本实用新型涉及测量技术领域,尤其是用于全站仪仪器高激光测量的测量标志。
背景技术:
目前,有一种激光测距全站仪仪器高测量系统,激光位移传感器竖直地安装在全站仪基座下,对准地面上的测量标志,可以方便、快捷的读取全站仪仪器高。其存在的重要问题是,忽略了测量标志上对中标志处的凹槽给激光测距带来的毫米级的误差。这是由于,1、激光对中时,激光中心射入到凹槽中,测量的距离可能深入到了凹槽内部,并非是到测量标志顶端表面的距离;2、凹槽内部及其周围是凹凸不平的,导致激光反射光方向混乱,被激光接收端接收到的反射光强度和质量很差,给激光测距带来很大误差。
以上激光测量方法的测量精度为毫米级,不能满足某些高精度测量场合。现有测量标志不适用于仪器高高精度激光测量,导致仪器高激光测量难以实用和推广。
技术实现要素:
本实用新型所要解决的问题是使得测量标志适用于仪器高高精度激光测量。
用于全站仪仪器高激光测量的测量标志,其特征为包括测量标志和白陶瓷块,白陶瓷块上表面平整光滑,白陶瓷块嵌入并固定在测量标志上表面中央,白陶瓷块的面积大于或等于激光位移传感器的光斑面积,使用时,白陶瓷块上表面中心垂直接收并反射激光位移传感器发射的激光,激光位移传感器垂直安装在全站仪基座中心下方。
白陶瓷块为圆柱形,其上表面凹陷于测量标志上表面以下。
该测量标志的使用方法如下:
a、将测量标志水平固定在控制点上;
b、全站仪精平后,打开激光位移传感器,瞄准测量标志上的白陶瓷块中心进行对中;
c、对中后,在全站仪上读取激光位移传感器测得的仪器高,该仪器高需要加上激光位移传感器至全站仪度盘中心的高度、并减去白陶瓷块上表面凹陷于测量标志上表面以下的高度差,这两部分高度为设备固定长度。
该测量标志不仅适用于全站仪,也可用于水准仪、GPS、棱镜等需要测量高度的仪器,有益效果如下:
1、利用白陶瓷块替换测量标志上对中标志处的凹槽,消除了其给激光测距带来的误差;
2、只要测量标志水平固定,白陶瓷块上表面即保持水平,保证了激光测距精度;
3、白陶瓷块上表面为平面,同时材料为白陶瓷块,与激光位移传感器出厂时设置的标准面材料相同,能够保证激光测距精度;
4、 白陶瓷块上表面凹陷于测量标志上表面以下,对白陶瓷块起到了保护作用,防止其受到外界的刮伤和碾伤。
附图说明
图1为用于全站仪仪器高激光测量的测量标志的结构示意图;
图2为用于全站仪仪器高激光测量的测量标志的白陶瓷块局部放大示意图;
图3为用于全站仪仪器高激光测量的测量标志的使用状态示意图。
图中:1、测量标志,2、白陶瓷块,3、激光位移传感器,4全站仪。
具体实施方式
实施例1
如图1、2所示,用于全站仪仪器高激光测量的测量标志,其特征为包括测量标志和白陶瓷块,白陶瓷块上表面平整光滑,白陶瓷块嵌入并固定在测量标志上表面中央,白陶瓷块的面积大于或等于激光位移传感器的光斑面积,使用时,白陶瓷块上表面中心垂直接收并反射激光位移传感器发射的激光,激光位移传感器垂直安装在全站仪基座中心下方。
白陶瓷块为圆柱形,其上表面凹陷于测量标志上表面以下。
如图3所示,该测量标志的使用方法如下:
a、将测量标志水平固定在控制点上;
b、全站仪精平后,打开激光位移传感器,瞄准测量标志上的白陶瓷块中心进行对中;
c、对中后,在全站仪上读取激光位移传感器测得的仪器高,该仪器高需要加上激光位移传感器至全站仪度盘中心的高度、并减去白陶瓷块上表面凹陷于测量标志上表面以下的高度差,这两部分高度为设备固定长度。