用于精密陶瓷的新型测试装置的制作方法

本发明涉及陶瓷检测装置领域，具体涉及用于精密陶瓷的新型测试装置。

背景技术：

精密陶瓷对加工精度的要求很高，由于钻孔过程中常常由于排屑需要留有余量，并且一般合金钻头加工后会产生具有一定锥度的孔，常用内径千分表对内径进行检测以判断孔径是否符合要求，但这样不易对孔的锥度进行检测，使用专用锥度检测装置往往设备成本较高，并且检测不便，需要专门检测场所。

如申请号为cn200910035121.9的发明专利提供了一种内锥度检测仪，该设备测量工作效率较高，能测量各种工件内锥度但是设备成本较高，不便于设置在工作现场，因此无法解决现有技术中检测不便，不能及时检测且设备成本较高的缺陷。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供用于精密陶瓷的新型测试装置，以解决现有技术中检测不便，不能及时检测且设备成本较高的问题。

所述的用于精密陶瓷的新型测试装置，包括底座、安装在所述底座上的立柱和夹紧机构，所述立柱上端安装有活动臂，所述活动臂上滑动安装有所述检测机构，所述检测机构包括内径千分表和竖直标尺，所述活动臂上设有滑槽，所述竖直标尺安装在与所述滑槽滑动配合的滑轨，所述内径千分表可拆卸安装在所述滑轨上。

优选的，所述活动臂上设有升降机构，所述升降机构包括转动轴、固定在所述转动轴上的转盘和主动齿轮，所述滑轨两侧设有齿条，所述主动齿轮通过传动齿轮机构与从动齿轮传动连接，所述主动齿轮和所述从动齿轮分设在所述滑轨两侧均与所述齿条啮合。

优选的，所述活动臂包括伸缩杆，所述滑轨安装在所述伸缩杆端部，所述滑轨通过转动套筒安装所述内径千分表，所述转动套筒包括固定在所述滑轨上的外套筒和转动连接在所述外套筒内的内套筒。

优选的，所述夹紧机构的夹紧端设有夹持板，所述夹持板底部与陶瓷件接触面设有橡胶层。

本发明的优点在于：本装置能利用内径千分表测量精密陶瓷上所开孔的各处内径，也能通过竖直标尺测量点的深度和和测量点的竖直距离。通过二者能迅速计算出锥度，测量方便，计算简便，能设置在工作场所。同时该装置主要利用已有的内径千分表，装置成本较低，便于大量制造使用，解决了现有技术的问题。

附图说明

图1为本发明的结构示意图；

图2为本发明中升降机构内部正反两面的结构示意图；

图3为本发明中所述升降机构安装所述滑轨部分的剖面图。

标号说明：1、底座，2、凹槽，3、夹紧机构，4、立柱，5、内径千分表，6、竖直标尺，7、滑轨，71、齿条，72、从动齿轮，73、传动齿轮机构，74、转动套筒，75、主动齿轮，8、升降机构，9、伸缩杆。

具体实施方式

下面对照附图，通过对实施例的描述，对本发明具体实施方式作进一步详细的说明，以帮助本领域的技术人员对本发明的发明构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解。

实施例1：

如图1-3所示，本发明提供了用于精密陶瓷的新型测试装置，包括底座1、安装在所述底座1上的立柱4和夹紧机构3，底座1上设有凹槽2方便内径千分表5的检测端伸入检测。所述立柱4上端安装可转动安装有活动臂，所述活动臂上滑动安装有所述检测机构，所述检测机构包括内径千分表5和竖直标尺6，所述活动臂上设有滑槽，所述竖直标尺6安装在与所述滑槽滑动配合的滑轨7，所述内径千分表5可拆卸安装在所述滑轨7上。所述活动臂上设有升降机构8，所述升降机构8包括转动轴、固定在所述转动轴上的转盘和主动齿轮75，所述滑轨7两侧设有齿条71，所述主动齿轮75通过传动齿轮机构73与从动齿轮72传动连接，所述主动齿轮75和所述从动齿轮72分设在所述滑轨7两侧均与所述齿条71啮合。所述夹紧机构3的夹紧端设有夹持板，所述夹持板底部与陶瓷件接触面设有橡胶层。

实施例2：

本实施例与实施例1的区别在于所述活动臂包括伸缩杆9，所述滑轨7安装在所述伸缩杆9端部，所述滑轨7通过转动套筒74安装所述内径千分表5，所述转动套筒74包括固定在所述滑轨7上的外套筒和转动连接在所述外套筒内的内套筒。这样检测时还能将内径千分表5转动以检测周向各位置的直径是否一致能得到孔的圆度变化是否符合要求。

使用时先将陶瓷件通过夹紧机构3固定在底座1上，然后通过伸缩杆9转动伸缩调整到与孔相对应的位置，然后通过转动转盘，通过主动齿轮75和从动齿轮72驱动滑轨7向上或向下移动。本装置能利用内径千分表5测量精密陶瓷上所开孔的各处内径，也能通过竖直标尺6测量点的深度和和测量点的竖直距离。通过二者能迅速计算出锥度，测量方便，计算简便。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

上面结合附图对本发明进行了示例性描述，显然本发明具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本发明方法构思和技术方案进行的各种非实质性的改进，或未经改进将本发明构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本发明保护范围之内。

技术特征：

技术总结
本发明公开了用于精密陶瓷的新型测试装置，包括底座、安装在所述底座上的立柱和夹紧机构，所述立柱上端安装有活动臂，所述活动臂上滑动安装有所述检测机构，所述检测机构包括内径千分表和竖直标尺，所述活动臂上设有滑槽，所述竖直标尺安装在与所述滑槽滑动配合的滑轨，所述内径千分表可拆卸安装在所述滑轨上。本发明能利用内径千分表测量精密陶瓷上所开孔的各处内径，也能通过竖直标尺测量点的深度和和测量点的竖直距离。通过二者能迅速计算出锥度，测量方便，计算简便，能设置在工作场所。

技术研发人员：宋建
受保护的技术使用者：德清弘达精密陶瓷有限公司
技术研发日：2018.10.07
技术公布日：2019.01.11