钻石粉强度量测装置的制作方法

本实用新型涉及一种强度量测设备，特别涉及一种钻石粉强度量测设备。

背景技术：

目前，钻石粉在工业上有着广泛的应用，举例而言，其可被制作成抛光、研磨或切割等加工领域的相关用品或工具，像是研磨膏、精磨片、电镀磨具、切削工具等等。由于钻石粉中的杂质含量会影响其强度，而钻石粉的强度则可能会影响或限制其用途及成本，因此，通常有必要对钻石粉的强度进行检测，已知的钻石粉强度量测，通常是采用静压或冲击韧性等物理量测的方式及相关的软硬件设备，然而，这些方式需要消耗大量样品，也较为费时且准确度较低，对使用者常造成不小的困扰。

因此，如何针对上述缺陷加以改进，即为本案创作人欲解决的技术困难点所在。

技术实现要素：

有鉴于现有钻石粉强度量测设备的上述问题，因此本实用新型的目的在于发展一种自动化、非破坏性、分析快速且准确度高的钻石粉强度检测仪器。

为达成以上的目的，本实用新型提供一种钻石粉强度量测装置，包括：一机台本体，其内设有一发光装置、一第一滤光组件、一第二滤光组件、一反射镜、一第三滤光组件以及一光谱仪装置，该发光装置、第一滤光组件以及第二滤光组件等三者以一第一延伸方向依序排列设置，该反射镜、第三滤光组件以及光谱仪装置等三者则以一相反于该第一延伸方向的第二延伸方向依序排列设置，又该反射镜也位于该第二滤光组件一侧；一光纤，具有一第一端以及一相对的第二端，该第一端与该机台本体相连接，且该第一端的位置与该第二滤光组件的位置相对应；一光纤探头，与该光纤的第二端相连接；一运算装置，与该机台本体的光谱仪装置电性连接。

进一步地，该发光装置能产生具有一第一波长的光信号，且该第一波长为220nm、360nm、395nm、405nm、514nm、532nm或633nm。

进一步地，该第一滤光组件为带通滤光片，用以使具有该第一波长的光信号可以通过，同时并阻挡其他波长的光信号。

进一步地，该第二滤光组件用以使具有该第一波长的光信号可以通过，同时并可反射其他波长的光信号。

进一步地，该第三滤光组件为带阻滤光片，用以阻挡具有该第一波长的光信号，同时并使其他波长的光信号通过。

借此，本实用新型即可实现自动化、非破坏性、分析快速且准确度高的钻石粉强度检测作业，而可大幅提升检测效率与操作便利性，并可降低检测的（样品消耗）成本，进而可大幅提高本实用新型的实用性。

附图说明

图1为本实用新型的一实施例的结构方块示意图。

图2为本实用新型的一实施例其发光装置产生照射信号的动作示意图。

图3为本实用新型的一实施例其光谱仪装置接收从样品反射回来的样品信号的动作示意图。

附图标记说明

1　 机台本体 11　发光装置

12　第一滤光组件 13　第二滤光组件

14　反射镜 15　第三滤光组件

16　光谱仪装置 2　 光纤

21　第一端 22　第二端

3　 光纤探头 4　 运算装置。

具体实施方式

请参阅图1所示，为本实用新型的钻石粉强度量测装置的一实施例的结构方块示意图，该钻石粉强度量测装置包括：

一机台本体1，该机台本体1内设有一发光装置11、一第一滤光组件12、一第二滤光组件13、一反射镜14、一第三滤光组件15以及一光谱仪装置16，其中，该发光装置11、第一滤光组件12以及第二滤光组件13等三者以一第一延伸方向依序排列设置，而该反射镜14、第三滤光组件15以及光谱仪装置16等三者则以一相反于该第一延伸方向的第二延伸方向依序排列设置，亦即，该第二延伸方向平行于该第一延伸方向，又该反射镜14也位于该第二滤光组件13一侧。

其中，在本发明的一个实施例中，该发光装置11可为雷射光源，用以产生具有一第一波长的雷射光，举例而言，该第一波长具体可以是220nm（奈米）、360nm、395nm、405nm、514nm、532nm或633nm，惟实际上该第一波长并不以上述所列举者为限，该第一滤光组件12可为带通滤光片（band pass filter），用以使具有该第一波长的雷射光可以通过，同时并阻挡其他波长的雷射光，该第二滤光组件13则用以使具有该第一波长的雷射光可以通过，同时并可反射其他波长的雷射光，该第三滤光组件15可为带阻滤光片（band reject filter，又称陷波滤光片），用以阻挡具有该第一波长的雷射光，同时并使其他波长的雷射光可以通过，此外，该反射镜14与光谱仪装置16的细部结构与动作原理均属本领域的通常知识且非本案发明点所在，于此不再赘述。

一光纤2，该光纤2具有一第一端21以及一相对的第二端22，该第一端21与该机台本体1相连接，且该第一端21的位置与该第二滤光组件13的位置相对应。

一光纤探头3，该光纤探头3与该光纤2的第二端22相连接。

一运算装置4，该运算装置4与该机台本体1的光谱仪装置16电性连接，该运算装置4具体可为计算机。

以下说明本实用新型的工作原理：请参阅图2所示，一开始，该机台本体1的发光装置11（如雷射光源）可发出一光源信号，该光源信号经过该第一滤光组件12的滤波后即成为仅保留该第一波长的测试信号，接下来，该测试信号即可依序通过该第二滤光组件13并由光纤2传输至该光纤探头3，借此，从而使该测试信号由光纤探头3射出并照射待测的样品（即钻石粉，图未示），接下来，请再参阅图3所示，照射到该样品的测试信号会反射而产生一样品信号，该样品信号可再由光纤2回传至该第二滤光组件13，经由该第二滤光组件13及反射镜14的反射后，再通过该第三滤光组件15而进入该光谱仪装置16，该光谱仪装置16进而将样品信号（光子信息）依波长顺序转换为电信号，再将电信号传输到该运算装置4以形成光谱图，该运算装置4即可透过分析由样品信号所产生的光谱图中，钻石的拉曼峰强度与杂质的荧光峰强度以及两者的比例，进一步计算出钻石粉（样品）的强度信息，从而使本实用新型可实现自动化量测钻石粉强度的目的。

通过上述结构，本实用新型即可实现自动化、非破坏性、分析快速且准确度高的钻石粉强度检测作业，而可大幅提升检测效率与操作便利性，并可降低检测的（样品消耗）成本，进而可大幅提高本实用新型的实用性。

以上所论述，仅为本实用新型较佳实施例而已，并非用以限定本实用新型实施的保护范围；故在不脱离本实用新型的精神与范畴内所作的等效的形状、构造或组合的变换，皆应涵盖于本实用新型的申请专利保护范围内。