TYPEC模组检测设备的制作方法

本实用新型涉及检测设备领域技术，尤其是指一种TYPE C模组检测设备。

背景技术：

随着电子技术的不断发展，TYPE C模组作为一种传输信号的媒介产品，其应用越来越广泛，无论是工业生产用的设备还是人们经常使用的手机、电脑、MP3等，TYPE C模组都作为一种重要的媒介元素而不可或缺，然而，对于部件较小、测试难的TYPE C模组产品，很大程度上依赖于传统的人工作业，不但效率低，劳动强度大，成本高；人工检测的质量不稳定，造成很大的浪费。

针对此种情况出现了许多可以实现自动化检测TYPE C模组的设备，然而这些设备存在不足的是：1、现有的检测设备无法测出引脚存在虚焊等不良现象2、现有的TYPE C模组检测设备均是以母座作为测试件3、现有的TYPE C模组检测设备只能检测特定的TYPE C模组，不同款TYPE C模组之间无法共用同一检测设备4、现有的TYPE C模组检测设备均是一个一个进行检测的，由此可见检测速度慢、效率不高。有鉴于此，有必要对现有的TYPE C模组检测装机的TYPE C模组针脚检测装置予以改进。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种TYPE C模组检测设备，其结构设置合理，有效解决了以往TYPE C模组检测设备无法检测出引脚存在虚焊、TYPE C模组以母座作为测试件造成检测成本高及无法实现多个TYPE C模组同时完成测试的情况。

为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案：

一种TYPE C模组检测设备，包括有机架、设于机架上的固定治具、第一检测装置和第二检测装置，所述第一检测装置设于固定治具的一侧，第二检测装置设于固定治具的上方；所述固定治具包括有底座和设置于底座上的固定台，该固定台可放置多个TYPE C模组；多个TYPE C模组的插接口朝向于第一检测装置的一方；所述第一检测装置具有第一固定座，第一固定座中固定有多个测试片，多个测试片与多个TYPE C模组的插接口一一对应；所述第二测装置具有一第二固定座，第二固定座固定有多个组测试针，多组测试针与多个TYPE C模组的PCB板一一对应；测试片通过第一固定座的移动可插入到TYPE C模组的插口中，多组测试针通过第二固定座的移动可下压到TYPE C模组的PCB板上，每一组测试针、每一TYPE C模组和每一测试片之间可相连构成测试回路。

作为一种优选方案：所述固定台上表面左右两侧设有用于放置TYPE C模组的放置台，中部设有用于对TYPE C模组进行定位的定位部，定位部上设有定位销；多个TYPE C模组在未分板时具有一PCB工艺边，该PCB工艺边上具有定位孔，TYPE C模组放置于放置台上，定位孔插入到定位销中定位。

作为一种优选方案：所述固定台底部设置有安装柱，所述底座上设置有安装孔；该安装孔一侧设有一调节螺母，调节螺母伸入到安装孔中；安装柱插入到安装孔中，通过一侧设置的调节螺母可实现安装台的锁紧或松开连接。

作为一种优选方案：所述第一检测装置为镜像设置的左右两个，所述固定治具位于左右两个第一检测装置之间；放置于左侧放置台上的TYPE C模组插接口朝向于左侧第一检测装置，放置于右侧放置台上的TYPE C模组插接口朝向于右侧第一检测装置。

作为一种优选方案：所述机架上设有第一滑轨，第一固定座底部设有第一滑块、一侧设有第一移动杆；该第一固定座的第一滑块设于第一滑轨上通过拨动第一移动杆实现左右移动。

作为一种优选方案：所述机架后方设有一支撑架，该支撑架上设有第二滑轨和第二移动杆，所述第二固定座后方设有第二滑块，该第二固定座通过第二滑块设于第二滑轨上，第二移动杆与第二固定座相连通过拨动第二移动杆实现上下移动。

作为一种优选方案：所述第二固定座上均布设置有多组插针孔，每组测试针通过插入到每组插针孔中固定安装；该每组测试针可更换地固定于插针孔中。

作为一种优选方案：所述多个测试片与一电路板一体镶嵌成型，该电路板上均布设置有多个插针式连接器，每一插针式连接器设于每一测试片的后方。

作为一种优选方案：所述电路板上设有多个固定孔，所述第一固定座上设有多个固定凸部，电路板通过固定孔插入到固定凸部中可拆卸固定连接，多个测试片位于固定座的一侧。

本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术方案可知：通过灵活设置的固定治具、第一检测装置和第二检测装置，多个TYPE C模组放置于固定治具上，设于固定治具一侧的第一检测装置具有多个测试片以及设于固定治具上方的第二检测装置具有多组测试针，每一组测试针、每一TYPE C模组和每一测试片之间可相连构成测试回路；该测试回路可以有效地检测到TYPE C模组是否存在虚焊等问题发生，将测试片代替了以往母座测试件，使得其加工、更换非常方便；并且可以将多个TYPE C模组通过测试片插入、测试针接触一次性完成测试，对比每次只测一个的测试方法，测试速度更快。加之固定治具可以调节高度，测试针可应对不同款TYPE C模组的PCB板布局的不同从而进行更换以满足不同款TYPE C模组的检测需求。

为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，下面结合附图与具体实施例来对本实用新型进行详细说明。

附图说明

图1是本实用新型之较佳实施例的立体结构示意图。

图2是图1中的A处放大图。

图3是本实用新型之较佳实施例的固定治具结构分解示意图。

图4是本实用新型之较佳实施例的第一检测装置的结构分解示意图。

图5是本实用新型之较佳实施例的第二检测装置的结构分解示意图。

附图标识说明：

10、机架 11、第一滑轨

12、支撑架 13、第二滑轨

14、第二移动杆 20、固定治具

21、底座 211、安装孔

212、调节螺母 22、固定台

221、放置台 222、定位部

2221、定位销 223、安装柱

30、第一检测装置 31、第一固定座

311、第一滑块 312、第一移动杆

313、固定凸部 32、测试片

321、电路板 3211、固定孔

322、插针式连接器 40、第二检测装置

41、第二固定座 411、插针孔

412、第二滑块 42、测试针

50、TYPE C模组 51、PCB工艺边

511、定位孔。

具体实施方式

请参照图1至图5所示，其显示出了本实用新型之较佳实施例的具体结构，是一种可以一次性检测多个TYPE C模组的TYPE C模组检测设备；该检测设备包括有机架10、设于机架10上的固定治具20、第一检测装置30和第二检测装置40。

其中：所述固定治具20包括有底座21和设置于底座21上的固定台22，该固定台22可以放置多个TYPE C模组50，该多个TYPE C模组50的插接口朝向于第一检测装置30的一方；在本实施例中，所述固定台22上表面左右两侧设有用于放置TYPE C模组50的放置台221，中部设有用于对TYPE C模组50进行定位的定位部222，定位部222上设有定位销2221；多个TYPE C模组50在未分板时具有一PCB工艺边51，该PCB工艺边51上具有定位孔511，TYPE C模组50放置于放置台221上，定位孔511插入到定位销2221中定位；通过设置的定位销2221可以非常方便地对多个TYPE C模组50进行定位和固定。更为具体地说，所述固定台22底部设置有安装柱223，底座21上设置有安装孔211；该安装孔211一侧设有一调节螺母212，调节螺母212伸入到安装孔211中；安装柱223插入到安装孔211中，通过一侧设置的调节螺母212可实现安装台的锁紧或松开连接。该固定治具20通过采用此种结构设置，上下调节固定台22的高度可以满足不同款TYPE C模组的产品测试；从而使得该固定治具20使用范围更为广泛。

所述第一检测装置30设置于固定治具20的一侧，该第一检测装置30具有第一固定座31，第一固定座31中固定有多个测试片32，多个测试片32与多个TYPE C模组50的插接口一一对应。在本实施例中，所述第一检测装置30为镜像设置的左右两个，所述固定治具20位于左右两个第一检测装置30之间；放置于左侧放置台221上的TYPE C模组50插接口朝向于左侧第一检测装置30，放置于右侧放置台221上的TYPE C模组50插接口朝向于右侧第一检测装置30。具体而言，所述多个测试片32与一电路板321一体镶嵌成型，采用一体镶嵌成型的结构可以使得多个测试片32保持一致性，使得测试更为可靠。该电路板321上均布设置有多个插针式连接器322，每一插针式连接器322设于每一测试片32的后方。所述电路板321上设有多个固定孔3211，第一固定座31上设有多个固定凸部313，电路板321通过固定孔3211插入到固定凸部313中可拆卸固定连接，多个测试片32位于固定座的一侧。因为测试TYPE C模组的元件是有寿命的，一般在测试5000次后就会失效；因此，用测试片32代替以往使用TYPE C模组母座作为测试元件的情况更换更加方便；而且测试片32的加工方便，成本相较于使用TYPE C模组母座的方式更低。

第二检测装置40设于固定治具20的上方，该第二检测装置40具有一第二固定座41，第二固定座41固定有多个组测试针42，多组测试针42与多个TYPE C模组的PCB板一一对应；所述第二固定座41上均布设置有多组插针孔411，每组测试针42通过插入到每组插针孔411中固定安装；更为详细地说，每组测试针42可更换地固定于插针孔411中。当需要对不同款TYPE C模组进行检测时，通过更换测试针42就可以方便地实现；相比于以往只能对特定的一款TYPE C模组进行检测的设备在使用上更为广泛。在本实施例中，测试片32通过第一固定座31的移动可插入到TYPE C模组50的插口中，多组测试针42通过第二固定座41的移动可下压到TYPE C模组50的PCB板上，每一组测试针42、每一TYPE C模组和每一测试片32之间可相连构成测试回路。该测试回路的作用在于，可以测出引脚是否出现虚焊等不良现象。

更为详细地说，所述机架10上设有第一滑轨11，第一固定座31底部设有第一滑块311、一侧设有第一移动杆312；该第一固定座31的第一滑块311设于第一滑轨11上通过拨动第一移动杆312实现左右移动。所述机架10后方设有一支撑架12，该支撑架12上设有第二滑轨13和第二移动杆14，所述第二固定座41后方设有第二滑块412，该第二固定座41通过第二滑块412设于第二滑轨13上，第二移动杆14与第二固定座41相连通过拨动第二移动杆14实现上下移动。通过将第一检测装置30和第二检测装置40设于滑轨上，利用滑轨机构使得插入精度高，且不易损伤到待测TYPE C模组。

检测时，将具有多个TYPE C模组50的PCB工艺边51通过定位孔511插入到放置台221的定位销2221中定位，而多个TYPE C模组50均一一放置在放置台221上；然后设有多个测试片32的第一检测装置30将测试片32插入到TYPE C模组50的插接口中，设有多组测试针42的第二检测装置40将多组测试针42下压到TYPE C模组50的PCB板中；测试针42、TYPE C模组50和测试片32之间形成一测试回路以对TYPE C模组50进行检测。

本实用新型的设计重点在于：通过灵活设置的固定治具20、第一检测装置30和第二检测装置40，多个TYPE C模组放置于固定治具20上，设于固定治具20一侧的第一检测装置30具有多个测试片32以及设于固定治具20上方的第二检测装置40具有多组测试针42，每一组测试针42、每一TYPE C模组和每一测试片32之间可相连构成测试回路；该测试回路可以有效地检测到TYPE C模组50是否存在虚焊等问题发生，将测试片32代替了以往母座测试件，使得其加工、更换非常方便；并且可以将多个TYPE C模组50通过测试片32插入、测试针42接触一次性完成测试，对比每次只测一个的测试方法，测试速度更快。加之固定治具20可以调节高度，测试针42可应对不同款TYPE C模组的PCB板布局的不同从而进行更换以满足不同款TYPE C模组的检测需求。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。