斜针式ICT测试夹具及斜针式ICT测试夹具中探针的布置方法与流程

本发明涉及ict测试领域，具体涉及一种斜针式ict测试夹具及斜针式ict测试夹具中探针的布置方法。

背景技术：

ict(in-circuittest在线测试)是通过对在线元器件的电性能及电气连接性进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种测试手段。它主要检查pcba(printed-circuitboardassembly，印刷电路板组件)单个元器件好坏以及各电路网络的开、短路情况。在整个测试系统在，测试夹具是通过测试探针连接ict系统和pcba的一个桥梁，随着时间的推移，pcba越来越小型化，集成度越来越高，从而导致测试探针的直径越来越小，目前ict夹具上常用的探针有100/75/50/39mil，这几种探针可以覆盖直径为0.5mm，间距1mm以上的测试点，但是对于小于此规格(如直径0.4mm，间距0.6mm以内)的测试点，市面上有的商家不同的尝试，如使用25mil的探针，但是使用下来发现该探针的本体直径较小，所产生的弹力非常的小(0.5牛顿)，无法刺穿测试点上的松香或氧化层导致测试效果较差，其表现为测试误判率较差，进而影响产出效率降低。(参阅图1和图2)

传统技术存在以下技术问题：

使用目前的结构配合25mil探针带来的主要的问题是，由于探针本体直径较小(直径0.2mm)，针尖偏软，弹力不足，造成接触不好测试不稳定。另一方面，由于25mil探针制作工艺复杂、成本过高，也导致整个夹具成本偏高。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是提供一种斜针式ict测试夹具中探针的布置方法。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种斜针式ict测试夹具，包括：斜针模块和普通探针模块；所述斜针模块的探针是倾斜的，所述普通探针模块的探针对斜针模块的探针施加压力。

一种斜针式ict测试夹具中探针的布置方法，包括：

从cad文件中获取pcba上测试点的位置(p:p0，p1，p2，p3….)、元器件的位置(cp)以及长宽高(l/w/h)信息；

获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集n:n0，n1，n2…)；

设置测试点p投影到针板上的点p’到选定网格n的最大距离d；

遍历测试点集p；

以p为圆心，d为半径选择最佳的探针在针板上的放置点n(条件是：p’n之间的距离最短，并确保探针不会碰到附近的元器件)；

获取针板网络点集n的位置信息；

根据数控机床能够读取的数控系统g代码文件格式，输出指定格式的加工。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现任一项所述方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现任一项所述方法的步骤。

一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任一项所述的方法。

本发明的有益效果：

通过采用斜针和普通100mil相结合的方式，探针的弹力更大，穿透性更高，从而大幅提高了测试稳定性，另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单，成本也就相对更低，最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。

附图说明

图1是传统ict测试示意图。

图2是传统ict测试时探针布置的示意图。

图3是本发明斜针式ict测试夹具中探针的布置方法中的斜针式ict测试夹具示意图。

图4是本发明斜针式ict测试夹具中探针的布置方法中案例的斜针模组的示意图。

图5是本发明斜针式ict测试夹具中探针的布置方法中案例的普通探针模块的示意图。

图6是本发明斜针式ict测试夹具中探针的布置方法中案例的夹具总装示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。

一种斜针式ict测试夹具，包括：斜针模块和普通探针模块；所述斜针模块的探针是倾斜的，所述普通探针模块的探针对斜针模块的探针施加压力。

一种斜针式ict测试夹具中探针的布置方法，包括：

从cad文件中获取pcba上测试点的位置(p:p0，p1，p2，p3….)、元器件的位置(cp)以及长宽高(l/w/h)信息；

获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集n:n0，n1，n2…)；

设置测试点p投影到针板上的点p’到选定网格n的最大距离d；

遍历测试点集p；

以p为圆心，d为半径选择最佳的探针在针板上的放置点n(条件是：p’n之间的距离最短，并确保探针不会碰到附近的元器件)；

获取针板网络点集n的位置信息；

根据数控机床能够读取的数控系统g代码文件格式，输出指定格式的加工。

一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现任一项所述方法的步骤。

一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现任一项所述方法的步骤。

一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行任一项所述的方法。

本发明的有益效果：

通过采用斜针和普通100mil相结合的方式，探针的弹力更大，穿透性更高，从而大幅提高了测试稳定性，另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单，成本也就相对更低，最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。

下面介绍本发明的一个具体应用场景：

参阅图3，本发明是通过在传统结构的pcba和普通探针之间加入一个斜针模块，将pcba上密集的测试点区域通过倾斜的探针引导到更加宽敞的区域中(针板)，从而可以使用普通的100mil探针，这样100mil探针的高弹力可以带来更稳定的测试效果(弹力更大，穿透性更强)

以下为本申请的自动寻找放置斜针位置并输出针板加工文件的方法：

3.2.1准备工作：

3.2.1.1.从cad文件中获取pcba上测试点的位置(p:p0，p1，p2，p3….)、元器件的位置(cp)以及长宽高(l/w/h)信息；

3.2.1.2.获取夹具针板尺寸并按照指定间距(如2mm)划分网格(网格中心点集n:n0，n1，n2…)；

2.1.3.设置测试点p投影到针板上的点p’到选定网格n的最大距离d；

3.2.2最优针板网络点集n的计算步骤：

3.2.2.1遍历测试点集p；

3.2.2.2以p为圆心，d为半径选择最佳的探针在针板上的放置点n(条件是：p’n之间的距离最短，并确保探针不会碰到附近的元器件)；

如果遇到无法满足步骤3.2.2.2的针点n，将由人工干预选择次优点，系统将自动适配其他针点位置；

2.3加工资料的产生步骤：

3.2.3.1获取针板网络点集n的位置信息；

3.2.3.2根据数控机床能够读取的数控系统g代码文件格式，输出指定格式的加工；

通过采用斜针和普通100mil相结合的方式，探针的弹力更大，穿透性更高，从而大幅提高了测试稳定性，另外由于斜针的制作工艺相比25mil探针的制作工业简单，成本也就相对更低，最后该结构相对传统夹具的结构维护难度和成本都更低。

通过本申请的自动计算探针倾斜角度并自动寻找可植100mil探针的位置，最后自动产生加工资料，图4到图6为案例示意图。

以上所述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例，本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换，均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。