本实用新型涉及三坐标测量仪的技术领域，尤其是涉及一种新型三坐标测针加长杆。
背景技术：
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接触式的精密测量仪器，都有一个关键部件就是测针。测针接触被测工件时的精度直接影响了测量精度。而测针由于自身材质和结构的局限性，它的长度是有一定范围的。测针加长杆是安装在测量头和测针之间，起到增加测针长度的作用，克服测针单独使用时无法测量较深的空位或者其他特殊位置的不足。测针加长杆的性能也对测量精度有很大的影响，其中最重要的一个影响因素就是加长杆的重量。测量头所能承受的重量是有限的，负载重量的大小对测量头的触发测量精度影响很大，重量越重，测量头的触发测量精度越低。因此如何减轻测针加长杆的重量是测针加长杆设计的关键。
技术实现要素：
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本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种新型三坐标测针加长杆，它可以安装多个测针，大大增加了测量仪器的测量范围，解决了很多大型工件的深孔或其他特殊位置无法测量的问题，且它的质量小、结构简单。
本实用新型解决所述技术问题的方案是：
一种新型三坐标测针加长杆，包括杆体，所述杆体的上端和下端分别固定有呈圆柱状的连接座和测针固定座，所述连接座的上端固定有螺杆，连接座的外壁上成型有一侧开口的工具孔，工具孔内套接有拨动组件；所述测针固定座的四侧各成型有一个平面，四个平面和测针固定座的底面上各成型有一个测针固定螺纹孔。
所述杆体的内部成型有减重孔，减重孔与所述的五个测针固定螺纹孔相通。
所述工具孔的外侧内壁上成型有凸起的螺纹孔；所述拨动组件包括套接在工具孔内的套管，套管内套接有拉杆，所述拉杆包括一体成型的锥部、小段、大段、螺纹段和半球体，所述锥部套接在套管内侧的锥孔内，所述螺纹段螺接在螺纹孔内，所述半球体位于螺纹孔的外侧；所述锥孔的内壁上成型有径向延伸的通槽，两侧的通槽内各套接有一个挡块，挡块成型的内侧壁成型有斜面，斜面压靠在锥部的外壁上。
所述螺纹孔的内壁和套管的外壁之间为间隙配合连接。
本实用新型的突出效果是：
与现有技术相比，它可以安装多个测针，大大增加了测量仪器的测量范围，解决了很多大型工件的深孔或其他特殊位置无法测量的问题，且它的质量小、结构简单。
附图说明：
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为图1关于A的局部放大图；
图3为本实用新型的拨动组件展开后的结构示意图。
具体实施方式：
实施例，见如图1至图3所示，一种新型三坐标测针加长杆，包括杆体1，所述杆体1的上端和下端分别固定有呈圆柱状的连接座2和测针固定座3，所述连接座2的上端固定有螺杆21，连接座2的外壁上成型有一侧开口的工具孔201，工具孔201内套接有拨动组件4；所述测针固定座3的四侧各成型有一个平面301，四个平面301和测针固定座3的底面上各成型有一个测针固定螺纹孔302。
更进一步的说，所述杆体1的内部成型有减重孔101，减重孔101与所述的五个测针固定螺纹孔302相通。
更进一步的说，所述工具孔201的外侧内壁上成型有凸起的螺纹孔202；所述拨动组件4包括套接在工具孔201内的套管41，套管41内套接有拉杆42，所述拉杆42包括一体成型的锥部421、小段422、大段423、螺纹段424和半球体425，所述锥部421套接在套管41内侧的锥孔411内，所述螺纹段424螺接在螺纹孔202内，所述半球体425位于螺纹孔202的外侧；所述锥孔411的内壁上成型有径向延伸的通槽412，两侧的通槽412内各套接有一个挡块43，挡块43成型的内侧壁成型有斜面431，斜面431压靠在锥部421的外壁上。
更进一步的说，所述螺纹孔202的内壁和套管41的外壁之间为间隙配合连接。
工作原理：测针固定座3上的五个测针固定螺纹孔302都可以固定一个测针，连接座2的螺杆21与测量头螺接，当需要拧紧或拧松连接座2时，旋转拉杆42，使螺纹段424脱离螺纹孔202，然后拉杆42向外拉，锥部421将挡块43挤出，使挡块43的外壁压靠在套管41的内孔的内壁上，然后拉杆42将套管21拉出，挡块43压靠在螺纹孔202的端面上，状态如图3所示，然后按住半球体425可轻松的将连接座2拧紧或拧松；减重孔101的存在可减少杆体1的质量，可提高测量精度。
以上实施方式仅用于说明本实用新型，而并非对本实用新型的制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴，本实用新型的专利保护范围应由权利要求限定。