本实用新型涉及矿浆检测领域，特别是涉及一种陶瓷密封盖及分析仪。
背景技术：
选矿是根据矿石中不同矿物的物理、化学性质，采用不同的工艺将矿物与脉石分开的过程。
在现有技术中，一般采用X射线荧光分析仪，利用X射线照射到矿浆样品上激发出被测元素的X射线，再利用探测头接收激发出的射线，并通过相关设备分析矿浆中的元素。其中，分析仪测量窗口的密封盖安装精度和使用寿命直接影响分析仪数据的测量精度和可靠性。密封盖安装在分析仪X射线探头的外侧，端盖反面为矿浆流经处(样品盒)，端盖正面紧贴分析仪窗口(测量胶卷)，现有技术中的密封盖主要由钢铸和外包橡胶组成，由四个螺丝进行固定。由于分析仪测量4小时要进行交卷更换，长时间测量交卷和密封盖的外包橡胶进行摩擦，造成包边移位或翻边，造成测量是密封盖没有起到密封的做用，有时会滞留矿浆或者漏矿浆，测量不准或掉高压。密封盖使用寿命2个月左右，一小部分密封盖使用寿命甚至更短。磨损及微渗漏所带来矿浆会导致测量数据偏差较大，同时经常会出现样品盒堵塞的误报警。这些误报警不仅加大了分析仪工作人员对故障的分析难度和维护工作量同时也对测量数据的准确性造成了很大的影响。为了改变这现象，必须采取更高效合理的设计取代目前的情况。
技术实现要素：
基于此，本实用新型的目的在于，提供一种耐用、封闭性好的陶瓷密封盖。
一种陶瓷密封盖，包括密封盖本体，所述密封盖本体采用陶瓷材料一体成型，其中部向一侧凸出，形成凸出部，所述凸出部的中部开设有密封盖通孔，所述密封盖本体的边缘以及所述通孔均加工有倒角。
作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述密封盖本体为圆形盖体，所述密封盖通孔为圆孔。
作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述凸出部为锥形凸起。
作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述盖体边缘的倒角宽度a＝1，深度b＝3。
作为上述陶瓷密封盖的进一步改进，所述密封盖通孔的倒角宽度c＝0.5，深度d＝0.2。
相比现有技术，为了提高该密封盖的使用寿命和降低维护的工作量，本实用新型所述的密封盖采用了陶瓷材料，密封盖可以在制作得更加纤薄，同时保持相当的密闭性，采用新的设计布局方式后明显提高了使用寿命，解决原来由于密封盖外包橡胶的翻边造成的测量不准和胶卷破裂等问题，节约成本的效果显著，同时，极大的减少了操作人员的维护量。
本实用新型的另一目的在于提供一种分析仪，包括取样盒、密封盖、前端盖、胶卷、后端盖、高压设备，所述取样盒两侧分别开设有进浆口和出浆口，且其一端开口，另一端封闭，所述密封盖为本申请实施例上述的陶瓷密封盖，其大小与所述取样盒的开口端的开口大小相等，遮挡所述开口；所述前端盖设置在密封盖的另一侧，与取样盒共同夹紧所述密封口，前端盖处于所述密封盖凸出的一侧，其中部设置有与所述凸出部配合的凹部，该凹部开设有与所述密封盖通孔同轴的前端盖通孔；所述后端盖设置在前端盖的另一侧并与可前端盖闭合，其中部也开设有与密封盖通孔同轴的后端盖通孔；所述胶卷设置在所述前端盖和后端盖之间，并可遮挡着所述前端盖通孔；所述高压设备设置在所述后端盖相对胶卷的另一侧，并且朝向所述密封盖通孔。
作为上述分析仪的进一步改进，所述高压设备集成了射线源、探测头以及高压电源。
作为上述分析仪的进一步改进，所述取样盒外侧还设置有气缸，所述气缸与所述前端盖驱动连接，驱动所述前端盖与取样盒的开合。
作为上述分析仪的进一步改进，还包括设置在前端盖两侧的辊轴，所述胶卷卷绕在所述两辊轴上，所述两辊轴分别拉扯着胶卷的一端。
相比于现有技术，本实用新型所述的分析仪中的密封盖整体采用高性能耐磨陶瓷材料，端盖正面测量密封口采用了倒角设计采用的是陶瓷材料，增加耐磨性，能够很好的和胶卷贴合而不渗漏。端盖反面也就是靠近样品盒一侧也采用倒角设计，光滑、平整，不需要螺丝固定也能做到防腐、耐磨、不渗漏。且通过气缸夹紧密封盖，安装更加简单，良好的耐磨性能加上与胶卷的优良贴合度，很好的解决了磨损及微渗漏问题。
为了更好地理解和实施，下面结合附图详细说明本实用新型。
附图说明
图1为本实用新型所述陶瓷密封盖的结构示意图；
图2为本实用新型所述陶瓷密封盖的剖视图；
图3为图2中A的放大示意图；
图4为本实用新型所述分析仪的结构示意图。
具体实施方式
现在参看后文中的附图，更完整地描述本实用新型，在图中，显示了本实用新型的实施例。然而，本实用新型可体现为多种不同的形式，并且不应理解为限于本文中所提出的特定实施例。确切地说，这些实施例用于将本实用新型的范围传达给本领域的技术人员。
除非另外限定，否则，本文中所使用的术语(包括技术性和科学性术语)应理解为具有与本实用新型所属的领域中的技术人员通常所理解的意义相同的意义。而且，要理解的是，本文中所使用的术语应理解为具有与本说明书和相关领域中的意义一致的意义，并且不应通过理想的或者过度正式的意义对其进行解释，除非本文中明确这样规定。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“坚直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
如图1至3所示，图1为本实用新型所述陶瓷密封盖的结构示意图；图2为本实用新型所述陶瓷密封盖的剖视图；图3为图2中A的放大示意图。一种陶瓷密封盖，包括密封盖本体，所述密封盖本体采用陶瓷材料一体成型，其中部向一侧凸出，形成凸出部11，所述凸出部11的中部开设有密封盖通孔，所述密封盖本体的边缘加工有第一倒角12，所述密封盖通孔加工有第二倒角13。该密封盖整体采用高性能耐磨陶瓷材料，其耐磨性好，在使用时，能够很好的和胶卷贴合而不渗漏。密封盖本体的第一倒角12在密封盖与样品盒结合时起到导向作用，使得密封盖与样品盒的装配更加容易。所述密封盖通孔为与胶卷接触处，所述第二倒角13可以在更换胶卷时减少胶卷和密封盖的摩擦，增加密封盖使用的寿命，同时在胶卷锁紧时，增大了胶卷和密封盖的接触面积，使得密闭性更好，确保矿浆不泄露和残留，避免影响分析正常测量和测量精度。
具体地，在本实施例中，为了便于安装和加工，所述密封盖本体为圆形盖体，所述密封盖通孔为圆孔。
在本实施例中，所述凸出部11为锥形凸起，其所形成的锥型表面在与其它部件安装时增加了贴合的面积，使得密闭性更加好，防止泄漏。
在本实施例中，所述密封盖本体的厚度为5cm，第一倒12角宽度a＝1cm，深度b＝3cm，所述第二倒角13宽度c＝0.5cm，深度d＝0.2cm。
相比现有技术，为了提高该密封盖的使用寿命和降低维护的工作量，本实用新型所述的密封盖采用了陶瓷材料，密封盖可以在制作得更加纤薄，同时保持相当的密闭性，采用新的设计布局方式后明显提高了使用寿命，解决原来由于密封盖外包橡胶的翻边造成的测量不准和胶卷破裂等问题，节约成本的效果显著，同时，极大的减少了操作人员的维护量。
如图4所示，图4为本实用新型所述分析仪的结构示意图。本实用新型的另一目的，提出了一种分析仪，包括取样盒2、密封盖1、前端盖3、胶卷4、后端盖5和高压设备6。
所述密封盖1包括密封盖本体，所述密封盖本体采用陶瓷材料一体成型，其中部向一侧凸出，形成凸出部11，所述凸出部11的中部开设有密封盖通孔，所述密封盖本体的边缘加工有第一倒角12，所述密封盖通孔加工有第二倒角13。该密封盖整体采用高性能耐磨陶瓷材料，其耐磨性好，在使用时，能够很好的和胶卷贴合而不渗漏。密封盖本体的第一倒角12在密封盖与样品盒结合时起到导向作用，使得密封盖与样品盒的装配更加容易。所述密封盖通孔为与胶卷接触处，所述第二倒角13可以在更换胶卷时减少胶卷和密封盖的摩擦，增加密封盖使用的寿命，同时在胶卷锁紧时，增大了胶卷和密封盖的接触面积，使得密闭性更好，确保矿浆不泄露和残留，避免影响分析正常测量和测量精度。
具体地，在本实施例中，为了便于安装和加工，所述密封盖本体为圆形盖体，所述密封盖通孔为圆孔。
在本实施例中，所述凸出部11为锥形凸起，其所形成的锥型表面在与其它部件安装时增加了贴合的面积，使得密闭性更加好，防止泄漏。
在本实施例中，所述密封盖本体的厚度为5cm，第一倒12角宽度a＝1cm，深度b＝3cm，所述第二倒角13宽度c＝0.5cm，深度d＝0.2cm。
所述取样盒2两侧分别开设有进浆口21和出浆口22，且其一端开口，另一端封闭，所述密封盖1其大小与所述取样盒2的开口端的开口大小相等，遮挡所述开口。经过前级设备取样，矿浆从进浆口21流入到取样盒2中，最后从出浆口22流出，取样盒2中流经的矿浆为被测样品，分析仪发出的射线透过密封盖1射入到取样盒中，对矿浆样品进行检测分析。
所述前端盖3设置在密封盖1的另一侧，与取样盒2共同夹紧所述密封盖1，前端盖3处于所述密封盖1凸出的一侧，其中部设置有与所述凸出部11配合的凹部，该凹部开设有与所述密封盖1通孔同轴的前端盖通孔。所述前端盖3一侧用于夹紧密封盖1，进一步提高取样盒2的密闭性，防止密封盖1松脱，导致矿浆泄漏，另一侧与后端盖5配合使用，夹紧所述胶卷4。
所述后端盖5设置在所述前端盖3的另一侧，并与所述前端盖3可开合地设置，其中部也开设有与密封盖1通孔同轴的后端盖通孔。
所述胶卷4设置在所述前端盖3和后端盖5之间，并可遮挡着所述前端盖通孔。所述前端盖3和后端盖5共同夹紧胶卷4，使胶卷4封闭前端盖通孔，防止矿浆的泄漏。
所述高压设备6设置在所述后端盖5相对胶卷4的另一侧，并且朝向所述密封盖通孔。具体的，所述高压设备6集成了射线源、探测头和高压电源，所述高压电源为射线源提供电能，所述射线源向所述样品盒2中的矿浆照射出射线，矿浆分离出不同的光谱，通过探测头接收矿浆散发出的光谱，进而通过分析仪的相关装置进行元素分析。
作为优选的实施例，所述取样盒2外侧还设置有气缸7，所述气缸7与所述前端盖3驱动连接，驱动所述前端盖3与取样盒2的开合，使密封盖1能够良好地封闭着取样盒2的开口端。
作为优选的实施例，还包括设置在前端盖3两侧的辊轴8，所述胶卷4卷绕在所述两辊轴8上，所述两辊轴8分别拉扯着胶卷的一端，拉直所述胶卷4，使胶卷4在前端盖3和后端盖5闭合时能够较好地贴合，防止泄漏。
工作原理：待检测的矿浆从所述取样盒2的进浆口21流入，出浆口22流出，所述高压设备6的射线源发出的射线依次通过同轴设置的后端盖通孔、前端盖通孔和密封盖通孔，照射取样盒2中的矿浆，矿浆反射出的光谱被探测器接收，并通过相关分析装置分析矿浆，其中，所述密封盖1整体采用高性能耐磨陶瓷材料，端盖正面测量密封口采用了倒角设计，增加耐磨性，能够很好的和胶卷贴合而不渗漏。
相比于现有技术，本实用新型所述的分析仪中的密封盖整体采用高性能耐磨陶瓷材料，端盖正面测量密封口采用了倒角设计采用的是陶瓷材料，增加耐磨性，能够很好的和胶卷贴合而不渗漏。端盖反面也就是靠近样品盒一侧也采用倒角设计，光滑、平整，不需要螺丝固定也能做到防腐、耐磨、不渗漏。且通过气缸夹紧密封盖，安装更加简单，良好的耐磨性能加上与胶卷的优良贴合度，很好的解决了磨损及微渗漏问题。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。