触控面板检测设备和系统的制作方法

本发明涉及检测技术，尤其涉及一种触控面板检测设备和系统。

背景技术：

随着一体机、大尺寸笔记本电脑等装置采用触控屏，触控面板的尺寸逐渐增大，所需要处理的数据量也逐渐增加。因此，需要触控面板具有更小的阻抗，以适应大尺寸触控屏的需求。金属网格传感器(metal－mesh－sensor，简称mmsensor)是目前新兴的一种触控感测器。相比传统触控技术(以氧化铟锡为触控材料)，mmsensor触控技术中金属网格是由极细的金属线交叉组成，其阻抗通常小于10欧姆，是制作大尺寸触控屏的首选技术，此外金属网格传感器还具有低功耗、触控灵敏、使用寿命长，以及柔性可弯曲、防水防爆、无污染等特性。这些独有的特性使mmsensor逐步成为触摸领域的新宠。

在触控面板制造过程中，通常需要对金属网格中线路的通断进行检测。现有的相关技术中，对触控面板中金属网格的检测主要是非接触式的逐行扫描检测。通过对每行两端检测信号有无，确定该通道的通断情况。

然而，现有的检测设备的检测可靠性还不够高。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种触控面板检测设备和系统，提高了检测可靠性。

本发明实施例的第一方面，提供一种触控面板检测设备，用于对所述触控面板上的金属网格进行检测，其中，所述金属网格包括多个行方向通道，和与所述行方向通道绝缘相交的多个列方向通道，所述行方向通道和所述列方向通道分别包括相互连接的若干个触控单元，所述触控面板检测设备包括：

信号收发组件，所述信号收发组件相对所述金属网格可移动设置且所述信号收发组件包括信号发生单元和信号接收单元；所述信号发生单元和所述信号接收单元用于以预设的相对位置布置在所述金属网格的同一面，并通过分别与所述金属网格的电容耦合发送和接收信号；以及

缺陷检测单元，所述缺陷检测单元用于根据所述信号接收单元接收到的检测信号，检测所述金属网格中各触控单元是否有缺陷，并确定缺陷位置。

可选地，所述信号收发组件的检测宽度大于单个所述触控单元在宽度方向上的尺寸，且小于或等于3个所述触控单元在宽度方向上的尺寸，其中，所述检测宽度是所述信号收发组件的检测区域在宽度方向上的尺寸，所述宽度方向是与检测方向相垂直的方向。

可选地，所述信号收发组件的检测长度大于或等于单个所述触控单元在长度方向上的尺寸，其中，所述检测长度是所述信号收发组件的检测区域在长度方向上的尺寸，所述长度方向是与检测方向一致的方向。

可选地，所述触控面板检测设备包括多个所述信号收发组件且多个所述信号收发组件在宽度方向上排列设置；

多个所述信号收发组件的检测区域之间等间隔分布，且相邻两个所述信号收发组件的中心间距，为n个所述触控单元在宽度方向上的尺寸，其中，所述宽度方向是与检测方向相垂直的方向，所述n为大于或等于2的整数。

可选地，所述信号收发组件包括单个信号发生单元和2个信号接收单元；

所述2个信号接收单元沿检测方向设置，所述信号发生单元设置在所述2个信号接收单元之间，且所述信号发生单元分别与所述2个信号接收单元之间的距离相同。

可选地，所述单个信号发生单元与所述金属网格的电容耦合位置，和所述2个信号接收单元与所述金属网格的电容耦合位置，在所述检测方向上对所述金属网格的行方向通道或列方向通道中心对齐。

可选地，所述缺陷检测单元，包括信号比较单元和处理单元；

所述信号比较单元，用于从所述信号接收单元获取检测信号，并根据所述检测信号的波形的变化情况确定异常波段；

所述处理单元，用于根据所述异常波段对应时刻所述信号收发组件的检测位置，确定所述金属网格中存在缺陷的触控单元，并且，

若确定所述异常波段的幅值大于相邻的多个波段的平均幅值，则判断所述异常波段和所述相邻的多个波段的幅值方差是否大于预设阈值；若是，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元存在残留缺陷，若否，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元与相邻通道存在短接缺陷；

若确定所述异常波段的幅值小于相邻的多个波段的平均幅值，则判断所述异常波段的幅值是否为0；若确定所述异常波段的幅值为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在主路断开缺陷，若确定所述异常波段的幅值不为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在支路断开缺陷。

可选地，所述信号收发组件还包括2个辅助接收单元；

所述2个辅助接收单元在与所述检测方向相垂直的方向对称设置在所述信号发生单元的两侧，且所述2个辅助接收单元之间的检测距离小于或等于2个所述触控单元在检测宽度上的尺寸。

可选地，所述缺陷检测单元，包括信号比较单元和处理单元；

所述信号比较单元，用于从所述信号接收单元获取检测信号，从所述2个辅助接收单元获取第一辅助信号和第二辅助信号，并根据所述检测信号的波形的变化情况确定异常波段；以及，根据所述异常波段对应的检测时刻，在所述第一辅助信号和第二辅助信号的波形中分别确定第一辅助波段和第二辅助波段；

所述处理单元，用于根据所述异常波段对应时刻所述信号收发组件的检测位置，确定所述金属网格中存在缺陷的触控单元，并且，

若确定所述异常波段的幅值大于相邻的多个波段的平均幅值，则判断所述第一辅助波段的幅值或所述第二辅助波段的幅值是否大于0；若是，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元与相邻通道存在短接缺陷；若否，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元存在残留缺陷；

若确定所述异常波段的幅值小于相邻的多个波段的平均幅值，则判断所述异常波段的幅值是否为0；若确定所述异常波段的幅值为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在主路断开缺陷，若确定所述异常波段的幅值不为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在支路断开缺陷。

本发明实施例的第二方面，提供一种触控面板检测系统，包括运动设备和本发明第一方面及第一方面各种可能设计的所述触控面板检测设备；

其中，所述运动设备用于控制所述信号收发组件沿所述金属网格的行方向通道的中心线和列方向通道的中心线移动，并将用于指示所述信号收发组件的检测位置的定位信息发给所述缺陷检测单元。

本发明实施例提供的一种触控面板检测设备和系统，用于对所述触控面板上的金属网格进行检测，其中，所述金属网格包括多个行方向通道，和与所述行方向通道绝缘相交的多个列方向通道，所述行方向通道和所述列方向通道均由相互连接的触控单元组成。所述触控面板检测设备包括：信号收发组件和缺陷检测单元；其中，所述信号收发组件包括信号发生单元、信号接收单元；所述信号发生单元和所述信号接收单元，用于以预设的相对位置布置在所述金属网格的同一面，并通过分别与所述金属网格的电容耦合发送和接收信号；所述缺陷检测单元用于根据所述信号接收单元接收到的检测信号，对所述金属网格中各触控单元进行检测，由此实现对触控面板的金属网格上的缺陷检测，并能够实现缺陷在触控单元的定位，提高了检测可靠性。

附图说明

图1a是一种金属网格的结构示意图；

图1b是图1a所示金属网格的微观结构示意图；

图2是本发明实施例提供一种触控面板检测设备结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种触控面板检测设备的检测原理示意图

图4是本发明实施例提供一种信号收发组件对金属网格进行检测的示意图；

图5是本发明实施例提供的一种具有2个信号接收单元的信号收发组件结构示意图；

图6是本发明实施例提供的另一种触控面板检测设备结构示意图；

图7是本发明实施例提供的几种缺陷类型对应的检测信号波形对比示例；

图8是本发明实施例提供的一种具有2个辅助接收单元的信号收发组件结构示意图；

图9是本发明实施例提供的另一种具有2个辅助接收单元的信号收发组件结构示意图。

图中标识为：

10-金属网格；

20-触控面板检测设备；

21-信号收发组件；

211-信号发生单元；

212-信号接收单元；

213-辅助接收单元；

22-缺陷检测单元；

221-信号比较单元；

222-处理单元。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个、三个等，除非另有明确具体的限定。应当理解，在本发明中，“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列单元的系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些产品或设备固有的其它单元。取决于语境，如在此所使用的“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”或“响应于检测”。

下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。

金属网格传感器是以金属网格作为传感器的导电功能层实现感应和驱动功能。在采用金属网格传感器的触控面板的制作过程中，对其中金属网格进行电学检测是一个重要环节。参见图1a，是一种金属网格的结构示意图。图1中以格子构成的菱形块，示意了金属网格10在行方向和列方向排列的触控单元，及触控单元构成的通道。图1a中以虚线框选出在列方向通道上的触控单元，触控单元沿虚线的部分为列方向通道的主路，其余部分均为支路。其中，一种支路残留如图1a所示。参见图1b，是图1a所示金属网格的微观结构示意图。从图1b中可见，金属网格中所有触控单元都是由相同的方格形状镂空的走线组成，且方格结构中以不连续的断口实现图1b中不相连的触控单元之间的间隙。在图1a中，行方向的触控单元构成行方向通道，列方向的触控单元构成列方向通道。目前，金属网格10通常包括多个行方向通道，和与所述行方向通道绝缘相交的多个列方向通道，所述行方向通道和所述列方向通道分别包括相互连接的若干个触控单元。行方向通道与列方向通道之间相交处为绝缘交叠，行方向通道与列方向通道上的最小重复单元即为触控单元。参见图1b，每个触控单元内设置有用于感应电信号的镂空走线，其镂空处为下方像素出光提供了间隙。金属网格10中行方向通道与列方向通道采用的金属，例如可以是钛铝钛，或者钼等，本发明不对此进行限定。

金属网格传感器在使用过程中，如果金属网格的行方向通道与列方向通道上单独存在断开缺陷或残留缺陷，或者相邻通道之间发生短接，都会影响触控效果。其中，断开缺陷又分为主路断开和支路断开。目前相关技术中的非接触式电学检测技术通常采用切割式逐行扫描，对于通道的主路异常虽可以测试出，但在通道的支路异常时，由于整条通道仍可以导通，其缺陷将无法测试出。且现有的检测设备仅能将检测定位在通道级别，缺陷定位不够准确。

为了提高对触控面板的检测可靠性和准确性，本发明公开了一种触控面板检测设备，通过至少一个小尺寸的信号收发组件与金属网格的电容耦合，利用感应电容的检测信号，实现对各触控单元进行检测。下面结合附图和具体实施例对本发明的各种实现方式进行介绍和举例。

参见图2，是本发明实施例提供一种触控面板检测设备结构示意图。如图所示的触控面板检测设备20，用于对所述触控面板上的金属网格10进行检测。其中，所述触控面板检测设备20包括：信号收发组件21和缺陷检测单元22。信号收发组件21用于与金属网格10电容耦合，以获取经过检测区域的检测信号，所述信号收发组件相对所述金属网格可移动设置，通过信号收发组件的移动实现对金属网格的全面检测。其中，信号收发组件21与金属网格之间的耦合距离可以是100um±10um的范围，具体可根据实际情况调整电容耦合的距离。

具体地，信号收发组件21包括信号发生单元211和信号接收单元212。信号发生单元211用于发出原始信号，原始信号在金属网格10上产生检测信号，信号接收单元212用于在金属网格10上与信号发生单元211固定距离的位置，接收检测信号。

参见图3，图3为本发明实施例提供的触控面板检测设备的检测原理示意图。如图3所示，当信号发生单元211和信号接收单元212均置于待测触控面板的金属网格上方时，信号发生单元211的发射面与待测金属网格之间的距离为d1，信号接收单元212的接收面与待测金属网格之间的距离为d2。因此，在信号发生单元211和信号接收单元212之间施加高频信号时，信号发生单元211的发射面与待测金属网格可以近似构成平板电容c1。信号接收单元212的接收面与待测金属网格可以近似构成平板电容c2。信号发生单元211的发射面和信号接收单元212的接收面作为平板电容的其中一个极板，可以由金属材料制成。

根据电容通高频信号的原理，通过向信号发生单元211的发射面加载高频电压信号，则高频电压信号可以经平板电容c1，待测金属网格以及平板电容c2，最后由信号接收单元212的接收面接收。图3所示的测量对象为该高频电压信号所经过的金属网格。若待测金属网格无缺陷位置，信号接收单元212接收到的检测信号与信号发生单元211加载的高频电压信号的波形的波动规律一致。

参见图4，图4是本发明实施例提供一种信号收发组件对金属网格进行检测的示意图。如图4所示，信号发生单元211和信号接收单元212，用于以预设的相对位置布置在所述金属网格10的同一面，并通过分别与所述金属网格10的电容耦合发送和接收信号。从图4可以看出，该信号发生单元211和信号接收单元212的布设面积仅覆盖金属网格，只能判断布设面积内金属网格的情况；为了实现金属网格的全面检测，本发明所提供的信号发生单元211和信号接收单元212相对于金属网格可移动设置。如此，预设的相对位置可以理解为相对位置固定不变，这就要求在移动扫描检测的过程中，信号发生单元211和信号接收单元212同步移动，以减少因相对位置改变而对检测精确度的影响。

移动扫描检测的过程，例如是将信号收发组件21可移动地设置在待测金属网格的上方，与待测金属网格之间保持预定的间隙，并在信号收发组件21加载稳定的高频信号后与下方待测金属网格形成电容耦合通路。该电容耦合通路经过的局部金属网格则为图3所示的待测金属网格。控制信号收发组件21沿待测金属网格的行方向移动(图4所示的x方向)，从而将经过的局部金属网格，并在移动的过程中对信号接收单元212接收的检测信号进行采集。在信号收发组件21移动到或接近缺陷位置时，检测信号波形会出现异常。可以通过检测信号波形，判断待测金属网格上的触控单元是否有缺陷，并确定缺陷位置。

上述金属网格10本身不另外加电，而是由信号发生单元211发出原始信号而耦合获电，再流经电性相连的线路后由信号接收单元212接收。可以简单地将信号收发组件21与金属网格10理解为电容结构。由于电容值的大小与感应极板的面积成正比的原理，电容极板的面积越大，电容值越大，可以理解为电信号的幅值越大。假如信号发生单元211和信号接收单元212之间检测区域中，金属网格10存在断开缺陷(包括主路断开缺陷和支路断开缺陷)，那么耦合面积比正常耦合面积小，信号接收单元212接收到的检测信号幅值小于正常幅值。又假如信号发生单元211和信号接收单元212之间检测区域中，金属网格存在残留缺陷(包括造成相邻通道短接的残留缺陷和不影响电性能的残留缺陷)，那么耦合面积比正常耦合面积大，信号接收单元212接收到的检测信号幅值大于正常幅值。由此，可以实现对金属网格的非接触检测。

与信号收发组件21相连的缺陷检测单元22，用于根据所述信号接收单元212接收到的检测信号，对所述金属网格10中各触控单元进行检测。如图3所示的检测方式中，信号收发组件21可以是以触控单元为最小检测单元。信号收发组件21以触控单元为最小移动距离单位，其检测的中线例如是与被测触控单元所在通道的中心线重合，以提高信号收发组件21对被测的触控单元的覆盖面积和检测准确性。缺陷检测单元22通过对信号接收单元212接收到的检测信号进行分析，从而对检测信号对应的触控单元是否存在缺陷，以及可能存在的缺陷类型进行判断。具体的分析方式可参见后续对缺陷检测单元22的实施例举例。

本实施例提供了一种触控面板检测设备20，用于对触控面板上的金属网格10进行检测，其中，金属网格10上的行方向通道和列方向通道均由相互连接的触控单元组成。在触控面板检测设备20中，信号收发组件21包括信号发生单元211、信号接收单元212；信号发生单元211和信号接收单元212，用于以预设的相对位置布置在金属网格10的同一面，并通过分别与金属网格10的电容耦合发送和接收信号；缺陷检测单元22用于根据信号接收单元212接收到的检测信号，对金属网格10中各触控单元进行检测，由此实现对触控面板的金属网格上的缺陷检测，并能够实现缺陷在触控单元的定位，提高了检测可靠性。

为了提高上述图4所示实施例中的信号收发组件21的检测准确性和可靠性，以下为信号收发组件21的一些尺寸的可选实施例。

在一些实施例中，信号收发组件21的检测宽度大于单个所述触控单元在宽度方向上的尺寸，且小于或等于3个所述触控单元在宽度方向上的尺寸，其中，所述检测宽度是所述信号收发组件21的检测区域在在宽度方向上的尺寸，所述宽度方向是与检测方向相垂直的方向。以图4中对x方向的扫描检测为例，检测方向为x方向，宽度方向则为y方向。检测宽度可以是信号收发组件21可以检测到的y方向的最大距离。这里的检测区域可以具体以试验获取为准。通过对检测宽度的限定，保证了信号收发组件21可以跨在两个通道之间，或三个通道之间，由此实现对触控单元与相邻通道之间是否存在短接缺陷的检测。在本实施例的一些实现方式中，信号发生单元211的宽度为一个触控单元在宽度方向上的尺寸；信号接收单元212的宽度大于单个所述触控单元在宽度方向上的尺寸，且小于或等于3个所述触控单元在宽度方向上的尺寸。

在一些实施例中，信号收发组件21的检测长度大于或等于单个所述触控单元在长度方向上的尺寸，其中，所述检测长度是所述信号收发组件21的检测区域在在长度方向上的尺寸，所述长度方向是与检测方向一致的方向。以图3中对x方向的扫描检测为例，检测方向和长度方向为x方向。检测长度可以是信号收发组件21可以检测到的x方向的最大距离。例如，在信号收发组件21包含1个信号发生单元211和1个信号接收单元212的实施例中，信号收发组件21的检测长度可以理解为金属网格10上与该1个信号发生单元211和该1个信号接收单元212，分别进行耦合的x方向距离。这里的检测区域也可以具体以试验获取为准。通过对检测长度的限定，使信号收发组件21的检测信号，每次可以对至少一个完整的触控单元进行检测，且每个触控单元都至少部分被重叠测试，提高检测的可靠性和准确性。

在一些实施例中，可以设置多个信号收发组件21以同时对多行/列进行扫描检测，例如所述触控面板检测设备包括多个所述信号收发组件21，且多个所述信号收发组件21在宽度方向上排列设置，其中，所述宽度方向是与检测方向相垂直的方向。而为了提高检测的准确性，以每个信号收发组件21检测一行各行方向通道或列方向通道，多个所述信号收发组件21的检测区域之间等间隔分布，且相邻两个所述信号收发组件21的中心间距，为n个所述触控单元在宽度方向上的尺寸，所述n为大于或等于2的整数。例如，x方向检测时，中心间距等于2个触控单元在宽度方向上的尺寸，则检测x方向的电路需要至少扫描3次，从而保证检测精确度及定位高精度。通过多个信号收发组件21同步检测，提高了检测效率。并且，通过对中心间距的限定，整数倍的检测次数能正好覆盖所有面积，进一步提高了检测的可靠性。

在上述实施例中，信号收发组件21可以包括1个信号发生单元211和1个信号接收单元212，但本实施例不限于此。还可以设置信号收发组件21包括单个信号发生单元211和2个信号接收单元212。参见图5，是本发明实施例提供的一种具有2个信号接收单元的信号收发组件结构示意图。如图5所示，2个信号接收单元212沿检测方向设置，所述信号发生单元211设置在所述2个信号接收单元212之间，且所述信号发生单元211分别与所述2个信号接收单元212之间的距离相同。通过在检测方向的前后各设置一信号接收单元212，同时对信号发生单元211前后两个检测区域进行检测，在扫描检测过程中实现重叠区域的重复检测，提高检测的全面性和可靠性。

继续参考图5所示的实施例，可选地，单个信号发生单元211与所述金属网格10的电容耦合位置，和所述2个信号接收单元212与所述金属网格10的电容耦合位置，在所述检测方向上对所述金属网格10的行方向通道或列方向通道中心对齐。通过信号发生单元211与2个信号接收单元212在一条直线上，进一步提高检测定位的准确性。

参见图6，是本发明实施例提供的另一种触控面板检测设备结构示意图。在上述各种实施例的基础上，在一些实施例中，信号收发组件21可以包括信号发生单元211和信号接收单元212。与信号收发组件21相连的缺陷检测单元22，具体可以包括如图6所示的信号比较单元221和处理单元222。

在图6所示的一些实施例中，信号比较单元221，用于从所述信号接收单元212获取检测信号，并根据所述检测信号的波形的变化情况确定异常波段。参见图7，是本发明实施例提供的几种缺陷类型对应的检测信号波形对比示例。在图7所示的波形中，正常波形应为正弦波，而幅值增大和减小的波段，都是对应位置存在缺陷的异常波段。信号波形是时域的波形，每个波段对应检测位置都是确定的，可以通过计算信号收发组件21的移动位置，来确定存在缺陷的触控单元。

继续参见图6所示的处理单元222，用于根据所述异常波段对应时刻所述信号收发组件21的检测位置，确定所述金属网格10中存在缺陷的触控单元，并且对所述异常波段的幅值是否大于相邻的多个波段的平均幅值进行判断。

(1)参见图7，若确定所述异常波段的幅值大于相邻的多个波段的平均幅值，则处理单元222判断所述异常波段和所述相邻的多个波段的幅值方差是否大于预设阈值：

若是，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元存在残留缺陷；若否，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元与相邻通道存在短接缺陷。

(2)参见图7，若确定所述异常波段的幅值小于相邻的多个波段的平均幅值，则处理单元222判断所述异常波段的幅值是否为0：

若确定所述异常波段的幅值为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在主路断开缺陷；若确定所述异常波段的幅值不为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在支路断开缺陷。

由此，本实施例中的触控面板检测设备20可以对触控单元内残留和相邻通道短接的缺陷进行区分，也可以对主路和支路的断开缺陷进行区分，具有较高的缺陷检测能力，提高了对触控面板的检测可靠性。

在信号收发组件21包括1个信号发生单元211和2个信号接收单元212的实施例中，其实现原理可参考信号收发组件21包括1个信号发生单元211和1个信号接收单元212的实施例，而缺陷检测单元22可以是2个，分别对2个信号接收单元212的检测信号进行分析，其实现原理的效果与上述类似，在此不做赘述。

在上述实施例中，信号收发组件21可以是由1个信号发生单元211和1个信号接收单元212组成，也可以是由1个信号发生单元211和多个信号接收单元212组成。

在具有多个信号接收单元212的实施例中，参见图8，是本发明实施例提供的一种具有2个辅助接收单元的信号收发组件结构示意图。参见图8，是本发明实施例提供的另一种具有2个辅助接收单元的信号收发组件结构示意图。图8和图9中，以实线菱形示意行方向通道上连通的触控单元，以虚线菱形示意列方向通道上连通的触控单元。这里的辅助接收单元213结构与信号接收单元212相同，都是为了对金属网格10上的检测信号进行接收，但辅助接收单元213的作用更多地是对缺陷类型的判断提供辅助参考。具体地，信号收发组件在包括信号发生单元211和信号接收单元212的基础上，还可以包括2个辅助接收单元213。参见图8，所述2个辅助接收单元213在与所述检测方向相垂直的方向对称设置在所述信号发生单元211的两侧，且所述2个辅助接收单元213之间的检测距离小于或等于2个触控单元在检测宽度上的尺寸。辅助接收单元的检测距离是沿与检测方向垂直方向所能检测的距离。其中，检测距离是2个辅助接收单元213与金属网格电容耦合位置之间的距离。在一种具体的实现方式中，本实施例中的信号接收单元212检测宽度为一个触控单元的宽度；一个辅助接收单元213的检测宽度小于一个触控单元的宽度。位置布局例如是：信号接收单元212和信号发生单元211分别在被测通道的正中，而2个辅助接收单元213在信号接收单元212的两侧，并分别在两侧通道的中心线上。

图8和图9所示意的信号收发组件都是在行方向进行检测时的布局，信号收发组件包括2个信号接收单元212、2个辅助接收单元213以及1个信号发生单元211。金属网格分别与两个相对单元电容耦合，两个耦合区域远离信号发生单元的边缘之间的距离为该两个相对单元的检测距离。该两个相对单元，可以是2个信号接收单元212，也可以是2个辅助接收单元213。其中，2个信号接收单元212之间的检测距离，形成了信号收发组件的检测长度。图8示意了信号收发组件的检测长度为3个触控单元。而图9示意信号收发组件的检测长度为5个触控单元。2个辅助接收单元213之间的检测距离，形成了信号收发组件的检测宽度。图8和图9均示意信号收发组件的检测宽度为3个触控单元。上述长度方向即是检测方向，宽度方向是与检测方向相垂直的方向。图8和图9仅为信号收发组件的检测长度和检测宽度的示意，本发明不限于此。

如果触控单元与其相邻的前一行/列通道短接，那么设置在靠近该前一行/列通道的辅助接收单元213上的波形幅值就会增大；同样地，如果触控单元与其相邻的后一行/列通道短接，那么设置在靠近该后一行/列通道的辅助接收单元213上的波形幅值就会增大。通过在检测方向的垂直方向设置2各辅助接收单元213，可以提高对相邻通道短接缺陷的检测准确性和可靠性。

对于图8、图9所示具有辅助接收单元213的实施例，其采用的缺陷检测单元(图中未示出)，与图6所示的缺陷检测单元22的组成结构类似，同样可以包括信号比较单元221和处理单元222，但各单元的功能不同。

在具有辅助接收单元213的实施例中，信号比较单元221，用于从所述信号接收单元212获取检测信号，从所述2个辅助接收单元213获取第一辅助信号和第二辅助信号，并根据所述检测信号的波形的变化情况确定异常波段；以及，根据所述异常波段对应的检测时刻，在所述第一辅助信号和第二辅助信号的波形中分别确定第一辅助波段和第二辅助波段。在波形幅值增大的情况下，通过第一辅助信号和第二辅助信号，可以辅助提高对缺陷类型判断准确性。

图6所示的处理单元222，用于根据所述异常波段对应时刻所述信号收发组件21的检测位置，确定所述金属网格中存在缺陷的触控单元，并且对异常波段的幅值是否大于相邻的多个波段的平均幅值进行判断。

(1)继续参见图7，若确定所述异常波段的幅值大于相邻的多个波段的平均幅值，则判断所述第一辅助波段的幅值或所述第二辅助波段的幅值是否大于0：

若是，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元与相邻通道存在短接缺陷；若否，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元存在残留缺陷。

在一些情况下，在单个通道内出现残留缺陷，可能不会影响触控面板的电学性能，例如在触控单元主路或支路上的残留。但残留部分导致局部通光区域减少，其下方像素出光被遮挡，造成局部暗点，影响显示效果。因此，对触控单元主路或支路上的残留缺陷的检测十分重要。通过辅助接收单元213，提高了对触控单元与相邻通道存在短接缺陷、触控单元存在残留缺陷的检测准确性，对相邻通道短接缺陷的检测具有更高的准确性和可靠性。

(2)继续参见图7，若确定所述异常波段的幅值小于相邻的多个波段的平均幅值，则判断所述异常波段的幅值是否为0：

若确定所述异常波段的幅值为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在主路断开缺陷；若确定所述异常波段的幅值不为0，则确定所述缺陷类型为所述检测位置对应的触控单元中存在支路断开缺陷。

在上述各种实施例的基础上，本发明还提供一种触控面板检测系统，包括运动设备和上述任一实施例中所述的触控面板检测设备20。

其中，所述运动设备用于控制所述信号收发组件21沿所述金属网格10的行方向通道的中心线和列方向通道的中心线移动，并将用于指示所述信号收发组件21的检测位置的定位信息发给所述缺陷检测单元22。

这里的运动设备例如可以是具有x移动轴和y移动轴的运动设备，通过x移动轴带动触控面板检测设备20在x方向上对触控面板上的金属网格10进行检测，然后通过y移动轴带动触控面板检测设备20在y方向上对触控面板上的金属网格10进行检测。例如运动设备可以包括载台和与载台配合的运动臂，运动设备控制信号收发组件21沿x方向测试完后，可以将承载金属网格的载台旋转90度后，再进行y方向测试。也可以是以运动臂控制信号收发组件21从x方向的扫描改变为y方向的扫描。在此不对运动设备的实现方式进行限定。

在本发明的描述中，需要理解的是，所使用的术语“中心”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“顶端”、“底端”、“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”“轴向”、“周向”等指示方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的位置或原件必须具有特定的方位、以特定的构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成为一体；可以是机械连接，也可以是电连接或者可以互相通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以使两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。