技术总结
本实用新型所要解决的问题是使得测量标志适用于仪器高高精度激光测量。用于全站仪仪器高激光测量的测量标志，其特征为包括测量标志和白陶瓷块，白陶瓷块上表面平整光滑，白陶瓷块嵌入并固定在测量标志上表面中央，白陶瓷块的面积大于或等于激光位移传感器的光斑面积，使用时，白陶瓷块上表面中心垂直接收并反射激光位移传感器发射的激光，激光位移传感器垂直安装在全站仪基座中心下方。该测量标志有益效果如下：1、利用白陶瓷块替换测量标志上对中标志处的凹槽，消除了其给激光测距带来的误差；2、白陶瓷块上表面保持水平，保证了激光测距精度；3、白陶瓷块上表面为平面，同时材料为白陶瓷块，能够保证激光测距精度。
技术研发人员：廖孟光;李羲;李朝奎;卜璞;刘正佳
受保护的技术使用者：湖南科技大学
技术研发日：2018.04.18
技术公布日：2018.10.19