基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置及手机支架的制作方法

文档序号:18925947发布日期:2019-10-19 04:01阅读:535来源:国知局
基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置及手机支架的制作方法

本实用新型涉及手机支架及电机检测技术领域,尤其涉及的是基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置及手机支架。



背景技术:

现有技术中的手机支架的可以根据手机尺寸的大小自动调节手机支架的夹持长度和宽度,以适配不同尺寸的手机,手机支架自动调节时一般是根据手机尺寸通过电机转动控制调节,但是在电机转动过程中当手机支架拉伸到最大开度或者压缩到最小开度是可能电机还继续在转动,很容易发生电机堵转的情况,而电机堵转超过一定时间后很容易烧坏电机,甚至损坏其他传动件,导致手机支架无法再正常工作,也就是说,现有技术中缺乏有效检测电机有没有发生堵转的装置。

因此,现有技术还有待于改进和发展。



技术实现要素:

鉴于上述现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置及手机支架,旨在解决现有技术中无法有效检测电机堵转的不足。

本实用新型的技术方案如下:

一种基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置及手机支架,所述检测装置包括:用于驱动手机支架的夹持臂拉伸或者收缩的电机,所述电机设置在电路板下方并与所述电路板电连接;在所述夹持臂中部设置有一容纳腔,所述容纳腔中设置有一用于产生磁力线的磁铁;在所述电路板一侧开设有一开口槽,在所述开口槽中设置有一用于检测所述磁铁移动的霍尔元件。

进一步地,所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置,其中,所述磁铁为圆柱形磁铁。

进一步地,所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置,其中,所述圆柱形磁铁竖直设置在所述容纳腔内;所述圆柱形磁铁的轴线方向与所述电路板的水平方向垂直。

进一步地,所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置,其中,所述霍尔元件朝向所述磁铁方向的一面为感应面。

进一步地,所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置,其中,所述霍尔元件初始位置设置在所述磁铁正上方。

进一步地,所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置,其中,所述开口槽设置在所述电路板对应所述磁铁上方的一侧。

进一步地,所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置,其中,所述霍尔元件的截面形状为矩形。

进一步地,所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置,其中,所述霍尔元件为线性霍尔元件。

一种手机支架,所述手机支架包括如上所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置。

与现有技术相比,本实用新型通过将磁铁设置在手机支架的夹持臂上,在磁铁上方的电路板上设置感应磁场变化的霍尔元件,可以检测电机转动控制手机支架的夹持臂的开合情况,避免电机发生堵转从而烧坏的风险,当夹持臂拉伸到最大位置或者收缩到最小位置的时候及时控制电机停止转动,检测精度高,效果好,有效防止电机烧坏情况的发生。

附图说明

图1是本实用新型的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置的结构示意图;

图2是本实用新型的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置中电路板和霍尔元件的相关结构的示意图;

图3是本实用新型的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置中霍尔元件和磁铁的结构示意图;

图4是本实用新型的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置中霍尔元件和磁铁的爆炸示意图;

图中:检测装置100,电机10,电路板20,夹持臂30,容纳腔40,磁铁50,霍尔元件60。

具体实施方式

本实用新型提供了一种基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置及手机支架,为使本实用新型的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实例对本实用新型进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

如图1-图4所示,本实用新型提供了一种基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置100,所述检测装置100包括:用于驱动手机支架的夹持臂30拉伸或者收缩的电机10,所述电机10设置在电路板20下方并与所述电路板20电连接;在所述夹持臂30中部设置有一容纳腔40,所述容纳腔40中设置有一用于产生磁力线的磁铁50;在所述电路板20一侧开设有一开口槽,在所述开口槽中设置有一用于检测所述磁铁50移动的霍尔元件60。

进一步地,所述磁铁50为圆柱形磁铁,例如1-5cm长的圆柱形磁铁,一端为南极(S),一端为北极(N),所述圆柱形磁铁竖直设置在所述容纳腔40内,所属容纳腔40同样为圆柱孔,所述磁铁50放置于所述容纳腔40内;所述圆柱形磁铁的轴线方向与所述电路板20的水平方向垂直。

优选地,如图1所示,所述霍尔元件60朝向所述磁铁50方向的一面为感应面,图2中的所述霍尔元件60相当于是横着放置的,朝向所述磁铁50方向的一面(面积大的一面,即底面)为感应面,因为这样的感应效果是最好的,当然,所述霍尔元件60六个面中的任何一个面都是可以作为感应面的(也只需要一个面作为感应面),但是只有朝向所述磁铁50方向的一面做为感应面是最佳选择。

进一步地,所述霍尔元件60初始位置设置在所述磁铁正上方,优选地是在所述电路板20侧面开口槽中,所述开口槽设置在所述电路板20对应所述磁铁50上方的一侧。

如图2或图3或图4所示,所述霍尔元件60的的形状为四方体(包括正方体或者长方体),所以所述霍尔元件60的横向截面或者纵向界面的形状均为矩形,且六个面中只需设置一个面为感应面。

进一步地,所述霍尔元件60是利用霍尔效应的固态电子器件,用霍尔元件测量磁场强度的特点是:器件很小很扁(可以放在窄缝中),有很高的准确度、灵敏度和稳定性,还有很宽的工作温度范围;优选地,所述霍尔元件60为线性霍尔元件,线性霍尔元件是一种模拟信号输出的磁传感器,输出电压随输入的磁力密度线性变化。

其中,所述霍尔元件60的型号可以包括:EW-550、EW-512、EW-732、U18、SS40AF、HAL732、HAL1881、HAL513、AH512等型号。

优选地,所述霍尔元件60的封装形式为TO-92,封装就是指把硅片上的电路管脚,用导线接引到外部接头处,以便与其它器件连接,封装形式是指安装半导体集成电路芯片用的外壳。它不仅起着安装、固定、密封、保护芯片及增强电热性能等方面的作用,而且还通过芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上,这些引脚又通过印刷电路板上的导线与其他器件相连接,从而实现内部芯片与外部电路的连接。因为芯片必须与外界隔离,以防止空气中的杂质对芯片电路的腐蚀而造成电气性能下降。另一方面,封装后的芯片也更便于安装和运输。由于封装技术的好坏还直接影响到芯片自身性能的发挥和与之连接的PCB(印制电路板)的设计和制造,因此它是至关重要的。

封装主要分为DIP双列直插和SMD贴片封装两种,从结构方面,封装经历了最早期的晶体管TO(如TO-89、TO92)封装发展到了双列直插封装,随后由PHILIP公司开发出了SOP小外型封装,以后逐渐派生出SOJ(J型引脚小外形封装)、TSOP(薄小外形封装)、VSOP(甚小外形封装)、SSOP(缩小型SOP)、TSSOP(薄的缩小型SOP)及SOT(小外形晶体管)、SOIC(小外形集成电路)等。从材料介质方面,包括金属、陶瓷、塑料、塑料,目前很多高强度工作条件需求的电路如军工和宇航级别仍有大量的金属封装。

本实用新型中的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置中,所述电机转动控制手机支架的夹持臂运动,当夹持臂拉伸到最大或者收缩到最小时,所述霍尔元件感应磁铁后,检测的电压最小(夹持臂水平拉伸到最大或者收缩到最小,所述霍尔元件感应磁铁时检测到的电压与磁铁的移动呈线性关系),此时即可判断电机有发生堵转的可能,那么立马控制电机停止转动,防止电机因为堵转发生烧坏的风险。

本发明还提供一种手机支架,所述手机支架包括如上所述的基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置。

综上所述,本实用新型提供了一种基于磁铁和霍尔元件检测电机堵转的检测装置及手机支架,所述检测装置包括:用于驱动手机支架的夹持臂拉伸或者收缩的电机,所述电机设置在电路板下方并与所述电路板电连接;在所述夹持臂中部设置有一容纳腔,所述容纳腔中设置有一用于产生磁力线的磁铁;在所述电路板一侧开设有一开口槽,在所述开口槽中设置有一用于检测所述磁铁移动的霍尔元件。本实用新型通过将磁铁设置在手机支架的夹持臂上,在磁铁上方的电路板上设置感应磁场变化的霍尔元件,可以检测电机转动控制手机支架的夹持臂的开合情况,避免电机发生堵转从而烧坏的风险,当夹持臂拉伸到最大位置或者收缩到最小位置的时候及时控制电机停止转动,检测精度高,效果好。

应当理解的是,本实用新型的应用不限于上述的举例,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。

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