技术总结
一种基于频域处理的亚波长级分辨力超声成像方法，属于无损检测技术领域。该方法采用相控阵超声检测仪、计算机和相控阵超声探头组成的超声检测系统。针对亚波长级间距缺陷超声成像问题，使用相控阵超声检测仪采集全矩阵数据，利用低阶、宽有效频带自回归谱外推方法对采集的全矩阵数据进行处理，压缩超声波时域脉冲宽度，分离混叠信号。选取多种自回归阶数和有效频带组合实施外推处理和全聚焦成像加权，实现亚波长级超声成像分辨力。该方法成像分辨力高、鲁棒性强，具有较高的工程应用价值。
技术研发人员：金士杰;林莉;史思琪;孙旭
受保护的技术使用者：大连理工大学
技术研发日：2019.11.13
技术公布日：2020.01.14