一种用于显示模组的检测装置的制作方法

文档序号:18659661发布日期:2019-09-12 10:34阅读:140来源:国知局
一种用于显示模组的检测装置的制作方法

本实用新型涉及检测装置技术领域,更具体地,本实用新型涉及一种用于显示模组的检测装置。



背景技术:

显示模组作为目前大部分电子设备的重要组成部件,在出厂前需要对显示模组进行点灯测试,其中包括色度、亮度、闪烁度等参数测试。通过将显示模组置于检测装置上后,由检测装置的压接板下压与显示模组芯片压接并电性导通,从而对显示模组芯片进行检测。

现有技术中显示模组检测装置通常包括有压接装置,所述压接装置包括压接板和位于压接板上方的压接机构,压接板一端铰接固定于天板上,另一端位于显示模组芯片(或者如显示模组电连接部)的上方,通过压接机构下压压接板使其与显示模组芯片或者电连接部接触导通实现检测。目前现有压接装置的缺陷在于,当压接机构驱动压接板下压时,压接板与显示模组芯片(或者如显示模组电连接部)接触时存在一个倾斜的角度,从而导致下压力不均匀。由于显示模组芯片或者电连接部的接触探针直径较小,容易导致显示模组芯片或者电连接部的接触探针折断,因而影响显示模组芯片的测试。

因此,为了克服现有技术存在的缺陷,需要提供一种新型的用于显示模组的检测装置。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于提供一种用于显示模组的检测装置,使受压件的取放更为便捷,能够有效的提高压接件在垂直天板方向上下压受压件的精度,确保受压件在受压时受力均匀稳定。

为达到上述目的,本实用新型提供一种用于显示模组的检测装置,所述检测装置至少包括天板以及配置在所述天板上的下压装置;所述下压装置至少包括配置在天板板体上的浮动部,所述浮动部被配置为可相对天板在垂直天板的方向上上下浮动;位于所述天板板面上的压接件,所述压接件可上下翻转地结合固定在所述浮动部上,所述压接件包括有当所述压接件向下翻转时与所述浮动部接触的抵接部以及由所述抵接部延伸至浮动部外的延伸部;所述延伸部上包括有用于提供下压力的压接部,所述压接件与浮动部构成整体结构朝向天板的方向下压。

此外,优选地方案为,所述检测装置包括有配置在天板上的压接装置,所述压接装置被配置为驱动压接件上下翻转。

此外,优选地方案为,所述压接装置至少包括位于所述天板上的压把;以及连杆组件,所述连杆组件的端部上设置有与所述压接部对应配置的压头,所述连杆组件远离所述压头一端包括有与所述天板结合固定的部分,以及与所述压把铰接固定的部分;所述压接装置被配置为上抬或下压所述压把,所述压把通过连杆组件带动压接件相对于天板上下翻转。

此外,优选地方案为,所述连杆组件包括有一端与压头连接固定的第一连杆,结合固定在所述天板上的底座,以及分别与底座以及压把铰接的第二连杆;所述第一连杆的远离压头的一端包括有分别与底座以及压把铰接固定的部分。

此外,优选地方案为,所述压接装置向下翻转时,所述压头与所述压接部的背侧接触。

此外,优选地方案为,所述下压装置还包括有与所述天板固定连接的固定部,所述固定部与所述浮动部之间配置有复位件。

此外,优选地方案为,所述延伸部的长度不大于所述抵接部的长度。

此外,优选地方案为,所述抵接部的靠近所述浮动部的一侧表面与所述浮动部的靠近所述抵接部的一侧表面上对应配置有呈相同极性的磁铁。

此外,优选地方案为,所述连杆组件包括有与压接件对应的对应面,所述对应面上与压接件的靠近所述对应面的一侧表面上对应配置有呈不同极性的磁铁。

此外,优选地方案为,所述天板包括有与所述压接部对应配置的用于放置受压件的型腔。

本实用新型的有益效果如下:

1、本实用新型提供的检测装置配置有可相对天板在垂直天板的方向上上下浮动的浮动部,压接件在下压前可先一步与浮动部接触呈水平设置,在下压时保证压接件与浮动部构成整体结构朝向天板的方向垂直下压,能够有效地提高压接件垂直下压的精度,确保作为受压件的显示模组芯片在压接导通时受力均匀,避免显示模组芯片接触探针因下压角度倾斜而折断的情况出现,提高显示模组的检测效率;同时显示模组芯片的取放更为便捷,可有效避免显示模组芯片在取放过程中与压接件产生碰撞造成损坏的情况出现。

2、本实用新型提供的检测装置配置有位于所述固定部与浮动部之间的复位件,可确保检测结束后浮动部可迅速抬起复位,方便操作者快速取放显示模组芯片,便于多次重复使用,且提高了检测效率。

3、本实用新型提供的检测装置的延伸部长度小于所述抵接部的长度,避免压接部由于下压力矩过长而导致压接部的下压角度有所倾斜,确保了压接部在垂直天板的方向上能够垂直下压显示模组芯片。

4、本实用新型提供的检测装置在浮动部与抵接部之间配置有呈相同极性的磁铁,保证检测结束后,在压接装置上抬时,压接件能够迅速脱离浮动部,跟随压接装置抬起,实现了作为受压件的显示模组芯片能够快速地取放,且压接件不会对显示模组芯片产生干涉影响。

5、本实用新型提供的检测装置在连杆组件对应面和压接件之间配置有呈不同极性的磁铁,一方面能够与浮动部与抵接部之间配置的呈相同极性的磁铁配合,使压接件能够被快速的抬起,另一方面在压接装置下压时,利用呈不同极性的磁铁之间的吸力能够使第一连杆与压接件之间形成稳定的下压结构体,保证了确保了压接件垂直下压的精度,不会出现压接部位置偏离的情况。另外在下压过程中,连杆组件对应面和压接件之间配置的呈不同极性的磁铁与浮动部与抵接部之间配置的呈相同极性的磁铁能够配合地形成压接件下压过程的缓冲结构,避免受压件受到压接件的压接部的突然冲击,造成受压件损坏的情况发生

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出本实用新型提供的一种实施方式的检测装置的结构主视图。

图2a-图2d示出本实用新型提供的一种实施方式的检测装置的工作流程图。

图3示出图2c的结构主视图。

图4示出图2d的结构主视图。

具体实施方式

在下述的描述中,出于说明的目的,为了提供对一个或者多个实施方式的全面理解,阐述了许多具体细节。然而,很明显,也可以在没有这些具体细节的情况下实现这些实施方式。

为了更清楚地说明本实用新型,下面结合优选实施例和附图对本实用新型做进一步的说明。附图中相似的部件以相同的附图标记进行表示。本领域技术人员应当理解,下面所具体描述的内容是说明性的而非限制性的,不应以此限制本实用新型的保护范围。

在显示模组在检测过程中,由于显示模组芯片或者电连接部的接触探针直径较小,压接件与显示模组芯片或者电连接部接触时通常存在一个倾斜的施力角度,该施力角度的存在会导致压接件作用在显示模组芯片或者电连接部上的下压力不均匀,容易导致显示模组芯片或者电连接部的接触探针折断,因而影响显示模组芯片的测试。基于现有技术的不足,结合图1-图4所示,本实用新型提供一种用于显示模组的检测装置,具体地,所述检测装置至少包括天板20,以及配置在所述天板20上的下压装置21;所述下压装置21至少包括配置有在天板20板体上的浮动部211,以及位于所述天板20板面上的压接件212。所述浮动部211被配置为可相对天板20在垂直天板20的方向上上下浮动;所述压接件212可上下翻转地结合固定在所述浮动部211上,所述压接件212与所述浮动部211可通过销轴铰接固定从而实现压接件的上下翻转,所述浮动部211上包括有与所述销轴对应装配的圆形销轴孔。此外,在本实施方式中,所述压接件212包括有当所述压接件212向下翻转时与所述浮动部211接触的抵接部2121以及由所述抵接部2121延伸至浮动部211外的延伸部2122;所述延伸部2122上包括有用于提供下压力的压接部2123,所述压接件212与浮动部211构成整体结构朝向天板20的方向下压。进一步优选地,本领域技术人员可以理解的是,所述天板20应当包括有与所述压接部2123对应配置的用于放置受压件的型腔22,所述受压件例如为显示模组芯片或者电连接部,本实施方式对此不做限制。

以受压件为显示模组芯片进行举例说明,在实际检测过程中,首先将显示模组芯片放置型腔22内定位,然后将压接件212向下翻转,所述抵接部2121首先与所述浮动部211接触,所述压接部2123与所述天板20板面平行,且所述压接部2123与所述型腔22之间存在间隔距离40,如图3所示。如图4所示随后继续下压压接件212,所述压接件212与浮动部211构成整体结构朝向天板20的方向下压,所述压接部2123与显示模组芯片接触,且将显示模组芯片与外部设备电导通,进而开始检测其性能。待检测完毕后,撤销施加在压接件212上的下压力,浮动部211向上抬起,随后将压接件212向上翻转,将显示模组芯片从型腔22内取出,完成对一个显示模组芯片的压接电导通测试。现有技术中,所述压接件通过销轴配置固定在所述天板上,所述天板上包括有浮板与销轴对应配置的销轴座,所述销轴座上还包括有垂直天板的长条销孔。在实际检测过程中,将压接件下压与所述浮板接触后,继续下压时,所述压接件以所述浮板作为支点,通过销轴在长条销孔上下移动调节,使得所述压接件与浮板一起垂直下压。但是这种结构在实际使用过程中由于销轴座内的长条销孔与压接件的销轴之间的摩擦或者压接件的受力不均匀,在压接件下压过程中压接件的靠近销轴的一端容易翘起,使得压接件与浮板无法完全贴合或者压接件与浮板之间存在一定的倾斜角度,从而导致压接件无法实现相对天板水平的状态垂直下压,使得压接件与显示模组芯片接触时依然会存在一定的倾斜角度。本实用新型提供的检测装置的压接件直接配置在浮动板上,而且所述压接件通过圆形销孔与浮动板连接固定,使得压接件下压时与所述浮动部接触且始终呈水平状态,随后继续下压时,所述压接件与所述浮动部形成整体结构向天板的方向垂直下压,避免了销轴上下移动或者压接件受力不均匀的情况,有效提高压接件垂直下压受压件的精度,确保显示模组芯片在压接时受力均匀,避免显示模组芯片接触探针因下压角度倾斜而折断的情况出现,提高了检测效率;同样相比于在型腔附近配置有用于确保压接件垂直下压的定位柱的现有技术,本实用新型的提供的检测装置使得操作者在检测结束后将压接件向上翻转后即可直接取放显示模组芯片,使得取放显示模组芯片更为便捷,从根本上避免了显示模组芯片在取放过程中,与压接件产生碰撞造成损坏的情况出现。

作为一种优选地实施方式,所述下压装置21包括有与所述天板20固定连接的固定部213,结合图1所示,所述固定部213包括有配置于所述浮动部211两侧的部分,以保证浮动部不会左右晃动,确保浮动部在垂直天板的方向上浮动。另外,为进一步加快检测效率,所述固定部213与所述浮动部211之间配置有复位件,确保检测结束后浮动部可迅速抬起复位,方便操作者快速取放显示模组,便于多次重复使用,提高了检测效率。需要说明的是,所述复位件可以为本领域技术人员所熟知的可使浮动部相对于固定部复位的机构,例如所述复位件可为压簧,通过压簧的反作用力驱使浮动部211向上复位,此外,还可在固定部与浮动部间配置滑轨滑块机构,对浮动部的移动进行导向。其他实施例中也可在压接件与浮动部铰连接处设置扭簧以复位,本实用新型对此不作进一步限制。另外,为了解决压接部由于下压力矩过长而导致压接部的下压角度有所倾斜的问题,作为一种优选的实施方式,所述延伸部2122的长度小于所述抵接部2121的长度。

此外,在进一步优选的实施方式中,为确保压接件更快地上下翻转,提高检测装置的检测效率,如图1所示,所述检测装置还包括有配置在天板20上的压接装置30,所述压接装置30被配置为可驱动压接件212以其与浮动部的铰接端上下翻转。具体地,结合图1所示出的,所述压接装置30至少包括位于所述天板上20的压把31以及连杆组件32,所述连杆组件32的端部上设置有与所述压接部2123对应配置的压头321,所述连杆组件32远离所述压头321一端包括有与所述天板20结合固定的部分,以及与所述压把31铰接固定的部分;所述压接装置30被配置为上抬或下压所述压把31,所述压把31通过连杆组件32带动压接件212以销轴相对于天板20上下翻转。本实用新型提供的检测装置,可通过手动下压压把31,使得连杆组件32向下翻转,从而带动压接件212下压并与显示模组芯片接触进行检测,当检测结束之后,手动抬起压把31,使得连杆组件32带动压接件212向上翻转。其中,在一种优选的实施方式中,所述压接装置30向下翻转时,所述压头321与所述压接部2123背侧接触,从而带动压接部2123下压与显示模组芯片接触。本实施方式提供的配置有压接装置的检测装置,方便操作者对显示模组芯片放置和检查作业,且通过连杆组件控制压接件的上下翻转,其力臂更短,操作时轻松省力。

在本优选实施方式中,结合图1-图4所示,所述连杆组件32包括一端与压头321连接固定的第一连杆322,以及结合固定在所述天板20上的底座324,以及分别与底座324以及压把31铰接的第二连杆323;所述第一连杆322的远离压头321的一端包括有分别与底座324以及压把31铰接固定的部分。结合图1以及图2所示,当下压压把31时,第二连杆323向前运动,联动第一连杆322向前下方移动,使得第一连杆322上的压头321与所述压接部2123接触并且带动压接部2123向下翻转下压与显示模组芯片接触;当上抬压把31时,第二连杆323在压把31的作用力下向后移动,带动第一连杆322连同压接部2123向上抬起,使压接部2123与显示模组芯片分离,完成检测。其中,为确保上抬压把时,第一连杆连同压接件向上抬起,所述第一连杆322与压接件212之间可配置有连接件,例如磁铁、杆状、带状部件,也可以为本领域技术人员所熟知的可带动压接件向上翻转的机构。

作为进一步优选的实施方式,如图1所示,所述抵接部2121的靠近所述浮动部211的一侧表面与所述浮动部211的靠近所述抵接部2121的一侧表面上对应配置有呈相同极性的磁铁;其优势在于,浮动部与抵接部之间配置有呈相同极性的磁铁,当检测结束后,在压接装置上抬时,压接件能够迅速脱离浮动部,跟随压接装置抬起,实现了作为受压件的显示模组芯片能够快速地取放,且压接件不会对显示模组芯片产生干涉影响。

另外,所述连杆组件322包括有与压接件212对应的对应面,所述对应面上与压接件212的靠近所述对应面的一侧表面上对应配置有呈不同极性的磁铁,一方面呈不同极性的磁铁能够与浮动部与抵接部之间配置的呈相同极性的磁铁配合,使压接件能够被快速的抬起,另一方面在压接装置下压时,利用呈不同极性的磁铁之间的吸力能够使第一连杆与压接件之间形成稳定的下压结构体,保证了确保了压接件垂直下压的精度,不会出现压接部位置偏离的情况。另外在下压过程中,连杆组件对应面和压接件之间配置的呈不同极性的磁铁与浮动部与抵接部之间配置的呈相同极性的磁铁能够配合地形成压接件下压过程的缓冲结构,避免受压件受到压接件的压接部的突然冲击,造成受压件损坏的情况发生。结合上述内容可知,本实用新型提供的检测装置,能够使受压件的取放更为便捷,能够有效的提高压接件在垂直天板方向上下压受压件的精度,确保受压件在受压时受力均匀稳定,提高了相应的检测效率。

显然,本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例,而并非是对本实用新型的实施方式的限定,对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动,这里无法对所有的实施方式予以穷举,凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。

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