技术总结
本发明公开了一种针对铁氧体的高精度低频复数磁导率测量装置及方法，是一种尤其适用于铁氧体低频复数磁导率测试领域使用的高精度测量装置及方法。本发明针对铁氧体磁性材料的低频复数磁导率测量过程中受外界磁场、温度波动、样品磁化状态以及电阻测量的影响，导致其精度不高，将绕有线圈的铁氧体测试样环放置在磁屏蔽桶内进行测试，使用恒温箱保持温度恒定，样环上增加消磁线圈，测量前对样环进行消磁操作，计算复数磁导率时，对串联电阻与测量频率进行线性拟合获得线圈直流电阻，以减小电阻测量引入的误差。该装置及方法，减小了外界磁场及温度波动对测量的影响，减小了电阻测量误差，提高了低频复数磁导率的测量精度。
技术研发人员：陆吉玺;杨可;赵俊鹏;马丹跃;邢博铮;丁铭
受保护的技术使用者：北京航空航天大学
技术研发日：2019.07.10
技术公布日：2019.09.20