本申请涉及供电测试
技术领域：
：，特别是涉及一种电压暂降的免疫时间检测方法。
背景技术：
：：随着社会生产力的整体提升，供电可靠性等基本问题已达到较高水平，而保证高效生产的高度自动化生产过程对供电质量日益增长的需求已成为电力企业在新时代需要应对的一个主要矛盾，而电压暂降是各类导致用户经济损失的电能质量问题中贡献度最大的问题。改善电压质量的第一步，需要通过测试以及一定的评估手段了解到典型敏感设备或过程的电压暂降耐受能力。现阶段在敏感设备测试方面已有一定的研究成果。华南理工大学欧阳森团队对脱扣器进行了测试，并绘制了设备的电压暂降耐受曲线(voltagetolerancecurve,vtc)，分析了暂降幅值、持续时间、起始波形点以及相位跳变特征对设备免疫力的影响。华北电力大学肖湘宁与徐永海团队对可调速驱动(adjustablespeeddrive,asd)、交流接触器等敏感设备进行了相关研究，并给出了一定的免疫力提升措施。华北电力大学吴亚盆团队对plc的电压暂降耐受能力进行了测试。国外milanovic团队同样对交流接触器、pc等多种敏感设备的暂降耐受能力进行了充分的研究。部分研究者在研究中意识到某个生产过程中的典型敏感设备会互相影响，独立研究设备的耐受能力对整个生产过程的免疫力评估不够充分。《experimentalinvestigationonthesensitivityofanindustrialprocesstovoltagedips[c].2015ieeeeindhovenpowertech.eindhoven》搭建了一个由acc、asd与模拟负载的感应电机所构成的典型工业过程，并对所涉及的敏感设备与过程的耐受能力均进行了测试，得到了各自的vtc，证实了各设备间的相互影响，以及其过程耐受能力间的关系。现有大量研究均通过测试得到的vtc对设备进行电压暂降耐受能力评估，而对于用户而言，基于网侧指标构建的电压耐受曲线不能直观准确的体现出实际生产过程遭受的影响，从而不利用进行薄弱环节甄别与经济损失评估。《voltagedipimmunityofequipmentandinstallations》中提出了免疫力概念，采用免疫时间(immunitytime,it)来作为评估设备或过程电压暂降耐受能力的指标，并列举了一些典型工业过程对该指标的应用进行了说明。该指标以面向用户的工业过程参数作为判断标准，以时间来侧面评估免疫力，更利于从用户侧建立对暂降影响直观的认识。但该文并未提出具体的实现方法，对于具体的典型工业生产评估还需要进行进一步的落地研究。技术实现要素：基于此，有必要提供一种能够电压暂降的免疫时间检测方法。一种电压暂降的免疫时间检测方法，所述方法包括：解析电路，获取所述电路中的敏感设备；获取各所述敏感设备的免疫时间；根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。在其中一个实施例中，所述解析电路，获取所述电路中的敏感设备的步骤之前还包括：建立敏感设备的测试电路；为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形；根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间。在其中一个实施例中，所述根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：获取所述敏感设备的两端的电压波形的变化，检测所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现；根据所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现的时间，获得所述暂降特征和所述平顶波的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。在其中一个实施例中，所述为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形步骤包括：为所述敏感设备提供扰动电源，通过示波器检测所述敏感设备的两端的电压波形。在其中一个实施例中，所述获取各所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路中与所述敏感设备对应的多个最小割集；获取各所述最小割集的免疫时间；所述根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间。在其中一个实施例中，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤为：确定各所述最小割集中的敏感设备；以所述敏感设备的免疫时间为所述最小割集的免疫时间。在其中一个实施例中，所述根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：以相互串联的各所述最小割集的免疫时间的最大值作为所述电路的免疫时间。在其中一个实施例中，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤包括：获取所述最小割集中的相互并联的多个环节的免疫时间，以各所述环节的免疫时间的最大值作为所述最小割集的免疫时间。在其中一个实施例中，同一所述最小割集内的多个所述环节具有数字耦合特性。在其中一个实施例中，所述根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路的多个最小割集的步骤包括：根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，基于所述敏感设备的数字耦合特性，将所述电路划分为多个所述最小割集；获取所述电路的多个所述最小割集。上述电压暂降的免疫时间检测方法，基于敏感设备免疫时间得到电路的敏感过程的免疫时间，从而有效检测出电路的供电可靠性。附图说明图1为一个实施例中电压暂降的免疫时间检测方法的流程示意图；图2为一个实施例中典型敏感设备acc的结构示意图；图3为一个实施例中pit曲线的示意图；图4为一个实施例中测试电路的电路连接示意图；图5为一个实施例中的典型过程的实验平台的电路结构示意图；图6a为一个实施例中随机网络的连接结构示意图；图6b为一个实施例中等效网络的连接结构示意图；图7为一个实施例中的工业过程的结构示意图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。在一个实施例中，如图1所示，提供了一种电压暂降的免疫时间检测方法，包括以下步骤：步骤110，解析电路，获取所述电路中的敏感设备。具体地，敏感设备为在电压暂降时，产生耐受特性的设备。即敏感设备在电压暂降时，将产生耐受特性。该敏感设备具有一定的耐受能力。不同的敏感设备的耐受能力不同。本步骤中，对电路结构进行解析，获取电路中的各敏感设备，该敏感设备为电路中的元件。通过对电路进行解析，即可从电路中确定敏感设备。确定敏感设备在电路中的位置，以及敏感设备的逻辑连接关系。本实施例中，获取电路中的多个敏感设备，并获取敏感设备的设备类型。一个实施例中，敏感设备包括开关元件。本实施例中，敏感设备包括acc(接触器)和asd(adjustablespeeddrive,调速驱动)，即敏感设备的类型括acc和asd。步骤130，获取各所述敏感设备的免疫时间。本实施例中，根据获取到的敏感设备，获取敏感设备的免疫时间。一个实施例是，根据获取到的敏感设备的设备类型，获取与敏感设备的设备类型对应的免疫时间。具体地，免疫时间(immunitytime，it)为用于评估设备或过程电压暂降耐受能力的指标。一个实施例中，免疫时间为敏感设备准备断开至完全断开这一过程的时间长度。应该理解的是，该免疫时间为预存的与敏感设备的对应的时间，或者说，该免疫时间为预存的与敏感设备类型对应。每一设备类型对应一免疫时间，即该免疫时间为预存的，预存的多个免疫时间与预存的设备类型一一对应。值得一提的是，该预存的免疫时间可通过测试获得，并存储。步骤150，根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间。本实施例中，获取到各敏感设备的免疫时间后，通过各敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间，一个实施例是，以各所述敏感设备的免疫时间中的最大值为所述电路的免疫时间。上述实施例中，基于敏感设备免疫时间得到电路的敏感过程的免疫时间，从而有效检测出电路的供电可靠性。为了获得敏感设备的免疫时间，需要对敏感设备进行检测，在其中一个实施例中，所述解析电路，获取所述电路中的敏感设备的步骤之前还包括：建立敏感设备的测试电路；为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形；根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间。本实施例中，建立敏感设备的测试电路；为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备关键参数的变化情况；根据所述敏感设备参数的变化情况与暂降的发生时间，获得所述敏感设备的免疫时间。一个实施例是，根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，检测获得所述敏感设备的免疫时间。本实施例中，搭建测试电路，该测试电路中包括一敏感设备，且该测试电路还包括一电源，该电源用于提供扰动电源，即该电源用于提供扰动电压，扰动电压为波动的电压，该扰动电源的电压在预设时间内持续波动，受该扰动电压的影响，敏感设备将会断开或者导通。本实施例中，检测敏感设备的两端的电压，获得敏感设备的两端的电压波形，当扰动电压波动变化时，敏感设备的断开或者导通状态将受到影响，因此，敏感设备的两端的电压也随之变化，进而产生电压波形。该变压波形的变化是基于时间轴的变化，根据该电压波形的变化，能够检测获得敏感设备的免疫时间。为了检测获得敏感设备的免疫时间，在其中一个实施例中，所述根据所述敏感设备的两端的电压波形的变化，获得所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：获取所述敏感设备的两端的电压波形的变化，检测所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现；根据所述电压波形的暂降特征和平顶波的出现的时间，获得所述暂降特征和所述平顶波的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。一个实施例是，所述为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备关键参数的变化情况的步骤包括：获取所述敏感设备关键性能参数的变化情况，检测接触器的主触头的两端外加直流电源时触头端的电压的变化情况，检测变频器的直流母线电压的变化情况；根据所述所观测的设备关键性能参数发生突变或越限的时间以及供电侧电压暂降发生的时间，获得二者间的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。本实施例中，获取所述敏感设备关键性能参数的变化情况，对接触器而言需监测其主触头两端外加直流电源时触头端电压的情况，对变频器而言需监测其直流母线电压；根据所述所观测的设备关键性能参数发生突变或越限的时间以及供电侧电压暂降发生的时间，获得二者间的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。一个实施例中，检测所述电压波形的平顶波和暂降特征的出现；根据所述电压波形的平顶波和暂降特征的出现的时间，获得所述平顶波和暂降特征的时间差，以所述时间差为所述敏感设备的免疫时间。本实施例中，敏感设备可视为开关，扰动电源为敏感设备提供扰动电压，一个实施例中，扰动电源为敏感设备的控制端提供扰动电压，而敏感设备的两端连接至测试电路，敏感设备与测试电路中负载串联。测试电路还包括一电路电源和负载，电路电源与负载以及敏感设备串联。当敏感设备导通时，敏感设备两端的电压为零，当扰动电压的变化使得敏感设备断开时，相当于电路断路，而示波器检测是断路状态的敏感设备的两端电压，此时敏感设备两端的电阻无穷大，因此，此时，敏感设备两端的电压为测试电路中的电路电源的电压，此时，敏感设备的两端的电压波形出现平顶波，这样，检测电压波形出现暂降特征的时间，并检测平顶波的出现的时间，通过计算暂降特征的出现时间和所述平顶波的出现的时间之差，即获得暂降特征和所述平顶波的时间差，该暂降特征和所述平顶波的时间差即为敏感设备的免疫时间。为了检测敏感设备的两端的电压波形，在其中一个实施例中，所述为所述敏感设备提供扰动电源，检测所述敏感设备的两端的电压波形步骤包括：为所述敏感设备提供扰动电源，通过示波器检测所述敏感设备的两端的电压波形。本实施例中，该测试电路还包括一示波器，示波器的两个输入端连接于敏感设备的两端，示波器与敏感设备并联，这样，示波器能够检测到敏感设备的两端的电压，进而能够检测出敏感设备的电压波形。当电路中存在多个敏感设备时，为了准确获取电路的免疫时间，在其中一个实施例中，所述获取各所述敏感设备的免疫时间的步骤包括：根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路中与所述敏感设备对应的多个最小割集；获取各所述最小割集的免疫时间；所述根据各所述敏感设备的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间。本实施例中，根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路中与所述敏感设备的直连关系，并进一步采用最小割集法进行拓扑标准化-多最小割集串联拓扑形式；利用并联模块组合免疫时间求取关系获取各所述最小割集的免疫时间；所述根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：根据各所述最小割集的免疫时间与串联模块组合的免疫时间获取方式获取所述电路的免疫时间。具体地，最小割集包含多个元件，或者说，多个元件构成了最小割集，该最小割集的通断能够使得电路随着通断的最小单元。应该理解的是，对于一个由彼此独立的随机元件构成的过程，割集是指组合停运会导致供电中断的元件组合，如果从该割集中移去任何一个元件，该割集不再是一个割集，那么这个割集就是最小割集(minimum-cut-set,mcs)。依据该描述，可知mcs内部元件为并联关系，mcs间为串联关系。值得一提的是，最小割集包括至少一个敏感设备。本实施例中，由于最小割集的通断能够影响整个电路的通断，那么，在电路中存在多个最小割集，这样，多个最小割集将对应多个免疫时间，根据这些最小割集的免疫时间即可计算获得电路的整体免疫施加。为了准确获取电路的免疫时间，在其中一个实施例中，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤为：确定各所述最小割集中的敏感设备；以所述敏感设备的免疫时间为所述最小割集的免疫时间。一个实施例中，所述利用并联模块组合免疫时间求取关系获取各所述最小割集的免疫时间的步骤包括：确定各所述最小割集中的敏感设备；以所述敏感设备的最大免疫时间为所述最小割集的免疫时间。本实施例中，以所述敏感设备的免疫时间中最大的一个为所述最小割集的免疫时间。一个实施例是，获取各所述最小割集中的敏感设备，确定各所述最小割集中的敏感设备的设备类型，以所述敏感设备的设备类型对应的免疫时间为所述最小割集的免疫时间。本实施例中，根据最小割集中的敏感设备的免疫时间来获得该最小割集的免疫时间，进而确定电路的免疫时间，从而使得电路的免疫时间的获取更为准确。为了准确获得电路的免疫时间，在其中一个实施例中，所述根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：以相互串联的各所述最小割集的免疫时间的最小值作为所述电路的免疫时间。本实施例中，所述根据各所述最小割集的免疫时间与串联模块组合的免疫时间获取方式获取所述电路的免疫时间的步骤包括：以相互串联的各所述最小割集的免疫时间的最小值作为所述电路的免疫时间。本实施例中，所述根据各所述最小割集的免疫时间获取所述电路的免疫时间的步骤包括：检测各所述最小割集是否相互串联；当各所述最小割集相互串联时，则以各所述最小割集的免疫时间的最小值作为所述电路的免疫时间。本实施例中，当电路中存在多个最小割集时，则以这些最小割集之间为相互串联，则以各所述最小割集的免疫时间的最小值作为所述电路的免疫时间，能够准确获得电路的免疫时间。为了获得最小割集的免疫时间，在其中一个实施例中，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤包括：获取所述最小割集中的相互并联的多个环节的免疫时间，以各所述环节的免疫时间的最大值作为所述最小割集的免疫时间。本实施例中，所述获取各所述最小割集的免疫时间的步骤包括：检测所述最小割集是否包括相互并联的多个环节；当所述最小割集包括相互并联的多个环节时，则获取各所述环节的免疫时间，以各所述环节的免疫时间的最大值作为所述最小割集的免疫时间。本实施例中，最小割集中包括多个环节，每一个环节可以看成是一个独立的元件，也可以是多个元件。在同一个最小割集中的多个环节是相互并联的。因此，该最小割集的免疫时间与该最小割集中的多个环节的免疫时间中最大值相等。因此，通过以各所述环节的免疫时间的最大值作为所述最小割集的免疫时间，能够赚获得最小割集的免疫时间。在其中一个实施例中，同一所述最小割集内的多个所述环节具有数字耦合特性。具体地，环节的数字耦合特性指的是，当环节的关键参数越限时才会使得其它环节因其输出的变化受到影响，这样在一定程度上保证了环节间的相互独立性。而对于具有连续变化函数关系的两个参量，将其归为同一环节中。为了划分电路中的最小割集，在其中一个实施例中，所述根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，获取所述电路的多个最小割集的步骤包括：根据所述敏感设备在所述电路中的逻辑连接结构，基于所述敏感设备的数字耦合特性，将所述电路划分为多个所述最小割集；获取所述电路的多个所述最小割集。本实施例中，基于环节的数字耦合特性来划分电路的最小割集，能够使得每一最小割集内的环节都能够具有数字耦合特性。在各实施例中，电压暂降的免疫时间检测方法也称为典型电压暂降敏感对象的免疫时间测试方法，或者典型电压暂降的敏感设备的免疫时间测试方法。下面是具体的实施例：为了获得敏感设备的免疫时间，需要对敏感设备进行测试。(1)典型敏感设备it测试典型敏感设备it的确定包括确定关键参数、确定参数阈值与进行测试几步，其中，参数阈值一般可通过相关技术参数或标准获得。为体现本测试方法实用性，本技术方案以工业过程中典型敏感设备acc的研究为例展开。工业过程中常用的双e型直动式acc结构如图2所示。当主线圈通电时，铁芯中产生磁通，铁芯极柱端面产生电磁力。在克服恢复力弹簧反作用力的情况下，动铁芯联动触头向下运动致使动、静触头相互接触。在主回路闭合后，动铁芯克服所有弹簧组作用力的情况下继续向下运动，保证铁芯可靠吸合。动铁芯的该段位移称之为可靠距离(reliabledistance,rd)。依据cigre/cired/uiejointworkinggroupc4.110.《voltagedipimmunityofequipmentandinstallations[r]》.paris，france：cigre，2010，判断敏感对象故障的条件为某一关键物理参数，该关键参数的选择将对对象的评估结果产生较大的影响。由于对设备免疫力评估的目的是为了推测过程的免疫力，因而以设备对后续环节产生影响与否或设备的功能为依据来确定关键参数较为合适。acc在电路中的主要作用在于控制设备供电电路的开断，因此可以以其触点接触与否来作为acc触发失效的判据。故，描述动铁芯相对位置的位移x便可作为关键参数，以吸合状态下的位置为0，其限值即为rd。pit(processit，pit，过程免疫时间)定义为关键参数pnom从中断发生时刻起到其抵达限值plimit的时间，如图3所示，其中，δt为研究对象受暂降后的“死区时间”。类似的，对于acc而言，从暂降发生时起，到位移x超过rd的时间可定义为该设备的免疫时间(equipmentimmunitytime,eit)，而其对应的死区时间为暂态电磁力减小至反力(弹簧力与动铁芯重力的差值)时导致铁芯开释的时间。本测试依据标准ieeestd1668-2017，ieeerecommendedpracticeforvoltagesagandshortinterruptionride-throughtestingforend-useelectricalequipmentratedlessthan1000v所述方案进行测试，测试环境如图4所示：其中，扰动电源采用ametek公司的mx45型程控电源，电压输出范围0～400v，最大输出功率为45kva。示波器采用yokogawa公司dl850程控型示波器，用于监测接触器两端的电压波形。acc控制的主回路采用外部电源供电的灯具进行模拟，以便更好体现暂降对acc本身的影响。当接触器通电吸合时，主回路闭合，灯具发光且接触器两端电压为零。当接触器遭受暂降而使得触点有效分离时，灯具将出现明显的明度变化，示波器监视窗口中将出现具有一定宽度且幅值为指示灯供电电压的平顶波。通过示波器可以得到当前暂降特征下暂降发生时与平顶波出现时的时间差—eit。《voltagedipimmunityofequipmentandinstallations[r]》中仅对pit在中断条件下进行了定义，显然这对于实际研究而言是远远不够的，因为实际情况下暂降出现的概率远高于中断概率，且对于接触器类设备，在中断时具有较高的免疫力，采用中断时的情况讨论不具典型性。因而本文将此概念的前提拓宽至暂降，以便对设备的免疫力有更全面的评估。由此，eit可作为电压暂降的一个新特征与原特征进行组合来对acc免疫力进行评估，如eit与幅值特征构成的二维图即为以面向用户侧的参数作为判断条件构成的vtc。本实验以单相电路情况测试得到的结果可视为在多相情况下，故障相出现在acc供电相时的这种最严重的情况，该情况下的eit具有代表性。asd的测试可仿照上述方案，对于asd而言，其关键参数可选为直流母线电压的低压限值udc-min，以及过流保护限值δimax，当直流母线电容端电压低于阈值或恢复阶段的电流高于其阈值，asd将跳闸，从而对后续环节产生突变的影响。对于电机本身，在供电电压情况变化时，也会在转速、转矩方面出现变化，因而对电机本身状态的监测也较为重要。例如，电机的转速是面向工业过程的一个关键参数，当其低于额定值的80％时即可认为其无法正常工作，该参数监测较为方便，可采用专用电机激光测速仪、数据采集系统等设备进行获取。在测试过程中，也常常将acc、asd与电机模块视为一个典型组合进行测试，此时可以着重关注电机参数的变化情况来界定组合的运行状态。这里acc与asd的存在是对电机对电压暂降的原有响应产生附加影响，两类设备的故障会使得供电中断，这是导致电机接近额定负载情况下故障的主要原因(l.e.weldemariam，h.j.v.cuk，j.f.g.cobbenandw.l.kling《experimentalinvestigationonthesensitivityofanindustrialprocesstovoltagedips》[c].2015ieeeeindhovenpowertech.eindhoven：ieeepress,2015.1-6)。对于电机在一定状态初始状态下供电中断后转速的变化规律可通过多种方法获得，因而可以将上述典型组合的it拆分为前置设备故障所需时间与后置设备故障附加时间两部分。这样便可通过测量过程中的局部环节来估计过程的免疫特性，下面将对基于该思路的测试方案进行详细介绍。(3)设备pit的测试方案设备pit为某个设备失效时，所研究过程的it。该指标可用于判断设备的关键程度，以便为暂降的治理与预防提供导向性，该指标在voltagedipimmunityofequipmentandinstallations[r]》中例举的多个实例中进行了应用。设备pit通过直接测试不易获得，因为在遭受暂降时，所有敏感设备均会受到影响，无法单独对某个设备进行讨论。在此，可以单独分析在某设备故障的情况下，后续过程环节参数的变化情况，得出参数越限的时间，而设备遭受暂降的失效时间eit与工况状态下的电机在遭受暂降事件时的转速变化曲线可单独获得，将二者求和即可得到设备pit的近似值。上述为一个只含有两个层级的工业过程，对于多层级的工业过程，亦可按照上述方法进行逐级推导。对于某些简单的工业过程，可以通过复现工业过程的方式来独立研究相关敏感设备对过程参数的影响，从而可直接测试得到设备pit。(4)典型过程pit的确定方案：a)梳理研究过程中的所有敏感设备或环节。本部分需要注意划分环节的条件，被划分的环节间应具有一定的数字耦合特性。确切地说，理想情况下当环节的关键参数越限时才会使得其它环节因其输出的变化受到影响，这样在一定程度上保证了环节间的相互独立性。而对于具有连续变化函数关系的两个参量，将其归为同一环节中。为了使得划分出的环节便于理解与调查研究，亦可从功能角度进行环节划分，对上述划分结果进行适当的调整。对于具体的设备而言，其具有明确的功能，且与其它设备往往也具有较好的数字耦合特性，因而可将其直接作为一个环节。如某些环节的运行状态取决于其它某些环节，则该环节为由相关子环节构成的上层环节。本文中所研究的典型过程的实验平台如图5所示，图5所示的工业结构广泛存在于各类工业过程中，该典型过程所涉及的敏感设备即为asd与acc，负荷环节即为由asd与acc决定的上层环节。b)分析设备或环节间的逻辑连接方式。同级环节间的逻辑连接方式对pit的确定至关重要，处于不同逻辑节点上的设备失效给过程带来的影响存在较大差异。工业过程中各环节的逻辑结构可能较为复杂，但依据最小割集法可对其进行规范化处理。对于一个由彼此独立的随机元件构成的过程，割集是指组合停运会导致供电中断的元件组合，如果从该割集中移去任何一个元件，该割集不再是一个割集，那么这个割集就是最小割集(minimum-cut-set,mcs)，bollenmhj.《understandingpowerqualityproblems:voltagesagsandinterruptions[m].newyork》：ieeepress，2000。依据该描述，可知mcs内部元件为并联关系，mcs间为串联关系，则图6(a)所示网络的等效结构如图6(b)所示：上述理论表明具有数字耦合特性的同级环节均可采用由串联与并联元件构成的等效网络表示。对于由几个低层级环节所决定的一个上层环节，其研究方式与单个环节或设备的方式类似，其与下层环节的联系在于其遭受影响的时刻近似为下层环节失效的时刻。采用上述分析手段，上文分析的供电模块可等效为acc、asd的串联网络。而当供电模块失效后，负荷模块的关键参数才会发生明显偏移，因而其可视为一个上层环节。c)依据逻辑连接方式确定子过程或过程的it对于彼此并联的a个环节，mcs的it为：itmcs＝max(it1,…,ita)(1)对于彼此串联的b个mcs，某级别所有环节的it为：it＝min(itmcs1,…,itmcsb)(2)图7中，供电环节的it取决于acc与asd的eit的最小值，而负荷模块的it则为供电环节的it与负荷模块单独遭受中断时的it之和。在本文中，负荷模块的it亦为pit。本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(rom)、可编程rom(prom)、电可编程rom(eprom)、电可擦除可编程rom(eeprom)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(ram)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，ram以多种形式可得，诸如静态ram(sram)、动态ram(dram)、同步dram(sdram)、双数据率sdram(ddrsdram)、增强型sdram(esdram)、同步链路(synchlink)dram(sldram)、存储器总线(rambus)直接ram(rdram)、直接存储器总线动态ram(drdram)、以及存储器总线动态ram(rdram)等。以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。当前第1页12当前第1页12