一种新型光谱检测仪的制作方法

本实用新型涉及一种光学检测仪器，特别涉及一种新型光谱检测仪。

背景技术：

在光学产品的生产中，人们通常需要借助检测设备来分析光学镜片的反射率、透过率，或者进行镜筒轴心和镜片光轴的对齐操作，然后由于现有反射率检测仪、透过率检测仪、轴心校准仪多数是单一功能的缘故，故导致操作者在工作中不得不反复转换各种仪器或在各种仪器种跑动，造成效率降低不说，更重要的是造成使用者在仪器的配置上重复投入，浪费资源，虽然在现有技术中已经可以在一台仪器上测得反射率和透过率，但是其采用了外置光源与光纤连通会造成成本的增加以及使用了光纤的话会带来光效的损耗，其次其在测量透过率的时候采用了积分球和三叉光纤又会造成对光效损耗超过一半以上，降低了数据分析仪的运行速度以及检测效率。

技术实现要素：

为了克服现有技术中仪器成本高、光效损耗较大以及检测效率较低的缺陷，本实用新型提供一种新型光谱检测仪，该检测仪在节省成本的同时还能降低对光效的损耗以及提高检测的效率。

本实用新型解决现有技术中的问题所采用的技术方案为：一种新型光谱检测仪，包括反射率测量光路、透过率测量光路、分别设置在反射率测量光路和透过率测量光路前端的第一内置光源与第二内置光源、设置在反射率测量光路上的棱镜、第一镜片、第二镜片、半透半反镜、CCD相机、物镜、用于盛放被测物体的载物台、设置在载物台下方的位移平台、反射平面镜、光纤、与光纤一端连接的光谱仪、与光谱仪连接的数据分析仪；所述载物台上开有通光孔，所述被测物体放置在通光孔上；所述位移平台上开有通孔；

当通孔不对准通光孔时，所述第一内置光源发出的光线经过反射率测量光路中的棱镜后由半透半反镜折射从物镜射出，该射出光线照射在载物台上的被测物体形成反射光线；该反射光线经物镜至半透半反镜，此时，一部分反射光线透过半透半反镜，所述第一镜片用于聚焦透过半透半反镜的光线，所述CCD相机用于对第一镜片聚焦后的光线进行成像，另一部分反射光线经过半透半反镜向反射率测量光路反射，所述棱镜用于将反射来的光线折射到第二镜片，所述第二镜片用于聚焦棱镜的折射光线，第二镜片聚焦后的折射光线经光纤的另一端输送至光谱仪；

当通孔对准通光孔时，移开物镜，所述第二内置光源发出的光线经透过率测量光路中的反射平面镜折射后从通孔和通光孔处射出，该射出的光线从载物台上的被测物体中透过，该透过的光线经过半透半反镜，此时，一部分光线经半透半反镜向反射率测量光路反射，所述棱镜用于将反射来的光线折射至第二镜片，所述第二镜片用于聚焦棱镜的折射光线，第二镜片聚焦后的折射光线经光纤的另一端输送至光谱仪。

作为本实用新型的优选方案，所述反射率测量光路与所述透过率测量光路内均设有消色差光学模组；所述消色差光学模组包括第一透镜、第二透镜和第三透镜，使用消色差光学模组可以进行光线色差的校正，同时能对光线进行聚焦。

作为本实用新型的优选方案，所述内置光源包括照射光源和卤素灯；所述照射光源放置在所述卤素灯的外侧，外加一个照射光源可以弥补卤素灯在紫外波段光效弱的不足。

作为本实用新型的优选方案，所述照射光源可以为LED紫外光、氘灯或者氙灯。

作为本实用新型的优选方案，所述第一内置光源与所述反射率测量光路之间以及所述第二镜片出光口处设有光阑孔，增加这两个光阑孔是让被检测物品成像的圆形光斑更圆。

作为本实用新型的优选方案，所述物镜与所述半透半反镜之间是可移动连接，方便在测量透过率的时候把物镜移开。

作为本实用新型的优选方案，所述反射平面镜片与经过透射率测量光路中的光线呈45度放置；所述半透半反镜与经过反射率测量光路中的棱镜射出的光线呈45度放置，为了更好的让光线照射物品或者透过物品。

与现有技术相比，本实用新型具有以下技术效果：

本实用新型提出的一种新型光谱检测仪，取消了外置光源，通过在第一消色差光学模组光路前段安装一个内置光源，通过照射光源与卤素灯直接集成在本光路系统中既能节省外置光源与光纤的成本，有效避免了光纤带来的光效损耗；同时本技术方案在透过率测试功能中取消了积分球与三叉光纤这种常规的技术手法，通过共用部分反射率测量光路的方法，从而实现透过率测量功能，这种方案既节省成本同时避免了积分球、三叉光纤对光路带来的光效损耗，使数据分析仪的运行速度更快，增加检测效率。

附图说明

图1是本实用新型一种新型光谱检测仪的结构图；

图2是本实用新型一种新型光谱检测仪中位移平台的结构图。

图中标号：1、第一内置光源；2、反射率测量光路；3、透过率测量光路；4、物镜；5、载物台；6、光谱仪；7、数据分析仪；8、位移平台；9、光纤；10、第二内置光源；11、照射光源；12、卤素灯；21、半透半反镜；22、第一镜片；23、CCD相机；24、棱镜；25、第二镜片；26、第一透镜；27、第二透镜；28、第三透镜；31、反射平面镜片；51、通光孔；通孔81。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明。在此需要说明的是，对于这些实施方式的说明用于帮助理解本实用新型，但并不构成对本实用新型的限定。此外，下面所描述的本实用新型实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

一种新型光谱检测仪，包括反射率测量光路2、透过率测量光路3、分别设置在反射率测量光路2和透过率测量光路3前端的第一内置光源1与第二内置光源10、设置在反射率测量光路 2上的棱镜24、第一镜片22、第二镜片25、半透半反镜21、CCD相机23、物镜4、用于盛放被测物体的载物台5、设置在载物台5下方的位移平台8、反射平面镜31、光纤9、与光纤9 一端连接的光谱仪6、与光谱仪6连接的数据分析仪7；所述载物台5上开有通光孔51，所述被测物体放置在通光孔51上；所述位移平台8上开有通孔81；

当通孔81不对准通光孔51时，所述第一内置光源1发出的光线经过反射率测量光路2 中的棱镜24后由半透半反镜21折射从物镜4射出，该射出光线照射在载物台5上的被测物体形成反射光线；该反射光线经物镜4至半透半反镜21，此时，一部分反射光线透过半透半反镜21，所述第一镜片22用于聚焦透过半透半反镜21的光线，所述CDD相机23用于对第一镜片22聚焦后的光线进行成像，另一部分反射光线经过半透半反镜21向反射率测量光路 2反射，所述棱镜24用于将反射来的光线折射到第二镜片25，所述第二镜片25用于聚焦棱镜24的折射光线，第二镜片25聚焦后的折射光线经光纤9的另一端输送至光谱仪6；

当通孔81对准通光孔51时，移开物镜4，所述第二内置光源10发出的光线经透过率测量光路3中的反射平面镜31折射后从通孔81和通光孔51处射出，该射出的光线从载物台5 上的被测物体中透过，该透过的光线经过半透半反镜21，此时，一部分光线经半透半反镜21 向反射率测量光路2反射，所述棱镜24用于将反射来的光线折射至第二镜片25，所述第二镜片25用于聚焦棱镜24的折射光线，第二镜片25聚焦后的折射光线经光纤9的另一端输送至光谱仪6。

反射率测量功能：

开启照射光11与卤素灯12之后，此时照射光11与卤素灯12的光线熔合，经过第一透镜26、第二透镜27进行光线色差校正，同时对光线进行聚焦，然后经过棱镜24后，由第三透镜28对光线进行平行处理，此时从第三透镜28发出的光为消除色差的平行光到达呈45度放置的半透半反镜21上，此时光呈45度向下垂直折射，经过物镜4后光照射在载物台5的被测物体上，在被测物体上产生的反射光原路返回经过物镜4返回半透半反镜21上，此时一部分光线经过半透半反镜片21垂直向上到达第一镜片22后进行聚焦然后进入CCD相机23。另一部分光由半透半反镜片21像第三镜片28方向平行折射，光线经过第三镜片28后到达棱镜24，此时光线由棱镜24把光垂直向上折射到第二镜片25上，由第二镜片25对光线进行聚焦，然后由光纤9把聚焦后的光导入光谱仪6中进行识别，数据分析仪7对光谱仪6的数据进行分析。

透过率测量功能：

首先转动位移平台8，使得位移平台8上的通孔81与通光孔51对准，接着把物镜4移开，然后开启第二内置光源10，光线经过第一透镜26、第二透镜27进行光线色差校正，同时对光线进行聚焦，由第三透镜28对光线进行平行处理后产生的平行光照射在呈45度放置的反射平面镜片31上，此时光线向上穿透被测物品直接到达半透半反镜21，半透半反镜21 把光向第三镜片28方向平行折射，光线经过第三镜片28后到达棱镜24，此时光线由棱镜24 把光垂直向上折射到第二镜片25上，由第二镜片25对光线进行聚焦，然后由光纤9把聚焦后的光导入光谱仪6中进行识别，数据分析仪7对光谱仪6的数据进行分析，从而得出被测物品的透过率。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。