技术特征：
技术总结
本发明公开一种分时数据合成的共形阵列测试方法，包括步骤；对天线中的各个体单元、多通道开关的各端口进行编号；测试各所述开关电缆链路的不一致性并保存不一致性的测试数据；将所述端口通过所述电缆与对应编号的所述个体单元连接，设置平面近场测试参数，并确定近场采集平面；固定所述天线不动，逐一打开各所述端口，并采集单元平面近场数据，直到根据所述对应关系采集所有单元平面近场数据；对所述单元平面近场数据进行去除不一致性操作；对所述单元平面近场数据进行相位加权合成，获得天线平面近场数据；进行近远场变换获得天线方向图；本发明可得到天线任意波位的方向图，大幅度提高现有资源配置下天线测试能力。
技术研发人员：朱庆超;张小林;方佳;苗菁;张琪春;金谋平
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第三十八研究所
技术研发日：2018.10.15
技术公布日：2019.02.22