技术特征：
技术总结
本发明公开了一种斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法。本发明一种斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法，包括：从CAD文件中获取PCBA上测试点的位置(P:p0，p1，p2，p3….)、元器件的位置(CP)以及长宽高(L/W/H)信息；获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集N:n0，n1，n2…)；设置测试点P投影到针板上的点P’到选定网格N的最大距离D；遍历测试点集P。本发明的有益效果：通过采用斜针和普通100mil相结合的方式，探针的弹力更大，穿透性更高，从而大幅提高了测试稳定性，另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单，成本也就相对更低，最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。
技术研发人员：陈伟军;宋屹
受保护的技术使用者：苏州世纪福智能装备股份有限公司
技术研发日：2019.03.06
技术公布日：2019.06.18