一种新颖的电阻检测方法及电阻检测装置与流程

本发明涉及电阻检测方法及电阻检测装置。

背景技术：

传统电阻测试不能显示测试过程中的电阻变化，不能测试过程电阻，检测结果可参考性差。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种新颖的电阻检测方法及电阻检测装置，以解决现有技术存在的上述缺陷。

为达上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种新颖的电阻检测方法，其包括以下步骤：启动测试，以1us-100ms每次的速度对产品的电阻值进行采集；将采集到的电阻值生成阻值曲线，显示在显示屏上并保存；依据阻值曲线的数据判定良品和不良品。

优选地，所述电阻检测方法还包括：在显示阻值曲线的同时，还将电阻值转换成与阻值相对应的0-5v的模拟电压、0-10v的模拟电压或0-20ma的电流对外输出，供外部设备使用。

优选地，判定良品和不良品的方法包括：针对实时电阻的判定方法、针对开关类型产品的判定方法和针对阻值随时间或环境变化的产品的判定方法，其中，

针对实时电阻的判定方法为：取阻值曲线上的电阻值，分别与上限值和下限值比较，电阻值处于所述上限值和所述下限值之间时判定为良品，否则判定为不良品；

针对开关类型产品的判定方法为：统计阻值曲线上的闭合抖动区间的长度、闪断区间的长度、断开抖动区间的长度及相应的阻值，分别与对应的标准比较，三种区间的长度及相应的阻值均满足标准时判定为良品，否则判定为不良品；

针对阻值随时间或环境变化的产品的判定方法为：从阻值曲线上取多个电阻值，分别与对应的标准比较，均满足标准时判定为良品，否则判定为不良品。

其中，阻值随时间或环境变化的产品可以是热敏电阻、热电偶、变压器或电机等。

一种电阻检测装置，其包括：用于连接被测产品的检测探头；用于显示阻值曲线和检测结果的显示屏；以及与所述检测探头和所述显示屏连接的主控板；所述主控板包括存储器、cpu和电阻值检测电路，cpu执行程序时，所述电阻检测装置实现上述任意一项所述的电阻检测方法的步骤。

优选地，所述cpu为st公司的型号为stm32f767igt的cpu。

优选地，所述电阻检测装置还包括用于设定电阻值采集速度的功能程序。

优选地，所述电阻检测装置还包括用于设定被测产品的类型的功能程序。

与现有技术相比，本发明至少具有以下有益效果：

本发明检测方法及检测装置能够显示测试过程中的电阻变化，并能测试过程电阻，弥补了传统仪器不能测试过程电阻的缺陷，检测结果更准确。

其适用范围广，能够适用于多种产品的检测。

附图说明

图1为本发明电阻检测方法的流程图；

图2为一种no型的开关类型产品的阻值曲线；

图3为一种nc型的开关类型产品的阻值曲线；

图4为电阻值随时间或温度变化的产品的阻值曲线；

图5为电阻检测装置的电路框图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明做进一步说明。

请参照图1，本电阻检测方法包括以下步骤：

步骤s1、启动测试。其中，可以手动方式启动，包括但不限于通过按压“开始检测按键”等按键启动。也可以由外部设备提供触发信号启动测试。

步骤s2、以1us-100ms(时间可由用户设定)每次的速度对产品的电阻值进行采集。

步骤s3、将采集到的电阻值生成阻值曲线，显示并保存。可以但不限于用电流、电压来表征电阻值，例如：可以用0-5v之间的电压来表征不同的电阻值，或者用0-20ma之间的电流来表征不同的电阻值，并可形成与阻值相对应的0-5v的模拟电压、0-10v的模拟电压或0-20ma的电流对外输出，供外部设备使用。

步骤s4、依据阻值曲线判定良品和不良品。

进一步，在所述步骤s4中，包括下述判定方法：

方法一：取阻值曲线上的电阻值，分别与上限值和下限值比较，电阻值处于所述上限值和所述下限值之间时判定为良品，否则判定为不良品。此方法一适用于实时电阻检测。

方法二：统计阻值曲线上的闭合抖动区间的长度、闪断区间的长度、断开抖动区间的长度，分别与对应的标准比较，三种区间的长度均满足标准时判定为良品，否则判定为不良品。此方法二适用于开关类型产品的电阻检测。可分为两种：一种为no产品，另一种为nc产品。

图2中示了no产品的阻值曲线，其中，x轴为时间轴，y轴为电阻值轴，t1-t2为闭合抖动区间，t3-t4为闪断区间，t5-t6为断开抖动区间。

图3中示出了nc产品的阻值曲线，其中，x轴为时间轴，y轴为电阻值轴，t1-t2为断开抖动区间，t3-t4为闪断区间，t5-t6为闭合抖动区间。

方法三：从阻值曲线上取多个电阻值，分别与对应的标准比较，均满足标准时判定为良品，否则判定为不良品。此方法三适用于电阻值随时间变化或随温度等环境变化的被测产品，如热敏电阻、热电偶、变压器、电机等。

图4中示出了电阻值随时间或温度变化的被测产品的阻值曲线，其中，x轴为时间轴或温度轴，y轴为电阻值轴。

当被测产品为热敏电阻或热电偶时，从阻值曲线上取的多个所述电阻值为不同温度下的电阻值，对应的用于比较的标准值也各不相同。当取到的不同温度下的多个电阻值均满足对应的标准值时，判定为良品，否则判定为不良品。

当被测产品的电阻值随时间变化时，从阻值曲线上取的多个所述电阻值为不同时间的电阻值。当取到的不同时间的电阻值均满足对应的标准值时，判定为良品，否则判定为不良品。

请参照图5，一实施例的电阻检测装置包括：用于连接被测产品的检测探头1；用于显示阻值曲线和检测结果的显示屏3；以及与所述检测探头1和所述显示屏3连接的主控板2；所述主控板2包括存储器、cpu、电阻值检测电路，cpu执行程序时，所述电阻检测装置实现如上述任意一项所述的电阻检测方法的步骤。

进一步，所述cpu为st公司的型号为stm32f767igt的cpu。

进一步，所述电阻检测装置有用于设定电阻值采集速度的速度选择控制程序。

进一步，所述电阻检测装置有用于设定被测产品的类型的类型选择控制程序。

上述通过具体实施例对本发明进行了详细的说明，这些详细的说明仅仅限于帮助本领域技术人员理解本发明的内容，并不能理解为对本发明保护范围的限制。本领域技术人员在本发明构思下对上述方案进行的各种润饰、等效变换等均应包含在本发明的保护范围内。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种新颖的电阻检测方法及电阻检测装置，该方法包括以下步骤：启动测试，以1us‑100ms每次的速度对产品的电阻值进行采集；将采集到的电阻值生成阻值曲线，显示在显示屏上并保存；以及依据阻值曲线判定良品和不良品。该检测装置包括：用于连接被测产品的检测探头；用于显示阻值曲线和检测结果的显示屏；以及与所述检测探头和所述显示屏连接的主控板；所述主控板包括存储器、CPU、电阻值检测电路，CPU执行程序时，所述电阻检测装置实现上述的电阻检测方法的步骤。本发明能够显示测试过程中的电阻变化，检测结果更准确。

技术研发人员：田楚兵
受保护的技术使用者：田楚兵
技术研发日：2019.05.17
技术公布日：2019.07.26