本实用新型涉及自动化检测技术领域，尤其涉及一种连续检测式晶元片检测头。
背景技术：
晶元(Wafer)，是生产集成电路所用的载体，多指单晶硅圆片，也叫晶元芯片。普通硅砂拉制提炼，经过溶解、提纯、蒸馏一系列措施制成单晶硅棒，单晶硅棒经过抛光、切片之后，就成为了晶元片。一个圆盘状的晶元片上分布有很多一格格的晶元，晶元呈阵列排布，晶元在封装制造成芯片之前需要对其性能进行检测，由于一个晶元片上存在成百上千个晶元，人工通过探针对每个晶元进行检测，工作量非常大，而且容易漏检；因此为了提高检测效率，目前都是通过检测设备自动检测，探针是晶元片检测设备上的重要部件，探针检测大量的晶元片后容易磨损，需要定期更换，目前检测头上的探针更换麻烦，而且频繁更换探针会降低检测效率。
技术实现要素：
本实用新型为了解决现有技术中存在的上述问题，提供了一种连续检测式晶元片检测头，该种检测头能延长探针更换周期，从而提高晶元片检测效率。
为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：
一种连续检测式晶元片检测头，包括基板、与基板固定的连接柱，所述的基板的下侧面设有左侧板、右侧板，所述左侧板与右侧板之间设有水平的转轴，所述转轴的左端设有转动支架，所述转动支架的上端、下端均设有定位座，所述的定位座上均设有探针组件，所述的探针组件包括探针定位板、固定在探针定位板上的若干探针，所述探针定位板上设有接线座，每根探针均与接线座电连接，所述的基板上设有排线插座，所述的接线座与排线插座之间通过排线连接；所述转轴的右端设有外齿圈，所述基板上设有升降电缸，所述升降电缸的轴端设有与外齿圈啮合的齿条。
连接柱与检测设备机械连接，排线插座通过另一根排线与检测设备上的检测系统连接，两个定位座上都装上探针组件；检测时，位于转动支架下侧的探针组件与晶元片接触检测，位于转动支架上侧的探针组件闲置，当下侧的探针组件检测额定次数后(达到额定检测次数后该探针应当报废)，此时停止检测，升降电缸轴端下降，齿条向下移动通过外齿圈带动转轴转动180度，从而继续进行检测，该过程只需要几秒钟就能完成；探针组件达到额定次数后，升降电缸复位，然后同时更换两个探针组件；该种晶元片检测头将探针更换周期延长了一倍，从而将停机更换探针的时间省去了一半，而且整体更换探针组件，比单独更换探针更加省力、省时。
作为优选，所述转动支架的右端固定有转盘，所述转盘的边缘处设有两个关于中心对称的限位孔，所述基板的底部设有水平电缸，所述水平电缸的轴端设有与限位孔同轴的限位销。探针组件正常工作时，水平电缸的轴端伸出，限位销插入限位孔内；当探针组件上的探针达到额定检测次数后，水平电缸的轴端缩入、限位销从限位孔内拔出，然后升降电缸轴端下降，待转盘转动180度后，水平电缸动作，从而将限位销再次插入限位孔内定位，从而有效的防止探针组件检测过程中转动支架发生偏转，进而确保检测精度。
作为优选，所述左侧板的左侧面上设有弧形限位槽，所述转盘的右侧面设有限位柱，所述限位柱的头部伸入弧形限位槽内；当限位柱位于弧形限位槽的两端时，所述的限位销与限位孔同轴。
作为优选，所述的定位座呈U形，定位座的两个相向的内侧面上均设有导向槽，导向槽的侧面设有橡胶垫片，导向槽的底面设有贯穿定位座外侧面的间隙，所述定位座的外端均设有锁紧螺栓。松开锁紧螺栓，探针定位板的两边卡入导向槽内，然后再拧紧螺栓，间隙变小，导向槽的两个侧壁夹紧探针定位板，从而对探针定位板进行定位，定位非常方便。
因此，本实用新型中，一个探针组件检测达到额定次数后，自动使用另一个探针组件，从而延长了探针组件的更换周期，缩短了停机更换探针的时间，进而提高晶元片的检测效率。
附图说明
图1为本实用新型的一种结构示意图。
图2为图1的左视图。
图3为定位座的俯视图。
图4为图1中左侧板的左视图。
图5为图2中A处局部放大示意图。
图中：基板1、连接柱2、左侧板3、弧形限位槽30、右侧板4、转轴5、外齿圈50、转动支架6、定位座7、导向槽70、橡胶垫片71、间隙72、锁紧螺栓73、探针组件8、探针定位板80、探针81、接线座82、排线插座9、排线10、升降电缸11、齿条12、转盘13、限位孔130、限位柱131、水平电缸14、限位销15。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步描述：
如图1和图2所示的一种连续检测式晶元片检测头，包括基板1、与基板固定的连接柱2，基板的下侧面设有左侧板3、右侧板4，左侧板与右侧板之间设有水平的转轴5，转轴的左端设有转动支架6，转动支架与转轴固定连接，转轴与左侧板3、右侧板4转动连接，转动支架的上端、下端均设有定位座7，定位座上均设有探针组件8，探针组件包括探针定位板80、固定在探针定位板上的若干探针81，探针定位板上设有接线座82，每根探针均与接线座电连接，基板上设有排线插座9，接线座与排线插座之间通过排线10连接；如图3和图5所示，定位座7呈U形，定位座的两个相向的内侧面上均设有导向槽70，导向槽的侧面设有橡胶垫片71，导向槽的底面设有贯穿定位座外侧面的间隙72，定位座的外端均设有锁紧螺栓73；转轴5的右端设有外齿圈50，基板上设有升降电缸11，升降电缸的轴端设有与外齿圈啮合的齿条12。
转动支架6的右端固定有转盘13，转盘的边缘处设有两个关于中心对称的限位孔130，基板的底部设有水平电缸14，水平电缸的轴端设有与限位孔同轴的限位销15，如图4所示，左侧板3的左侧面上设有弧形限位槽30，转盘13的右侧面设有限位柱131，限位柱的头部伸入弧形限位槽内；当限位柱位于弧形限位槽的两端时，限位销与限位孔同轴。
结合附图，本实用新型的使用方法如下：连接柱与检测设备机械连接，排线插座通过另一根排线与检测设备上的检测系统连接，两个定位座上都装上探针组件；检测时，位于转动支架下侧的探针组件与晶元片接触检测，位于转动支架上侧的探针组件闲置，当下侧的探针组件检测额定次数后(达到额定检测次数后该探针应当报废)，此时停止检测，水平电缸的轴端缩入、限位销从限位孔内拔出，升降电缸轴端下降，限位柱从弧形限位槽的一端移动到另一端，转盘正好转动180度后，限位销与限位孔处于同轴状态，然后水平电缸轴端伸出，将限位销插入限位孔内定位，从而有效的防止探针组件检测过程中转动支架发生偏转，进而确保检测精度。该种晶元片检测头将探针更换周期延长了一倍，从而将停机更换探针的时间省去了一半，而且整体更换探针组件，比单独更换探针更加省力、省时。