一种超高压8kVDC测试装置及其测试方法与流程

文档序号:16690512发布日期:2019-01-22 18:47阅读:437来源:国知局
一种超高压8kVDC测试装置及其测试方法与流程

本发明涉及电容器技术领域,具体地,涉及一种超高压8kvdc测试装置及其测试方法。



背景技术:

电容器,通常简称其容纳电荷的本领为电容,用字母c表示。定义1:电容器,顾名思义,是‘装电的容器’,是一种容纳电荷的器件。英文名称:capacitor。电容器是电子设备中大量使用的电子元件之一,广泛应用于电路中的隔直通交,耦合,旁路,滤波,调谐回路,能量转换,控制等方面。定义2:电容器,任何两个彼此绝缘且相隔很近的导体(包括导线)间都构成一个电容器。

常规的陶瓷电容器具有优良的介电常数,被广泛的应用在滤波、消噪、直流隔离、定时等电路中。随着电力机车、港口自动装卸、作业机器人的兴起,高压陶瓷电容需求越来越大,对电压耐受要求也越来越高。在高压陶瓷电容器的制造过程中,需进行陶瓷电容器的耐压测试,常规5mm脚距的高压陶瓷电容在空气中测试2kv耐压时就会出现拉弧、跳火等现象,安全性较低,且受大气温度、压力、湿度等气象条件影响较大,具有测试稳定性差的缺点,有待进一步改进。

中国专利号公告号:cn206818833u的一种高压陶瓷电容器测试装置,包括测试油盒、测试治具和耐压测试仪;所述测试油盒为上方设有开口的密闭型容器,容器内盛放绝缘油,所述测试治具经所述开口置入所述绝缘油中,开口形状及开口大小根据所述测试治具的形状及大小设定;所述测试治具包括固定在绝缘板上的电极夹脚和电极引出桩;所述电极夹脚用于插接高压陶瓷电容器的引出电极,并通过导线引出,汇接至所述电极引出桩;所述电极引出桩用于与所述耐压测试仪的测试端口连接;所述耐压测试仪用于对置入所述绝缘油中的高压陶瓷电容器进行耐圧测试,上述设备中的测试装置通过绝缘油进行绝缘,但是该种方式是油中测试是单颗测试,效率低,测试后需对电容本体做脱水,清洗十分的不便。



技术实现要素:

针对现有技术的不足,本发明目的之一是提供一种超高压8kvdc测试装置。

本发明的另一目的是提供上述超高压8kvdc测试装置的测试方法,通过真空泵将测试箱内的空气抽出形成绝缘空间,在测试箱内首先将超高压陶瓷电容器的引脚插设在插槽内并且将超高压陶瓷电容器放置平整,放置完成后将测试箱关闭并且通过真空泵将测试箱内的空气抽出,抽出后通过驱动电机将第二治具下压,第二治具上的导电柱压在超高压陶瓷电容器的引脚上,压紧后,将第一直导线和第二主导线分别于测试仪的正负极连接对超高压陶瓷电容器进行测试,这样的测试方式可以进行批量的测试,效率高,而且测试完成后不需要脱水以及清洗十分方便。

本发明公开的一种超高压8kvdc测试装置,包括有安装柜,还包括真空泵、测试箱和检测组件,所述真空泵设在安装柜的内部,真空泵的输出端设置有连接气管,所述测试箱为一侧设有开口的密闭型容器,测试箱的开口处设置有密封门,连接气管的另一端与测试箱的内部连通,所述检测组件包括有导电柱、导线、用于摆放超高压陶瓷电容器的第一治具、用于安装导电柱和导线的第二治具和用于驱动第二治具移动的驱动装置,所述驱动装置安装在测试箱外部顶端的中间位置,第一治具和第二治具均设置在测试箱的内部并且第二治具位于第一治具的上方,所述第二支架的顶端与驱动装置的输出端连接。

进一步的,所述测试箱的两侧均设置有一个卡扣,密封门的两侧均设置有一个用于配合卡扣的搭扣,所述测试箱的开口处设置有一圈密封圈。

进一步的,所述第一治具为长条形板状结构,第一治具呈水平状态安装在测试箱内部的底端,第一治具顶端的两侧均设置有一个导向柱,第一治具的顶端位于两个导向柱之间设置有若干个用于固定超高压陶瓷电容器引脚的插板,所有插板沿着第一治具的长度方向依次排列安装在第一治具上,每个插板上均设置有用于插设超高压陶瓷电容器引脚的插槽,第一治具的顶端沿着第一治具的长度方向依次设置有若干个凸块,每个凸块之间设置有用于摆放超高压陶瓷电容器陶瓷端的摆放槽,每个摆放槽位于一个插板的旁侧。

进一步的,所述驱动装置包括有驱动气缸和固定板,所述驱动气缸呈竖直状态安装在测试箱的顶端,驱动气缸的输出端插设与测试箱的内部,固定板呈水平状态设置在测试箱的内部,固定板顶端的中间位置与驱动气缸的输出端连接,第二治具呈水平状态安装在固定板的底端。

进一步的,所述第二治具为长条形板状结构,第二治具上设置有若干个自上而下的穿孔,所有穿孔沿着第二治具的长度方向依次排列,每个穿孔与一个摆放槽对应,所述第二治具的一侧设置有若干个第一通孔,每个第一通孔分别与一个奇数位的穿孔连通,第二治具的另一侧设置有若干个第二通孔,每个第二通孔与一个偶数位的穿孔连通。

进一步的,所述每个穿孔内均安装有一个导电柱,导电柱呈竖直状态安装在穿孔内,所述导线包括有第一主导线和第二主导线,第一主导线呈水平状态设置在第二治具的一侧,第二主导线呈水平状态设置在第二治具的另一侧,第一主导线上等间距设置有若干个第一副导线,每个第一副导线插设与一个第一通孔内并且与该第一通孔连通的穿孔内的导电柱电连接,每个第二副导线插设与一个第二通孔内并且与该第二通孔连通的穿孔内的导电柱电连接。

进一步的,所述固定板和第二治具的两侧均分别设置有一个用于导向柱穿过的导套孔。

一种超高压8kvdc测试装置的测试方法,包括以下步骤:

s1,准备工作,将第一主导线和第二主导线与测试仪的正极和负极分别连接,打开密封门将超高压陶瓷电容器引脚的底端插设在插槽内,并且将超高压陶瓷电容器引脚的中段以及上段放置在摆放槽内;

s2,抽真空,将密封门关闭并且将卡扣卡设在搭扣上使得测试箱内形成密封状态,开启真空泵将测试箱内的空气抽出;

s3,开启检测,将第一主导线和第二主导线的一端与测试仪的正极和负极分别连接,当测试箱内达到真空状态开启检测。

有益效果:本发明的一种超高压8kvdc测试装置及其测试方法,通过真空泵将测试箱内的空气抽出形成绝缘空间,在测试箱内首先将超高压陶瓷电容器的引脚插设在插槽内并且将超高压陶瓷电容器放置平整,放置完成后将测试箱关闭并且通过真空泵将测试箱内的空气抽出,抽出后通过驱动电机将第二治具下压,第二治具上的导电柱压在超高压陶瓷电容器的引脚上,压紧后,将第一直导线和第二主导线分别于测试仪的正负极连接对超高压陶瓷电容器进行测试,这样的测试方式可以进行批量的测试,效率高,而且测试完成后不需要脱水以及清洗十分方便。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解,构成本申请的一部分,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:

图1为实施例中的立体结构示意图一;

图2为实施例中的立体结构示意图二;

图3为实施例中检测装置的立体结构示意图;

图4为实施例中图3的a处放大图;

图5为实施例中第二治具的立体结构示意图一;

图6为实施例中第二治具的立体结构示意图二;

图7为实施例中驱动装置的立体结构示意图;

附图标记说明:

真空泵1,测试箱2,密封门21,卡扣22,搭扣23,密封圈24,检测组件3,导电柱31,导电线32,第一主导线321,第一副导线322,第二主导线323,第二副导线324,第一治具33,导向柱331,插板332,插槽333,凸块334,摆放槽335,第二治具34,穿孔341,第一通孔342,第二通孔343,驱动装置35,驱动气缸351,固定板352,连接气管353,导套孔36。

具体实施方式

以下将以图式揭露本发明的多个实施方式,为明确说明起见,许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而,应了解到,这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说,在本发明的部分实施方式中,这些实务上的细节是非必要的。此外,为简化图式起见,一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单的示意的方式绘示之。

另外,在本发明中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,并非特别指称次序或顺位的意思,亦非用以限定本发明,其仅仅是为了区别以相同技术用语描述的组件或操作而已,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本发明要求的保护范围之内。

实施例1

参照图1至图7所示一种超高压8kvdc测试装置,包括有安装柜,还包括真空泵1、测试箱2和检测组件3,所述真空泵1设在安装柜的内部,真空泵1的输出端设置有连接气管353,所述测试箱2为一侧设有开口的密闭型容器,测试箱2的开口处设置有密封门21,连接气管353的另一端与测试箱2的内部连通,所述检测组件3包括有导电柱31、导线、用于摆放超高压陶瓷电容器的第一治具33、用于安装导电柱31和导线的第二治具34和用于驱动第二治具34移动的驱动装置35,所述驱动装置35安装在测试箱2外部顶端的中间位置,第一治具33和第二治具34均设置在测试箱2的内部并且第二治具34位于第一治具33的上方,所述第二支架的顶端与驱动装置35的输出端连接。

所述测试箱2的两侧均设置有一个卡扣22,密封门21的两侧均设置有一个用于配合卡扣22的搭扣23,所述测试箱2的开口处设置有一圈密封圈24。

所述第一治具33为长条形板状结构,第一治具33呈水平状态安装在测试箱2内部的底端,第一治具33顶端的两侧均设置有一个导向柱331,第一治具33的顶端位于两个导向柱331之间设置有若干个用于固定超高压陶瓷电容器引脚的插板332,所有插板332沿着第一治具33的长度方向依次排列安装在第一治具33上,每个插板332上均设置有用于插设超高压陶瓷电容器引脚的插槽333,第一治具33的顶端沿着第一治具33的长度方向依次设置有若干个凸块334,每个凸块334之间设置有用于摆放超高压陶瓷电容器陶瓷端的摆放槽335,每个摆放槽335位于一个插板332的旁侧。

所述驱动装置35包括有驱动气缸351和固定板352,所述驱动气缸351呈竖直状态安装在测试箱2的顶端,驱动气缸351的输出端插设与测试箱2的内部,固定板352呈水平状态设置在测试箱2的内部,固定板352顶端的中间位置与驱动气缸351的输出端连接,第二治具34呈水平状态安装在固定板352的底端。

所述第二治具34为长条形板状结构,第二治具34上设置有若干个自上而下的穿孔341,所有穿孔341沿着第二治具34的长度方向依次排列,每个穿孔341与一个摆放槽335对应,所述第二治具34的一侧设置有若干个第一通孔342,每个第一通孔342分别与一个奇数位的穿孔341连通,第二治具34的另一侧设置有若干个第二通孔343,每个第二通孔343与一个偶数位的穿孔341连通。

所述每个穿孔341内均安装有一个导电柱31,导电柱31呈竖直状态安装在穿孔341内,所述导线包括有第一主导线321和第二主导线323,第一主导线321呈水平状态设置在第二治具34的一侧,第二主导线323呈水平状态设置在第二治具34的另一侧,第一主导线321上等间距设置有若干个第一副导线322,每个第一副导线322插设与一个第一通孔342内并且与该第一通孔342连通的穿孔341内的导电柱31电连接,每个第二副导线324插设与一个第二通孔343内并且与该第二通孔343连通的穿孔341内的导电柱31电连接。

通过导电柱31与防治在第一治具33上的超高压陶瓷电容进行电连接,其中第一主导县连通超高压陶瓷电容的正极,第二主导线323连通超高压陶瓷电容的负极,在将第一主导线321和第二主导线323与测试仪的正负极电连接形成回路,检测时如若超高压陶瓷电容不亮灯就表示该超高压陶瓷电容有问题。

所述固定板352和第二治具34的两侧均分别设置有一个用于导向柱331穿过的导套孔36。

实施例2

实施例1所述的超高压8kvdc测试装置的测试方法,包括以下步骤:

s1,准备工作,将第一主导线321和第二主导线323与测试仪的正极和负极分别连接,打开密封门21将超高压陶瓷电容器引脚的底端插设在插槽333内,并且将超高压陶瓷电容器引脚的中段以及上段放置在摆放槽335内;

s2,抽真空,将密封门21关闭并且将卡扣22卡设在搭扣23上使得测试箱2内形成密封状态,开启真空泵1将测试箱2内的空气抽出;

s3,开启检测,将第一主导线321和第二主导线323的一端与测试仪的正极和负极分别连接,当测试箱2内达到真空状态开启检测。

工作原理:通过真空泵1将测试箱2内的空气抽出形成绝缘空间,在测试箱2内首先将超高压陶瓷电容器的引脚插设在插槽333内并且将超高压陶瓷电容器放置平整,放置完成后将测试箱2关闭并且通过真空泵1将测试箱2内的空气抽出,抽出后通过驱动电机将第二治具34下压,第二治具34上的导电柱31压在超高压陶瓷电容器的引脚上,压紧后,将第一直导线和第二主导线323分别于测试仪的正负极连接对超高压陶瓷电容器进行测试,这样的测试方式可以进行批量的测试效率高,而且测试完成后不需要脱水以及清洗十分方便。

上所述仅为本发明的实施方式而已,并不用于限制本发明。对于本领域技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原理的内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包括在本发明的权利要求范围之内。

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