过x光产生器112与x光侦测器114确认待测物190的实际停止位置与目标位置(如：系统预设值)之间的偏移量，处理器140可透过传动机件130微调待测物190的位置或移动x光产生器112与/或x光侦测器114，以消除该偏移量的影响，让光学检测设备200的光学扫描更为精准。

在图3中，反射式感测器120包含第一反射式感测器310以及第二反射式感测器320。在架构上，第一反射式感测器310设置于x光产生器112上，第二反射式感测器320设置于x光侦测器114上，第一反射式感测器310以及第二反射式感测器320在垂直投影上彼此错开，第一反射式感测器310设置于x光输出口113上最接近待测物190的行进方向的一侧。

于运作时，待测物190被传动机件130传送，会先经过第一反射式感测器310，然后再经过第二反射式感测器320。当第一反射式感测器310感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130减速传送待测物190。接下来，当第二反射式感测器320感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130暂停传送待测物190，使x光产生器112产生x光，x光侦测器114侦测从x光产生器112输出并透过待测物190的x光。借此，x光产生器112与x光侦测器114得以对待测物190进行光学扫描。

或者，在进行光学扫描前，举例而言，处理器140可透过x光产生器112与x光侦测器114确认待测物190的实际停止位置与目标位置(如：系统预设值)之间的偏移量，处理器140可透过传动机件130微调待测物190的位置或移动x光产生器112与/或x光侦测器114，以消除该偏移量的影响，让光学检测设备300的光学扫描更为精准。

在图4中，反射式感测器120包含第一反射式感测器410以及第二反射式感测器420。在架构上，第一反射式感测器410设置于x光侦测器114上，第二反射式感测器420设置于x光产生器112上，第一反射式感测器410以及第二反射式感测器420在垂直投影上彼此错开，第二反射式感测器420设置于x光输出口113上最远离待测物190的行进方向的一侧。

于运作时，待测物190被传动机件130传送，会先经过第一反射式感测器410，然后再经过第二反射式感测器420。当第一反射式感测器410感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130减速传送待测物190。接下来，当第二反射式感测器420感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130暂停传送待测物190，使x光产生器112产生x光，x光侦测器114侦测从x光产生器112输出并透过待测物190的x光。借此，x光产生器112与x光侦测器114得以对待测物190进行光学扫描。

或者，在进行光学扫描前，举例而言，处理器140可透过x光产生器112与x光侦测器114确认待测物190的实际停止位置与目标位置(如：系统预设值)之间的偏移量，处理器140可透过传动机件130微调待测物190的位置或移动x光产生器112与/或x光侦测器114，以消除该偏移量的影响，让光学检测设备400的光学扫描更为精准。

在图5中，反射式感测器120包含第一反射式感测器510以及第二反射式感测器520。在架构上，第一反射式感测器510设置于x光侦测器114上，第二反射式感测器520设置于x光侦测器114上，第一反射式感测器510与第二反射式感测器520彼此相间隔。具体而言，第一反射式感测器510比第二反射式感测器520更接近接近待测物190的行进方向。

于运作时，待测物190被传动机件130传送，会先经过第一反射式感测器510，然后再经过第二反射式感测器520。当第一反射式感测器510感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130减速传送待测物190。接下来，当第二反射式感测器520感测到待测物190时，处理器140控制传动机件130暂停传送待测物190，使x光产生器112产生x光，x光侦测器114侦测从x光产生器112输出并透过待测物190的x光。借此，x光产生器112与x光侦测器114得以对待测物190进行光学扫描。

或者，在进行光学扫描前，举例而言，处理器140可透过x光产生器112与x光侦测器114确认待测物190的实际停止位置与目标位置(如：系统预设值)之间的偏移量，处理器140可透过传动机件130微调待测物190的位置或移动x光产生器112与/或x光侦测器114，以消除该偏移量的影响，让光学检测设备500的光学扫描更为精准。

在图6中，反射式感测器120包含单一个反射式感测器610。在架构上，反射式感测器610设置于x光产生器112上。具体而言，反射式感测器610可设置于x光输出口113上最接近待测物190的行进方向的一侧。

于运作时，待测物190被传动机件130传送。当反射式感测器610感测到待测物190时，处理器140依据传动机件130的传动速度预判停止时间点，进而于该停止时间点令传动机件130暂停传送待测物190，使x光产生器112产生x光，x光侦测器114侦测从x光产生器112输出并透过待测物190的x光。借此，x光产生器112与x光侦测器114得以对待测物190进行光学扫描。

或者，在进行光学扫描前，举例而言，处理器140可透过x光产生器112与x光侦测器114确认待测物190的实际停止位置与目标位置(如：系统预设值)之间的偏移量，处理器140可透过传动机件130微调待测物190的位置或移动x光产生器112与/或x光侦测器114，以消除该偏移量的影响，让光学检测设备600的光学扫描更为精准。

在图7中，反射式感测器120包含单一个反射式感测器710。在架构上，反射式感测器710设置于x光侦测器114上。

于运作时，待测物190被传动机件130传送。当反射式感测器710感测到待测物190时，处理器140依据传动机件130的传动速度预判停止时间点，进而于该停止时间点令传动机件130暂停传送待测物190，使x光产生器112产生x光，x光侦测器114侦测从x光产生器112输出并透过待测物190的x光。借此，x光产生器112与x光侦测器114得以对待测物190进行光学扫描。

或者，在进行光学扫描前，举例而言，处理器140可透过x光产生器112与x光侦测器114确认待测物190的实际停止位置与目标位置(如：系统预设值)之间的偏移量，处理器140可透过传动机件130微调待测物190的位置或移动x光产生器112与/或x光侦测器114，以消除该偏移量的影响，让光学检测设备700的光学扫描更为精准。

综上所述，本发明的技术方案与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。通过本发明的技术方案，光学扫描装置上反射式感测器的停板方式(即，停止待测物的传送)，可由处理器透过软件设定停板位置，提升停板稳定性，且操作人员不需更改硬件设定。

虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。