一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具的制作方法

文档序号:18799946发布日期:2019-10-08 19:12阅读:415来源:国知局
一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具的制作方法

本实用新型属于气相沉淀装置测孔技术领域,具体涉及一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具。



背景技术:

目前在对半导体化学气相沉积金属面板洗净过程中,需要对金属面板的孔径值进行测量,测量结果用来衡量是否报废,在此工序中需要用专用的孔径测量仪进行测量,现有测孔工序为人工手动找定位点,再通过孔径测量仪进行测量,此做法无法保证每次测量的孔径都是同一位置的孔径,使的测量结果没有对比性,且人工找孔准确性低,耗时长。



技术实现要素:

为解决现有技术中存在的不足,本实用新型提供一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具,节省测量时间,测孔位置固定,测量结果准确且有对比性。

本实用新型为解决其技术问题所采用的技术方案是:一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具,包括治具本体,所述治具本体为一具有厚度的矩形板结构,所述治具本体上一侧设有对称设置的找正孔,所述治具本体中部开设有定位槽,所述定位槽为贯穿于治具本体的圆形通孔;所述定位槽的侧壁连接有定位环,所述定位环为一具有厚度和高度的圆环状结构,所述定位环上端面为阶梯状的台阶卡槽;所述治具本体的一角处连接有定位块,治具本体上定位块所在位置开设有底部定位孔。

进一步的,所述定位块包括衔接块和固定块,所述衔接块的一侧为与定位环相连接配合的弧形,所述衔接块另一侧与固定块连接;所述固定块为一具有厚度的三角块状结构,其与衔接块连接的一侧开设有金属面板卡槽,所述金属面板卡槽为两面开口的半封闭结构。

进一步的,所述固定块顶部开设有金属面板定位孔,所述金属面板定位孔与金属面板卡槽相通,且所述金属面板定位孔内螺纹连接有金属面板定位螺栓。

进一步的,所述治具本体底部开设有多个底部凹槽,所述的底部凹槽分别位于治具本体底部相对的两侧。

进一步的,所述底部定位孔内螺纹连接有底部定位螺栓。

进一步的,所述治具本体、定位环、定位块的材质均为聚四氟乙烯。

本实用新型的有益效果是:治具本体、定位环、定位块选用聚四氟乙烯材质,尺寸稳定,耐候性好,对金属面板的伤害极小,质量轻盈,可重复使用,本实用新型与现有人工找孔测孔相比,提高了孔径测量的速度,节省了测量时间,测孔位置固定,测量结果准确且有对比性;治具结构简单,便于操作。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图;

图2为本实用新型的俯视图;

图3为本实用新型的底部结构示意图;

图4为本实用新型的侧视图;

图5为本实用新型与金属面板装配结构爆炸视图。

图中附图标记如下:1、治具本体,2、找正孔,3、定位槽,4、定位环,5、台阶卡槽,6、底部定位孔,7、衔接块,8、固定块,9、金属面板卡槽,10、金属面板定位孔,11、金属面板定位螺栓,12、底部凹槽,13、突出卡扣。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细描述。

实施例1

本实施例提供一种半导体化学气相沉淀装置金属面板测孔治具,包括治具本体1,所述治具本体1为一具有厚度的矩形板结构,所述治具本体1上一侧设有对称设置的找正孔2,所述治具本体1中部开设有定位槽3,所述定位槽3为贯穿于治具本体1的圆形通孔;所述定位槽3的侧壁连接有定位环4,所述定位环4为一具有厚度和高度的圆环状结构,所述定位环4上端面为阶梯状的台阶卡槽5;所述治具本体1的一角处连接有定位块,治具本体1上定位块所在位置开设有底部定位孔6。

所述定位块包括衔接块7和固定块8,所述衔接块7的一侧为与定位环4相连接配合的弧形,所述衔接块7另一侧与固定块8连接;所述固定块8为一具有厚度的三角块状结构,其与衔接块7连接的一侧开设有金属面板卡槽9,所述金属面板卡槽9为两面开口的半封闭结构。

所述固定块8顶部开设有金属面板定位孔10,所述金属面板定位孔10与金属面板卡槽9相通,且所述金属面板定位孔10内螺纹连接有金属面板定位螺栓11。

所述治具本体1底部开设有多个底部凹槽12,所述的底部凹槽12分别位于治具本体1底部相对的两侧。

所述底部定位孔6内螺纹连接有底部定位螺栓。

所述治具本体1、定位环4、定位块的材质均为聚四氟乙烯。

本实用新型的工作方法:将手伸入底部凹槽12后将治具本体1平放在孔径测量仪的工作平台上,安装定位块,在治具本体1底部将定位螺栓拧入底部定位孔6中将其定位在孔径测量仪的工作平台,将金属面板对准治具本体1的定位槽3后放置在定位环4上,此时与金属面板接触的只有台阶卡槽5,由于台阶卡槽5与金属面板的接触面积很小,不易造成金属面板的划伤及磨损,将金属面板的突出卡扣13旋转至固定块8的金属面板卡槽9内,用金属面板定位螺栓11同时穿过突出卡扣13和金属面板定位孔10,将金属面板固定于定位块,使孔径测量仪始终与找正孔2相对准,进行测量,测量完毕后,松开金属面板定位螺栓11,将金属面板取出。本治具可以重复使用,由于孔径测量仪始终与找正孔2相对准,所以只需更换金属面板,使用方便,操作简单。

以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型披露的技术范围内,根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

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