技术特征：
技术总结
本发明涉及一种基于改进多次反射全聚焦成像算法的界面型缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤S1:根据界面深度S及接收P次回波所需的时长，设置仪器参数；步骤S2:采用全矩阵捕获技术对待测工件进行回波捕获；步骤S3:对待测区域离散的每一个目标成像点采用改进多次反射全聚焦算法进行虚拟聚焦,得到待测区域界面型缺陷检测结果。本发明基于改进多次反射全聚焦成像算法，采集多次回波，将每一次回波中所包含的目标成像点信息都进行深度累加，从而突出了界面缺陷的特征，大大提高了脱粘缺陷的检出率。
技术研发人员：钟舜聪;范学腾;伏喜斌;沈耀春
受保护的技术使用者：福州大学
技术研发日：2018.10.25
技术公布日：2019.01.15