螺钉的检测方法及装置、螺钉的检测系统与流程

本发明涉及数据处理技术领域，具体而言，涉及一种螺钉的检测方法及装置、螺钉的检测系统。

背景技术：

螺钉是利用物体的斜面圆形旋转和摩擦力的物理学和数学原理，循序渐进地紧固器物机件的工具，应用于各种设备上。而在螺钉的生产过程中不可能保证每个螺钉的质量均能合格，自然会存在一些存在瑕疵的不可用的螺钉。因此，对螺钉的检测也是十分重要的一个环节。而传统的螺钉检测方法大部分为人工抽检的方式或者通过相机进行缺陷检测，但是上述方式只能对螺钉的侧面及顶面进行检测，无法进行3维尺寸精确检测，进而导致对螺钉的检测不够全面。

针对上述相关技术中对螺钉的检测方式无法实现对螺钉进行全面检测的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种螺钉的检测方法及装置、螺钉的检测系统，以至少解决相关技术中对螺钉的检测方式无法实现对螺钉进行全面检测的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种螺钉的检测方法，包括：向投影设备发送第一指令，其中，所述投影设备在接收到所述第一指令后，向待检测螺钉进行投影；确定所述投影设备向所述待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，所述第二指令用于指示所述图像采集设备采集所述待检测螺钉的图像；根据获取到的所述图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到所述待检测螺钉的检测结果。

可选地，在向投影设备发送第一指令之前，该螺钉的检测方法还包括：对所述投影设备和所述图像采集设备进行调试。

可选地，对所述投影设备和所述图像采集设备进行调试包括：确定所述投影设备的投射面，以及所述图像采集设备的图像采集范围；判断所述投射面是否不小于所述图像采集范围，得到第一判断结果；在所述第一判断结果为所述投射面不小于所述图像采集范围的情况下，判断所述投射面与所述图像采集范围的差值是否大于阈值，得到第二判断结果；在所述第二判断结果为所述投射面与所述图像采集范围的差值大于所述阈值的情况下，对所述投影设备进行调节。

可选地，所述投影设备的投射切换频率与所述图像采集设备的图像获取频率一致。

可选地，根据获取到的所述图像对应的图像数据进行三维重构包括：判断所述图像的数量是否大于预定数量，得到第三判断结果；在所述第三判断结果为所述图像的数量大于所述预定数量的情况下，对所述图像进行图像解析处理，得到所述图像数据；将所述图像数据进行三维重构。

可选地，对三维重构得到的重构图像进行检测，得到所述待检测螺钉的检测结果包括：对所述重构图像的尺寸进行检测，得到检测数据；将所述检测数据与预定数据进行比较，得到比较结果；根据所述比较结果为所述检测数据与所述预定数据的误差大于预定误差的情况下，确定所述检测数据对应的待检测螺钉为不合格螺钉。

可选地，在对三维重构得到的重构图像进行检测，得到所述待检测螺钉的检测结果之后，该螺钉的检测方法还包括：对所述检测数据和所述检测结果进行存储。

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种螺钉的检测装置，包括：第一发送单元，用于向投影设备发送第一指令，其中，所述投影设备在接收到所述第一指令后，向待检测螺钉进行投影；第二发送单元，用于确定所述投影设备向所述待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，所述第二指令用于指示所述图像采集设备采集所述待检测螺钉的图像；检测单元，用于根据获取到的所述图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到所述待检测螺钉的检测结果。

可选地，该螺钉的检测装置还包括：调试单元，用于在向投影设备发送第一指令之前，对所述投影设备和所述图像采集设备进行调试。

可选地，所述调试单元包括：第一确定模块，用于确定所述投影设备的投射面，以及所述图像采集设备的图像采集范围；第一判断模块，用于判断所述投射面是否不小于所述图像采集范围，得到第一判断结果；第二判断模块，用于在所述第一判断结果为所述投射面不小于所述图像采集范围的情况下，判断所述投射面与所述图像采集范围的差值是否大于阈值，得到第二判断结果；调节模块，用于在所述第二判断结果为所述投射面与所述图像采集范围的差值大于所述阈值的情况下，对所述投影设备进行调节。

可选地，所述投影设备的投射切换频率与所述图像采集设备的图像获取频率一致。

可选地，所述检测单元包括：第三判断模块，用于判断所述图像的数量是否大于预定数量，得到第三判断结果；处理模块，用于在所述第三判断结果为所述图像的数量大于所述预定数量的情况下，对所述图像进行图像解析处理，得到所述图像数据；重构模块，用于将所述图像数据进行三维重构。

可选地，所述检测单元包括：检测模块，用于对所述重构图像的尺寸进行检测，得到检测数据；比较模块，用于将所述检测数据与预定数据进行比较，得到比较结果；第二确定模块，用于根据所述比较结果为所述检测数据与所述预定数据的误差大于预定误差的情况下，确定所述检测数据对应的待检测螺钉为不合格螺钉。

可选地，该螺钉的检测装置还包括：存储单元，用于在对三维重构得到的重构图像进行检测，得到所述待检测螺钉的检测结果之后，对所述检测数据和所述检测结果进行存储。

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种螺钉的检测系统，使用上述中任一项所述的螺钉的检测方法。

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种存储介质，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行上述中任意一项所述的螺钉的检测方法。

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行上述中任意一项所述的螺钉的检测方法。

在本发明实施例中，采用向投影设备发送第一指令，其中，投影设备在接收到第一指令后，向待检测螺钉进行投影；然后在确定投影设备向待检测螺钉进行投影后，向图像采集设备发送第二指令，其中，第二指令用于指示图像采集设备采集待检测螺钉的图像；并根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果的方式对待检测螺钉进行检测，通过本发明实施例中提供的螺钉的检测方法可以实现将投影设备和图像采集设备接合起来，对待检测螺钉进行检测的目的，达到了提高了对待检测螺钉检测结果的可靠性的技术效果，同时也使得对待检测螺钉的检测更加全面，进而解决了相关技术中对螺钉的检测方式无法实现对螺钉进行全面检测的技术问题。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的螺钉的检测方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的投影设备打光的示意图；

图3是根据本发明实施例的可选的螺钉的检测方法的流程图；

图4是根据本发明实施例的螺钉的检测装置的示意图；

图5是根据本发明实施例的螺钉的检测系统的示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

为了便于描述，下面对本发明实施例中出现的部分名词或术语进行说明。

结构光：是一组由投影仪和摄像头组成的系统结构，用投影仪投射特定的光信息到物体表面后及背景后，由摄像头采集。根据物体造成的光信号的变化来计算物体的位置和深度等信息，进而复原整个三维空间。

实施例1

根据本发明实施例，提供了一种螺钉的检测方法的方法实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图1是根据本发明实施例的螺钉的检测方法的流程图，如图1所示，该螺钉的检测方法包括如下步骤：

步骤s102，向投影设备发送第一指令，其中，投影设备在接收到第一指令后，向待检测螺钉进行投影。

在步骤s102中，对投影设备的种类不做具体限定，可以是投影仪，投影仪作为一种投影设备可以利用光学元件将工件的轮廓放大，并将其投放到荧屏上，可用透射光作轮廓测量，也可用反射光测量不通孔的表面形状及观察零件表面，适用于对适宜测量复杂轮廓和细小工件。其中，该投影设备也即是结构光发生器。

在该步骤中，可以利用螺钉的检测系统向投影设备发送第一指令，以指示投影设备向待检测螺钉进行投影。

步骤s104，确定投影设备向待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，第二指令用于指示图像采集设备采集待检测螺钉的图像。

在步骤s104中，在确定投影设备根据第一指令向待检测螺钉进行投影之后，向图像采集设备发送第二指令，图像采集设备根据接收到的第二指令获取经过投影设备投影后的待检测螺钉的图像。其中，上述图像采集设备可以为工业相机，当然也可以为其他高精度相机。

步骤s106，根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果。

通过上述步骤，可以向投影设备发送第一指令，其中，投影设备在接收到第一指令后，向待检测螺钉进行投影；然后确定投影设备向待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，第二指令用于指示图像采集设备采集待检测螺钉的图像；并根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果。相对于相关技术中传统的螺钉检测方法大部分为人工抽检的方式或者是直接通过相机进行缺陷检测，但是往往只能对螺钉的侧面或是顶部进行检测，无法进行3维尺寸精确检测，从而导致对螺钉的检测并不够全面，检测结果可靠性也较低。通过本发明实施例中提供的螺钉的检测方法可以实现将投影设备和图像采集设备接合起来，对待检测螺钉进行检测的目的，达到了提高了对待检测螺钉检测结果的可靠性的技术效果，同时也使得对待检测螺钉的检测更加全面，进而解决了相关技术中对螺钉的检测方式无法实现对螺钉进行全面检测的技术问题。

为了使得投影设备和图像采集设备的配合更加合理，以使得图像采集采集的待检测螺钉的图像可靠性更高，作为一种可选的实施例，在向投影设备发送第一指令之前，该螺钉的检测方法还包括：对投影设备和图像采集设备进行调试。

优选的，对投影设备和图像采集设备进行调试可以包括：确定投影设备的投射面，以及图像采集设备的图像采集范围；判断投射面是否不小于图像采集范围，得到第一判断结果；在第一判断结果为投射面不小于图像采集范围的情况下，判断投射面与图像采集范围的差值是否大于阈值，得到第二判断结果；在第二判断结果为投射面与图像采集范围的差值大于阈值的情况下，对投影设备进行调节。

即，在对待检测螺钉进行检测的流程开始之前，需要做一些准备工作，调节投影设备的投射面与图像采集设备视野满足预设条件，首先，投射面不能小于图像采集范围，另外，为了使得图像采集设备采集的图像更加精确，在投射面大于等于图像采集范围的情况下，还需要保证图像采集范围与投射面的差值不能大于阈值，在大于阈值的情况下，对投影设备进行调节，保证图像采集设备所获取的图像无异常畸变。图2是根据本发明实施例的投影设备打光的示意图，如图2所示，投影设备的投射面是包含图像采设备的图像采集范围的，其中，待检测的物体放置在参考面上，投影设备向放置在参考面上的待检测物体进行结构光投射，然后，图像采集设备获取待检测物体的图像。

需要说明的是，为了保证获取的图像的质量，投影设备的投射切换频率与图像采集设备的图像获取频率一致。

作为一种可选的实施例，根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构可以包括：判断图像的数量是否大于预定数量，得到第三判断结果；在第三判断结果为图像的数量大于预定数量的情况下，对图像进行图像解析处理，得到图像数据；将图像数据进行三维重构。

在步骤s106中，对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果可以包括：对重构图像的尺寸进行检测，得到检测数据；将检测数据与预定数据进行比较，得到比较结果；根据比较结果为检测数据与预定数据的误差大于预定误差的情况下，确定检测数据对应的待检测螺钉为不合格螺钉。

作为一种可选的实施例，在对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果之后，该螺钉的检测方法还可以包括：对检测数据和检测结果进行存储。

图3是根据本发明实施例的可选的螺钉的检测方法的流程图，如图3所示，投影设备向待检测螺钉投影，投影设备将结构光(即上述投影设备发射出的光)投射到待检测螺钉所在位置，同时图像采集设备在确定投影设备向待检测螺钉投射结构光的情况下，获取待检测螺钉的图像，并将检测到的图像发送给上位机，上位机软件会根据获取到的图像进行图像处理，得到图像数据，并对图像数据进行三维重构，并对三维重构后的图像进行尺寸检测以及检测结果判断，从而实现对待检测螺钉的检测，使得对待检测螺钉的检测更加合理。

其中，本发明实施例中的投影设备的投影角度随图像采集设备的位置进行调节，以保证图像采集设备所获取的图像无异常畸变。当一个运行流程开始时，螺钉的检测系统的上位机发送指令调用投影设备(结构光发生器)开始进行投影，照射物体为待检测螺钉，将被检测螺钉妥善放置于指定位置。投影设备在进行投影工作的同时，上位机调用图像采集设备获取图像，图像采集设备进行图像采集的频率与投影设备投射切换频率匹配，同一个螺钉获取一定数量的图像。在获取的图像数量满足处理要求后，上位机进行图像处理，将获取的图像解析为可处理的图像数据集合，例如，点云图。随后将图像数据进行三维重构，并进行尺寸检测与结果判断，将尺寸结果与结果判断储存。

通过本发明实施例提供的螺钉的检测方法通过建立三维模型，实现对待检测螺钉缺陷进行全面检测，螺钉的检测系统产生结构光，并利用图像采集设备进行拍照，并通过螺钉的检测系统的内部算法实现对待检测螺钉尺寸高精度检测，检测精度可达0.1mm。

实施例2

根据本发明实施例还提供了一种螺钉的检测装置，需要说明的是，本发明实施例的螺钉的检测装置可以用于执行本发明实施例所提供的螺钉的检测方法。以下对本发明实施例提供的螺钉的检测装置进行介绍。

图4是根据本发明实施例的螺钉的检测装置的示意图，如图4所示，该螺钉的检测装置包括：第一发送单元41，第二发送单元43以及检测单元45。下面对该螺钉的检测装置进行详细说明。

第一发送单元41，用于向投影设备发送第一指令，其中，投影设备在接收到第一指令后，向待检测螺钉进行投影。

第二发送单元43，用于确定投影设备向待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，第二指令用于指示图像采集设备采集待检测螺钉的图像。

检测单元45，用于根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果。

在该实施例中，可以利用第一发送单元向投影设备发送第一指令，其中，投影设备在接收到第一指令后，向待检测螺钉进行投影；然后利用第二发送单元确定投影设备向待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，第二指令用于指示图像采集设备采集待检测螺钉的图像；并利用检测单元根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果。相对于相关技术中传统的螺钉检测方法大部分为人工抽检的方式或者是直接通过相机进行缺陷检测，但是往往只能对螺钉的侧面或是顶部进行检测，无法进行3维尺寸精确检测，从而导致对螺钉的检测并不够全面，检测结果可靠性也较低。通过本发明实施例中提供的螺钉的检测装置可以实现将投影设备和图像采集设备接合起来，对待检测螺钉进行检测的目的，达到了提高了对待检测螺钉检测结果的可靠性的技术效果，同时也使得对待检测螺钉的检测更加全面，进而解决了相关技术中对螺钉的检测方式无法实现对螺钉进行全面检测的技术问题。

作为一种可选的实施例，该螺钉的检测装置还可以包括：调试单元，用于在向投影设备发送第一指令之前，对投影设备和图像采集设备进行调试。

作为一种可选的实施例，调试单元包括：第一确定模块，用于确定投影设备的投射面，以及图像采集设备的图像采集范围；第一判断模块，用于判断投射面是否不小于图像采集范围，得到第一判断结果；第二判断模块，用于在第一判断结果为投射面不小于图像采集范围的情况下，判断投射面与图像采集范围的差值是否大于阈值，得到第二判断结果；调节模块，用于在第二判断结果为投射面与图像采集范围的差值大于阈值的情况下，对投影设备进行调节。

作为一种可选的实施例，投影设备的投射切换频率与图像采集设备的图像获取频率一致。

作为一种可选的实施例，检测单元包括：第三判断模块，用于判断图像的数量是否大于预定数量，得到第三判断结果；处理模块，用于在第三判断结果为图像的数量大于预定数量的情况下，对图像进行图像解析处理，得到图像数据；重构模块，用于将图像数据进行三维重构。

作为一种可选的实施例，检测单元包括：检测模块，用于对重构图像的尺寸进行检测，得到检测数据；比较模块，用于将检测数据与预定数据进行比较，得到比较结果；第二确定模块，用于根据比较结果为检测数据与预定数据的误差大于预定误差的情况下，确定检测数据对应的待检测螺钉为不合格螺钉。

作为一种可选的实施例，该螺钉的检测装置还包括：存储单元，用于在对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果之后，对检测数据和检测结果进行存储。

实施例3

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种螺钉的检测系统，使用上述中任一项的螺钉的检测方法。

图5是根据本发明实施例的螺钉的检测系统的示意图，如图5所示，图像采集设备对待检测物体进行结构光投射，然后图像采集设备会采集待检物体的图像，其中，图像采集设备对待检测物体的图像采集以及投射设备对待检测物体的结构光投射都是在计算机软件向它们发出的指令后执行的操作，同时会将获得的检测结果以及待检测螺钉的尺寸数据返回到计算机，也可以根据需要返回到显示设备，使得操作人员可以更加直观清晰地观察到待检测螺钉的信息。

其中，上述螺钉的检测系统可以是基于以下关键组件模块来实现的：光源可以是从投射设备中获取的，其中，投影设备可以为dlplcr4500投影机模块；图像采集设备可以为摄像机，例如，点灰色1.3mp工业摄像机，fl3-u3-13s2c或fl3-u3-13y3m；处理器可以为：am572x应用处理器evm模块；显示设备可以为直接从am5728evm驱动的标准hdmi监视器。采用的am5728应用处理器具有以下优势：双核armcortex-a15处理器，处理速度高达1.5ghz；双核c66xdsp处理器，高达750mhz；加速3d图形；多功能图像捕获能力从vip，usb3，gbe，或pcie；内置的hdmi传输与phy；触摸屏幕支持。上述dlplcr4500投影机模块具有18中水平模式以及18中垂直模式，具有与存储功能；其投影分辨率较高可达912×1140；切割后有效面积：912×570(矩形)；4khz光模式产生的开关能力；基于gpio的硬件触发从摄像机到dlp投影机之间的时差是非常小的，几乎可以忽略，将其看作是触发同步。am572x应用处理器evm模块介绍：am5728处理器2g；bddr3l；tps659037电源管理ic7“wvga电容触摸屏液晶3mp相机模块4gbemmc。

在本发明实施例提供中的螺钉的检测系统利用投射设备打出的结构光以及图像采集设备搭建三维视觉平台，通过三维建模算法，对待检测螺钉进行尺寸检测，实现对待检测螺钉尺寸高精度检测及缺陷全面检测。

上述螺钉的检测装置包括处理器和存储器，上述第一发送单元41，第二发送单元43以及检测单元45等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。

上述处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果。

上述存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(ram)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(rom)或闪存(flashram)，存储器包括至少一个存储芯片。

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，程序执行上述中任意一项的螺钉的检测方法。

根据本发明实施例的另外一个方面，还提供了一种处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行上述中任意一项的螺钉的检测方法。

在本发明实施例中还提供了一种设备，该设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现以下步骤：向投影设备发送第一指令，其中，投影设备在接收到第一指令后，向待检测螺钉进行投影；确定投影设备向待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，第二指令用于指示图像采集设备采集待检测螺钉的图像；根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果。

在本发明实施例中还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有如下方法步骤的程序：向投影设备发送第一指令，其中，投影设备在接收到第一指令后，向待检测螺钉进行投影；确定投影设备向待检测螺钉进行投影，向图像采集设备发送第二指令，其中，第二指令用于指示图像采集设备采集待检测螺钉的图像；根据获取到的图像对应的图像数据进行三维重构，并对三维重构得到的重构图像进行检测，得到待检测螺钉的检测结果。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。