1.一种逻辑检测电源相序的电路系统，其特征在于：包括单片机，由分压电路和比较器构成的相序检测部分，由RC充放电电路和比较器构成的缺相检测部分，以及光电隔离器，相序检测部分中分压电路输入端接入三相电源电压，相序检测部分中分压电路输出端与相序检测部分中比较器输入端连接，相序检测部分中比较器输出端通过光电隔离器接入单片机的数据口，缺相检测部分中RC充放电电路与缺相检测部分中比较器输入端连接，缺相检测部分中RC充放电电路还接入相序检测部分中比较器与光电隔离器之间，缺相检测部分中比较器输出端通过光电隔离器与单片机数据口连接。
2.根据权利要求1所述的一种逻辑检测电源相序的电路系统，其特征在于：所述相序检测部分包括电阻R1-电阻R9构成的分压电路，以及集成比较器LM339中的比较器U1-比较器U3，比较器U1的反相输入端依次通过电阻R4、电阻R1接入三相电源电压其中一相，比较器U2的反相输入端依次通过电阻R5、电阻R2接入三相电源电压另一相，比较器U3的反相输入端依次通过电阻R6、电阻R3接入三相电源电压第三相，比较器U1、比较器U2、比较器U3的同相输入端共接后，再分别通过电阻R7接入电阻R1和电阻R4之间、通过电阻R8接入电阻R5和电阻R2之间、通过电阻R9接入电阻R6和电阻R3之间，比较器U1、比较器U2、比较器U3的输出端分别接入光电隔离器。
3.根据权利要求1所述的一种逻辑检测电源相序的电路系统，其特征在于：所述光电隔离器型号为LP521-1GR，光电隔离器有三组，分别为光电隔离器V1、V2、V3，三组光电隔离器一一对应于三相电源电压，其中光电隔离器V1的2脚与比较器U1的输出端连接，光电隔离器V2的2脚与比较器U2的输出端连接，光电隔离器V3的2脚与比较器U3的输出端连接，光电隔离器V1的1脚通过电阻R14连接外部电压Vcc1，光电隔离器V2的1脚通过电阻R15连接外部电压Vcc2，光电隔离器V3的1脚通过电阻R16连接外部电压Vcc1，光电隔离器V1、V2、V3各自的4脚分别连接至单片机的数据口，光电隔离器V1连接至单片机的输出端还通过电阻R17连接外部电压Vcc2，光电隔离器V2连接至单片机的输出端还通过电阻R18连接外部电压Vcc2，光电隔离器V3连接至单片机的输出端还通过电阻R19连接外部电压Vcc2，光电隔离器V1、V2、V3各自3脚还共接后接地。
4.根据权利要求1或2或3所述的一种逻辑检测电源相序的电路系统，其特征在于：所述RC充放电电路包括电阻R10-电阻R13、电阻R20-电阻R23、电容C1构成的RC充放电电路，以及二极管D1-二极管D3、比较器U4、型号为LP521-1GR的光电隔离器V4，电阻R10、R12、R20、R21各自一端共接后连接至外部电压Vcc1，电阻R10另一端通过电阻R11接地，电阻R12另一端与电阻R22一端连接，电阻R20另一端与电阻R23一端连接，电阻R21另一端与电阻R13连接，电阻R22、电阻R23、电阻R13各自另一端共接后分为两路，电阻R22、电阻R23、电阻R13各自另一端共接后一路连接至比较器U4的反相输入端，电阻R22、电阻R23、电阻R13各自另一端共接后另一路通过电容C1接地，比较器U4的同相输入端连接至电阻R10和电阻R11之间，二极管D1的阳极接入电阻R12和电阻R22之间，二极管D2的阳极接入电阻R20和电阻R23之间，二极管D3的阳极接入电阻R21和电阻R13之间，二极管D3的阴极接入比较器U1输出端与光电隔离器V1的2脚之间，二极管D2的阴极接入比较器U3输出端与光电隔离器V3的2脚之间，二极管D1的阴极接入比较器U2输出端与光电隔离器V3的2脚对应输入端之间，比较器U4的输出端与光电隔离器V4的2脚连接，光电隔离器V4的1脚通过电阻R24连接外部电压Vcc1，光电隔离器V4的4脚连接至单片机的数据口，光电隔离器V4连接至单片机的输出端还通过电阻R25连接外部电压Vcc2，光电隔离器V4的3脚接地。
5.根据权利要求1所述的一种逻辑检测电源相序的电路系统，其特征在于：所述单片机型号为 INTE L80196KC，各个光电隔离器的输出端分别连接至单片机一个数据口的低位。