一种基于BIM的测绘放样装置的制作方法

文档序号:19551115发布日期:2019-12-31 14:38阅读:227来源:国知局
一种基于BIM的测绘放样装置的制作方法

本实用新型涉及测绘技术领域,具体为一种基于bim的测绘放样装置。



背景技术:

测绘就是测量和绘图,以计算机技术、光电技术、网络通讯技术、空间科学、信息科学为基础,以全球导航卫星定位系统(gnss)、遥感(rs)、地理信息系统(gis)为技术核心,将地面已有的特征点和界线通过测量手段获得反映地面现状的图形和位置信息,供工程建设的规划设计和行政管理之用,测量放样作为一项测绘技术来说,就是对任一空间物体的三维定位测量,它的具体工作,均反映在对距离、角度(方向)、高程三个量的测定上,不论采用什么样的方法放样,总是离不开运用各类不同的仪具将这三个量测量的结果,在施工现场予以标定。放样是工程测量研究的主要内容之一。

在现有技术中,测绘放样装置工作时难以很好的对当前测绘机构的水平程度进行监控,需要额外增加算法以及多次测绘操作对倾斜的角度进行补偿,降低工作效率的同时增加了操作的难度,给使用者的使用带来不便。



技术实现要素:

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种基于bim的测绘放样装置,解决了在现有技术中,测绘放样装置工作时难以很好的对当前测绘机构的水平程度进行监控,需要额外增加算法以及多次测绘操作对倾斜的角度进行补偿的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:一种基于bim的测绘放样装置,包括底座,所述底座的顶部设置有支撑杆,所述支撑杆的顶端固定连接有测绘机构,所述测绘机构底部的两侧均设置有线圈块,所述支撑杆的背部通过螺栓固定连接有刻度盘,所述支撑杆的正表面固定连接有检测机构,所述检测机构的两侧均固定连接有水平杆,所述水平杆两侧的顶部均固定连接有与线圈块配合设置的永磁体。

所述检测机构包括检测外壳,所述检测外壳上贯穿设置有定位杆,所述定位杆与支撑杆固定连接,所述定位杆的表面套设有检测电阻,所述检测电阻上镶嵌有绝缘块,所述检测外壳内腔的顶部固定连接有电刷,所述电刷与绝缘块的表面接触,所述电刷串联于检测电阻的电路中。

优选的,所述线圈块通电后产生的磁场方向与永磁体的磁场方向相反。

优选的,所述水平杆正表面的两侧均贯穿设置有限制螺栓,所述刻度盘上开设有与限制螺栓配合设置的限制槽。

优选的,所述检测机构的顶部设置有挡雨板。

优选的,所述检测外壳的内壁镶嵌有橡胶球,且橡胶球与检测电阻的表面接触。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种基于bim的测绘放样装置。具备以下有益效果:该基于bim的测绘放样装置,通过检测机构的改良,以及线圈块、限制螺栓和刻度盘等部件的配合使用,使得测绘放样装置工作时可以很好的对当前测绘机构的水平程度进行监控,无需额外增加算法以及多次测绘操作对倾斜的角度进行补偿,提高工作效率的同时降低了操作的难度,方便了使用者的使用。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图;

图2为本实用新型检测机构的结构示意图。

图中:1、底座;2、支撑杆;3、测绘机构;4、线圈块;5、刻度盘;6、检测机构;61、检测电阻;62、橡胶球;63、检测外壳;64、绝缘块;65、定位杆;66、电刷;7、水平杆;8、永磁体;9、限制螺栓;10、限制槽;11、挡雨板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2,本实用新型提供一种技术方案:一种基于bim的测绘放样装置,包括底座1,底座1的顶部设置有支撑杆2,支撑杆2的顶端固定连接有测绘机构3,测绘机构3底部的两侧均设置有线圈块4,线圈块4通电后产生的磁场方向与永磁体8的磁场方向相反,支撑杆2的背部通过螺栓固定连接有刻度盘5,支撑杆2的正表面固定连接有检测机构6,检测机构6的顶部设置有挡雨板11,检测机构6的两侧均固定连接有水平杆7,水平杆7正表面的两侧均贯穿设置有限制螺栓9,刻度盘5上开设有与限制螺栓9配合设置的限制槽10,限制槽10和限制螺栓9用于限制水平杆7的活动范围,水平杆7两侧的顶部均固定连接有与线圈块4配合设置的永磁体8。

检测机构6包括检测外壳63,检测外壳63的内壁镶嵌有橡胶球62,且橡胶球62与检测电阻61的表面接触,橡胶球62用于限制检测电阻61的位置,检测外壳63上贯穿设置有定位杆65,定位杆65与支撑杆2固定连接,定位杆65的表面套设有检测电阻61,检测电阻61上镶嵌有绝缘块64,检测外壳63内腔的顶部固定连接有电刷66,电刷66与绝缘块64的表面接触,电刷66串联于检测电阻61的电路中。

工作时,通过测绘机构3进行测绘操作,同时若测绘机构3处于非水平状态时,在重力作用下,水平杆7会相对于支撑杆2产生夹角,从而使得检测外壳63带动电刷66相对于检测电阻61转动,从而改变检测电阻61的有效阻值,控制机构通过检测电阻61的有效阻值计算当前测绘机构3的倾斜程度。

使用者可以通过调节线圈块4的电压,从而改变线圈块4产生的磁场大小,同时在永磁体8的作用下改变水平杆7相对于测绘机构3倾斜的灵敏度(即检测机构6的检测精准度,精准度越高,测量范围越小),以此适应不同情况下的检测操作。

综上所述,该基于bim的测绘放样装置,通过检测机构6的改良,以及线圈块4、限制螺栓9和刻度盘5等部件的配合使用,使得测绘放样装置工作时可以很好的对当前测绘机构6的水平程度进行监控,无需额外增加算法以及多次测绘操作对倾斜的角度进行补偿,提高工作效率的同时降低了操作的难度,方便了使用者的使用。

需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

当前第1页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1