1.一种超声波纵波反射法与衍射时差法联合检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
步骤1，将tofd探头和爬波探头安装在扫查架上；
步骤2，设置tofd探头参数和爬波探头参数；
步骤3，对工件进行扫查；
步骤4，扫查结束后对图像进行分析。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤1中，所述tofd探头为曲面tofd探头，采用的是曲面晶片(15)，晶片角度为40-45°，优选基本为42°；
所述曲面tofd探头的上扩散角在75～80°之间，优选为80°，下扩散角在35～40°之间，优选为35°；扩散范围变化为35-45°，优选为45°；
所述曲面tofd探头的尺寸为(10-20)mm×(10-20)mm，优选为15mm×15mm；
所述曲面tofd探头的频率为3-5mhz，优选为3mhz。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤1中，tofd探头包括一个发射探头和一个接收探头，tofd探头的发射探头和接收探头对称安装在扫查架的左右两侧，并且关于焊缝的中心对称；
爬波探头和发射探头设置在扫查架的同一侧，在与待测工件的待测焊缝平行的方向上，爬波探头和发射探头之间的距离为15-20mm，在与待测工件的待测焊缝相垂直的方向上，爬波探头到焊缝坡口的距离为10～15mm。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤2中，设置tofd探头参数，将tofd探头模式设置为衍射时差和脉冲回波；
在衍射时差模式下，tofd探头中心距离按照被检工件厚度(t/2)×tanθ计算，其中，t为被检工件厚度，θ为曲面晶片角度；
探头频率设置为3-5mhz，优选为3mhz；
声速设置为5900-5940m/s，优选5920m/s；
调节探头范围，使直通波位于设备频率左侧边缘；
调节探头增益，直到探头放置于工件表面的直通波、底面反射波显示出来。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：在脉冲回波模式下，
探头频率设置为3-5mhz，优选为3mhz；
声速设置为5900-5940m/s，优选5920m/s；
设置探头增益，使校准试块上横孔的最低反射回波提高至至少满屏高度的20％以上。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：步骤3中，tofd探头同时进行衍射时差模式和脉冲回波模式扫查；
在衍射时差模式下，发射探头和接收探头以一发一收模式工作，用以检测待检工件中除近表面和底表面外的缺陷；
在脉冲回波模式下，发射探头同时执行发射和接收功能，用以检测待检工件中除近表面外的缺陷。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤4中，对超声波纵波反射法与衍射时差法同时对应缺陷显示进行比较，用以定位缺陷在焊缝中的水平位置。
8.一种tofd探头，其特征在于：所述tofd探头采用的是曲面晶片(15)，所述曲面晶片(15)为凸曲面晶片，晶片角度为40-45°，优选基本为42°。
9.根据权利要求8所述的探头，其特征在于：所述曲面tofd探头的上扩散角在75～80°之间，优选为80°，下扩散角在35～40°之间，优选为35°；扩散范围变化为35-45°，优选为45°。
10.根据权利要求8所述的探头，其特征在于：所述曲面tofd探头的尺寸为(10-20)mm×(10-20)mm，优选为15mm×15mm；
所述曲面tofd探头的频率为3-5mhz，优选为3mhz。