技术特征：
技术总结
本发明提供了一种逻辑电路单粒子双故障的故障模拟方法，包括：第一步骤：在目标逻辑电路中执行单粒子双故障定位以搜寻目标逻辑门对；第二步骤：确定搜寻到的目标逻辑门对的类别；第三步骤：针对目标逻辑电路的电路逻辑，获取在对目标逻辑电路施加输入激励的情况下的正常电路响应；第四步骤：针对目标逻辑电路执行双故障模拟，其中在搜寻到的目标逻辑门对中的至少一个逻辑门的输出端加入非逻辑门，并获取在对加入非逻辑门之后的整个目标逻辑电路施加与第三步骤相同的输入激励的情况下的电路响应。
技术研发人员：蔡烁;王伟征;余飞;邱佳
受保护的技术使用者：长沙理工大学
技术研发日：2018.11.17
技术公布日：2019.03.22