费托蜡滴熔点的测定方法和装置与流程

文档序号:20913344发布日期:2020-05-29 13:12阅读:1080来源:国知局
费托蜡滴熔点的测定方法和装置与流程

本发明涉及费托蜡滴熔点的测定方法和装置。



背景技术:

费托(fischertropsch)蜡是亚甲基聚合物,是碳氢基合成气或天然气合成的烷烃聚合物,费托蜡(fischertropschwax)主要由相对分子质量在500-1000的直链、饱和的高碳烷烃组成,这就赋予了这种化学品精细的晶体结构、高熔点、窄熔点范围的特性;目前已制成熔点最高达120℃、熔点范围仅在5℃左右的产品,高熔点费托蜡的应用和市场需求巨大。已具有高熔点费托蜡分离、精制的核心技术,但是该技术的先进性和稳定性还有待工业化生产中进一步的提升。换言之,费托蜡滴熔点的确定就是确定了费托蜡的牌号(例如滴熔点105℃,即牌号105);滴熔点的高低直接决定它的应用范围,它的测定方法和装置就凸显着至关重要,目前尚无费托蜡的相关性能指标测定的标准;存在着技术准则的滞后。



技术实现要素:

本发明的目的是提供费托蜡滴熔点的测定方法和装置。

本发明的技术解决方案是:费托蜡滴熔点的测定方法,包括

1)将费托蜡试样放入熔化皿中熔化;

2)将玻璃铂电阻传感器下部放入熔化的费托蜡试样中、拿出,使玻璃铂电阻器的传感区域完全被试样粘裹;

3)将玻璃铂电阻传感器放入油浴里的试管中,升温,让费托蜡试样慢慢熔化,直至费托蜡试样从玻璃铂电阻传感器上滴落,此时油浴的温度即为费托蜡的滴熔点。

费托蜡滴熔点的测定装置,其特征在于:

包括

熔化皿、玻璃铂电阻传感器、油浴

其中

所述熔化皿是内径40mm,内高度20mm的熔化皿;

所述玻璃铂电阻传感器是外表为玻璃的pt100铂电阻传感器;

所述油浴是容积应大于1500ml,浴温最高加热至180℃,其中设有测试试管,在测试试管下部设有光电发射接收器、在测试试管上部设有塞子,塞子上设有通气孔。

本发明同现有技术相比具有检测的可靠性和检测精度,有着突破技术壁垒的指导意义和潜在的效益及深远的社会意义。

附图说明

附图1是本发明实施例的结构示意图。

图中:图中:1、通气孔,2、塞子,3、测试试管,4、玻璃铂电阻传感器,5、光电发射接收器,6、油浴。

具体实施方式

下面结合附图说明实施例:

玻璃铂电阻传感器4采用外表为玻璃的pt100铂电阻传感器,费托蜡试样在熔化皿中熔化后,将玻璃铂电阻传感器4放入试样中,拿出,玻璃铂电阻传感器4的传感区域(即内部缠绕铂丝部分)完全被试样粘裹,然后将玻璃铂电阻传感器4轻放入油浴6里的测试试管3中,按一定数率升温,试样慢慢熔化,直至从玻璃铂电阻传感器4上滴落,此时油浴6的温度即为费托蜡的滴熔点。

费托蜡滴熔点的测定装置,包括

熔化皿、玻璃铂电阻传感器4、油浴6

其中

所述熔化皿是内径40mm,内高度20mm的熔化皿;

所述玻璃铂电阻传感器4是外表为玻璃的pt100铂电阻传感器;

所述油浴6是容积应大于1500ml,浴温最高加热至180℃,其中的测试试管3下部设有光电发射接收器4、在测试试管3上部设有塞子2,塞子上设有通气孔1。

为保证测试的准确性测定装置可由plc控制单元进行控制。

为更好保证油浴6加热梯度的一致性,采用磁力搅拌子搅拌方式。



技术特征:

1.费托蜡滴熔点的测定方法,包括

1)将费托蜡试样放入熔化皿中熔化;

2)将玻璃铂电阻传感器(4)下部放入熔化的费托蜡试样中、拿出,使玻璃铂电阻器(4)的传感区域完全被试样粘裹;

3)将玻璃铂电阻传感器放入油浴(6)里的测试试管(3)中,升温,让费托蜡试样慢慢熔化,直至费托蜡试样从玻璃铂电阻传感器(4)上滴落,此时油浴(6)的温度即为费托蜡的滴熔点。

2.费托蜡滴熔点的测定装置,其特征在于:

包括

熔化皿、玻璃铂电阻传感器(4)、油浴(6)

其中

所述熔化皿是内径40mm,内高度20mm的熔化皿;

所述玻璃铂电阻传感器(4)是外表为玻璃的pt100铂电阻传感器;

所述油浴(6)是容积应大于1500ml,浴温最高加热至180℃,其中设有测试试管,在测试试管(3)下部设有光电发射接收器(5)、在测试试管(3)上部设有塞子(2),塞子(2)上设有通气孔(1)。


技术总结
本发明提供费托蜡滴熔点的测定方法,包括1)将费托蜡试样放入熔化皿中熔化;2)将玻璃铂电阻传感器下部放入熔化的费托蜡试样中、拿出,使玻璃铂电阻器的传感区域完全被试样粘裹;3)将玻璃铂电阻传感器放入油浴里的试管中,升温,让费托蜡试样慢慢熔化,直至费托蜡试样从玻璃铂电阻传感器上滴落,此时油浴的温度即为费托蜡的滴熔点;费托蜡滴熔点的测定装置,包括熔化皿、玻璃铂电阻传感器、油浴。具有检测的可靠性和检测精度等优点。

技术研发人员:颜平兴;浩灵慧;颜琰;邵光涛;刘相;张祥谛;李国强
受保护的技术使用者:大连远东兴仪器有限公司
技术研发日:2020.01.17
技术公布日:2020.05.29
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