一种T/R芯片测试中夹具的识别方法与流程

本发明涉及t/r芯片测试领域，具体涉及一种t/r芯片测试中接收夹具和发射夹具的识别方法。

背景技术：

t/r芯片一般由一个或者多个收发通道组成，它位于雷达、电子对抗等相控阵体制电子信息装备中的射频微波前端，并且是这类装备中数量最多、同时也是最为重要的一类微波芯片，其对整个装备的性能有着至关重要的影响，也是微波芯片领域的典型代表。另外，从测试的角度看，它是测试参数最多、测试实现最复杂的一类微波芯片。

t/r芯片由于体积小、接口数量多等原因往往需要连接测试夹具进行测试，t/r芯片接收状态输出功率一般在0dbm左右，发射状态输出功率从几瓦到几十瓦不等，另外由于接收机的耐受功率一般在1w以下，所以在自动测试中一般需要接收、发射两套测试夹具，其中发射状态的测试夹具往往带有衰减器。

在t/r芯片发射状态的实际测试中如果错接了接收态的测试夹具往往会烧毁仪器，存在严重的安全问题。为解决这一问题，需要在自动测试中做夹具识别工作。现有的解决方案一般是在软件界面上简单的进行安全提示并在夹具上安装不同的识别电阻，测试过程中用万用表模块测试电阻值来识别夹具，进而判定夹具安装是否正确。

目前的夹具识别存在的问题是：

1)大量重复测试后操作人员由于思维定式往往对安全提示视而不见；

2)电阻识别方式额外需要的万用表模块会增加系统建设成本；

3)两套夹具摆放较近时，电阻识别电缆连接出错时同样会有安全问题。

技术实现要素：

针对现有的夹具识别存在的问题，本发明提供了一种t/r芯片测试中夹具的识别方法，安全、可靠地实现接收夹具和发射夹具的识别。

本发明采用以下的技术方案：

一种t/r芯片测试中夹具的识别方法，包括待测夹具和矢量网络分析仪，识别方法包括以下步骤：

步骤1：将矢量网络分析仪通过测试电缆与待测夹具相连；

步骤2：选取一个测试频段，在测试频段内均匀的选取50个点，利用矢量网络分析仪测这50个点的驻波比；

测试频段的频率上限与待测夹具上的t/r芯片的工作频段的频率上限相同，测试频段的频率下限比待测夹具上的t/r芯片的工作频段的频率下限低1ghz；

步骤3：将步骤2中50个驻波比求和得出驻波和，若驻波和＜200:1为发射夹具，若驻波和≥200:1为接收夹具。

本发明具有的有益效果是：

本发明提供的t/r芯片测试中夹具的识别方法，利用了夹具固有的驻波特性差异进行区分，不需要额外的识别电阻、电缆、万用表模块等，减少系统复杂程度和建设成本；射频接收输入/发射输出测试电缆同时承担了夹具识别的工作，减少了额外连线的同时以最直接的手段完成了夹具识别，避免了安全事故的发生；不存在由于操作人员思维定式操作引起的安全问题，测试安全完全由测试系统把控，减少对测试人员素质要求。

附图说明

图1为接收夹具框图。

图2为发射夹具框图。

图3为矢量网络分析仪测试夹具框图。

图4为接收夹具驻波曲线图。

图5为发射夹具驻波曲线图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明的具体实施方式做进一步说明：

结合图1至图5，一种t/r芯片测试中夹具的识别方法，包括待测夹具和矢量网络分析仪。

夹具分为接收夹具和发射夹具，接收夹具较为简单主要起到固定夹持作用，如图1所示。发射夹具相较于接收夹具增加衰减功能，具有衰减器，如图2所示。

t/r芯片处于冷态(断电状态)时，进行夹具识别最为安全，冷态时t/r芯片传输参数无法使用，反射参数中的驻波是很好的区别特征。

因矢量网络分析仪是t/r芯片s参数测试中的必备设备，故可在进行正常指标测试前利用系统中的矢量网络分析仪对夹具接收输入/发射输出端驻波进行测试区分，如图3所示。

t/r芯片测试中夹具的识别方法包括以下步骤：

步骤1：将矢量网络分析仪通过测试电缆与待测夹具相连；

步骤2：选取一个测试频段，在测试频段内均匀的选取50个点，利用矢量网络分析仪测这50个点的驻波比；

测试频段的频率上限与待测夹具上的t/r芯片的工作频段的频率上限相同，测试频段的频率下限比待测夹具上的t/r芯片的工作频段的频率下限低1ghz；

步骤3：将步骤2中50个驻波比求和得出驻波和，若驻波和＜200:1为发射夹具，若驻波和≥200:1为接收夹具。

实施例1

接收夹具的驻波特性近似直接由t/r芯片决定，以某c波段t/r芯片为例，工作频段为5.2ghz至5.5ghz，夹具识别驻波测试以夹具对外接口为测试端面，测试频段选择4.2ghz至5.5ghz。

这样，矢量网络分析仪在5.2ghz至5.5ghz的带内测得的驻波极好只有1.3:1左右，而在4.2ghz至5.2ghz的带外测得的驻波极差高达160:1，测试曲线如附图4所示。

如此，在测试频段内选取50个点，测得的驻波和必然≥200:1，因此待测夹具为接收夹具。

同样测试条件换作发射测试夹具，假设t/r芯片与矢量网络分析仪port1端口之间的衰减器衰减量为10db，频率dc～5.5ghz，被测t/r芯片驻波非常差输入信号全反射，输入到夹具输入端信号pf为-40dbm，反射信号功率pr近似为-60dbm(两次经过衰减器)。根据电压反射系数公式得出电压反射系数为0.1，根据驻波比公式得出驻波比约为1.22:1，测试曲线如附图5所示。

这样，矢量网络分析仪测得的50个点的驻波和必然＜200:1，因此待测夹具为发射夹具。

当然，上述说明并非是对本发明的限制，本发明也并不仅限于上述举例，本技术领域的技术人员在本发明的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换，也应属于本发明的保护范围。

技术特征：

技术总结
本发明提供了一种T/R芯片测试中夹具的识别方法，包括待测夹具和矢量网络分析仪，识别方法包括将矢量网络分析仪通过测试电缆与待测夹具相连；选取一个测试频段，在测试频段内均匀的选取50个点，利用矢量网络分析仪测这50个点的驻波比；测试频段的频率上限与待测夹具上的T/R芯片的工作频段的频率上限相同，测试频段的频率下限比待测夹具上的T/R芯片的工作频段的频率下限低1GHz；将50个驻波比求和得出驻波和，若驻波和＜200:1为发射夹具，若驻波和≥200:1为接收夹具。本方法利用了夹具固有的驻波特性差异进行区分，不需要额外的识别电阻、电缆、万用表模块等，减少系统复杂程度和建设成本。

技术研发人员：徐宝令;丁志钊;季汉国;展利;乔宏志
受保护的技术使用者：中电科仪器仪表有限公司
技术研发日：2018.12.29
技术公布日：2019.05.03