技术特征：
技术总结
本申请公开了一种抬头显示器测试方法，包括：获取双目成像装置中第一成像装置采集的位于虚像面中亮度点阵的第一图像；获取双目成像装置中第二成像装置采集的亮度点阵的第二图像；根据第一图像、第二图像，确定亮度点阵中的中心亮度点的三维空间坐标；根据三维空间坐标，确定虚像面距第一成像装置的距离；其中，第一成像装置的第一成像芯片和第二成像装置的第二成像芯片位于同一平面，亮度点阵为奇数行奇数列亮度点阵。本申请中的抬头显示器测试方法，避免使用现有技术中通过调整相机焦距来判断画面清晰或模糊的界限来测量虚像面的距离的方式，提升了虚像面距离测试的准确性，且不需要调整相机的景深，缩短了测试时间。
技术研发人员：阮亚飞;阮鹏飞
受保护的技术使用者：上海科涅迩光电技术有限公司
技术研发日：2019.07.25
技术公布日：2019.10.22