技术特征：
技术总结
基于二维刻度尺的离轴圆条纹投影测量零相位点求解方法，先搭建离轴圆条纹投影测量系统，设计一种二维刻度尺；再生成一幅十字线图像，借助测量系统的投影单元对十字线图像投影，投影到二维刻度尺上，记录十字线图像中心在二维刻度尺上的十字线中心物理坐标和十字线中心像素坐标；然后借助测量系统的成像单元对二维刻度尺成像，选定成像点，记录成像点像素坐标及在二维刻度尺上的成像点物理坐标；最后由十字线中心物理坐标、成像点像素坐标、成像点物理坐标以及离轴圆条纹投影测量系统参数，建立方程，求解得到离轴圆条纹投影测量系统测量时采样圆条纹图的零相位点像素坐标；本发明有助于提高圆条纹投影轮廓术的三维测量性能。
技术研发人员：张春伟;赵宏;张振洋;乔嘉成
受保护的技术使用者：西安交通大学
技术研发日：2018.12.21
技术公布日：2019.03.19