一种调制传递函数MTF测试器件的制作方法

本发明实施例涉及调制传递函数测试技术领域，尤其涉及一种调制传递函数mtf测试器件。

背景技术：

目前，对成像系统(例如，x线成像系统)的成像质量进行综合评估的指标一般是dqe(detectivequantumefficient，量子检测效率)，而dqe的测量则依赖对mtf(modulationtransferfunction，调制传递函数)的测量。

以检测x线成像系统的调制传递函数为例，通常使用倾斜边缘法，对x线成像系统的探测器进行mtf测量，该方法在测量过程中需要将测试器件倾斜一定角度(1.5-3度)进行拍摄，然后再利用图像数据对mtf值进行计算。但是，在实际测试过程中，即使通过多次调整测试器件，也很难将测试器件精确地摆放至所需要的测试角度，既浪费时间，又影响测量的精确度。

技术实现要素：

本发明提供一种调制传递函数mtf测试器件，能够快速准确地对mtf测试装置的测试角度进行调整。

本发明实施例提供了一种调制传递函数mtf测试器件，所述测试器件包括测试本体和支撑本体，所述测试本体与所述支撑本体转动连接，以调节所述测试本体与所述支撑本体之间的测试夹角至目标测试夹角；

其中，所述测试本体包括第一接收面，所述第一接收面与待测探测器的第二接收面平行。

可选的，所述测试器件还包括中间部件，其中：

所述中间部件设置于所述测试本体和所述支撑本体之间，用于通过在目标位置处支撑所述测试本体和所述支撑本体，来调节所述测试夹角至目标测试夹角。

可选的，所述测试器件还包括旋转轴，其中：

所述测试本体通过所述旋转轴与所述支撑本体转动连接。

可选的，所述支撑本体设置有刻度，所述刻度与所述测试夹角相对应，其中：

所述刻度用于确定所述目标位置。

可选的，所述支撑本体包括水平刻度板、垂直刻度板和连接块，其中，

所述连接块用于分别连接所述水平刻度板和所述垂直刻度板，以使所述水平刻度板与所述垂直刻度板之间的夹角为直角；

所述连接块与所述测试本体转动连接。

可选的，在所述刻度处设置有与所述中间部件相匹配的凹槽，所述凹槽用于固定所述中间部件。

可选的，所述中间部件和所述支撑本体的加工材料均为非铁磁材料。

可选的，所述刻度之间的角度步长值为0.1度，所述刻度测试夹角范围为1.5°-3°。

可选的，所述测试本体包括钨板和铅板，其中：

所述铅板包括所述钨板的钨板放置区，其中，所述钨板放置区的一个边与所述测试本体的测量边重合，所述钨板放置区的形状与所述钨板的形状相同。

可选的，所述中间部件的形状为半球体。

本发明实施例提供的一种调制传递函数mtf测试器件，通过在测试器件中设置测试本体和支撑本体，测试本体与支撑本体转动连接，以调节测试本体与支撑本体之间的测试夹角至目标测试夹角；其中，测试本体包括第一接收面，第一接收面与待测探测器的第二接收面平行，实现了快速准确地对mtf测试装置的测试角度进行调整。

附图说明

图1是本发明实施例中的一种调制传递函数mtf测试器件的主视图；

图2是本发明实施例中的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图；

图3是本发明实施例中的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图；

图4是本发明实施例中的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图；

图5是本发明实施例中的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1为本发明实施例提供的一种调制传递函数mtf测试器件的主视图，如图1所示，该调制传递函数mtf测试器件包括测试本体110和支撑本体120，测试本体110与支撑本体120转动连接，以调节测试本体110与支撑本体120之间的测试夹角至目标测试夹角。其中，测试本体110包括第一接收面，第一接收面与待测探测器的第二接收面平行。

其中，mtf为探测器对比度空间频率转移函数，其是探测器系统的系统函数，用来表示探测器对于图像细节的分辨能力，在系统应用的空间频率范围内，mtf的值越高，系统对高空间频率输入信号的保持越好，也就是探测器具有更高的空间分辨率，利用该探测器获得的图像的对比度更好。

本实施例中，测试本体110和支撑本体120的形状可以是六面体、长方体、正方体等任意形状，在此不做特殊限定(图1中仅示出了测试本体110为六面体，支撑本体为长方体的情况)。测试本体110和支撑本体120可以通过二者之间的相互作用实现转动连接，也可以借助其他部件实现转动连接，示例性的，其他部件可以是旋转轴等。

测试本体110与支撑本体120之间可以形成一定的夹角，即二者能够保持相对固定。优选的，在设置调制传递函数mtf测试器件时，可以通过增加测试本体110与支撑本体120之间的相互摩擦力，来使二者保持相对固定，也可以在测试本体110和支撑本体120的连接位置处设置卡接固定结构(该卡接固定结构可以是在测试本体110不同位置上设置凸起，在支撑本体120的相应位置上设置可以与凸起相匹配的凹槽，也可以是在测试本体110的不同位置上设置凹槽，在支撑本体120的相应位置上设置与凹槽相匹配的凸起)，以使二者保持相对固定，还可以在测试本体110和支撑本体120之间设置中间部件，以借助中间部件使二者保持相对固定。

在利用测试本体110与支撑本体120形成目标测试夹角时，优选的，可以在测试本体110和/或支撑本体120上设置角度刻度值，以使用户能够直观获知目标测试夹角对应的位置，也可以在测试本体110和/或支撑本体120上设置距离刻度值，以使用户能够根据距离刻度值与角度之间的对应关系，确定目标测试夹角对应的位置，还可以是通过不同的卡接位置来对应不同的测试夹角，即一个卡接位置对应一个测试夹角。

其中，测试本体110包括一个第一接收面(图1中仅示出了该第一接收面)，该第一接收面用于接收原本要到达待测探测器的光线。测试本体110放置于待测探测器前，且第一接收面与待测探测器的接收面(即本实施例中的第二接收面)平行，即光线经测试本体110的第一接收面后到达待测探测器的第二接收面，并成像于待测探测器的第二接收面上。

示例性的，第一接收面可以包括一个测量边，其中，测量边用于获取边缘扩散函数，具体的，可以直接利用测量边在待测探测器的第二接收面上所成的像获取边缘扩散函数。示例性的，测试本体可以由第一检测材料和第二检测材料构成，第一检测材料上可以包括第二检测材料的材料放置区，该材料放置区优选可以位于第一检测材料的中间位置，其中，两种检测材料相重合且位于第一接收面上的边为测量边。优选的，测试本体110可以包括钨板和铅板，其中：铅板可以包括钨板的钨板放置区，钨板放置区的一个边与测量边重合，钨板放置区的形状与钨板的形状相同，优选的，钨板放置区可以位于铅板的中间位置。优选的，铅板的长度可以为200mm，宽度可以为100mm，厚度可以为3mm，钨板的长度可以为100mm，宽度可以为75mm，厚度可以为1mm。

本实施例提供的一种调制传递函数mtf测试器件，通过在测试器件中设置测试本体和支撑本体，测试本体与支撑本体转动连接，以调节测试本体与支撑本体之间的测试夹角至目标测试夹角；其中，测试本体包括第一接收面，第一接收面与待测探测器的第二接收面平行，实现了快速准确地对mtf测试装置的测试角度进行调整。

图2为本发明实施例提供的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图，如图2所示，mtf测试器件包括测试本体110、支撑本体120和中间部件130，其中：中间部件130设置于测试本体110和支撑本体120之间，用于通过在目标位置处支撑测试本体110和支撑本体120，来调节测试夹角至目标测试夹角。

本实施例中，中间部件130的形状可以是半球体，也可以是圆柱体，还可以是四面体，在此不做特殊限定(图2中仅示出了中间部件130为半球体的情况)，只要中间部件130能够布置在测试本体110与支撑本体120之间，并且能够支撑测试本体110和支撑本体120即可。优选的，中间部件130的加工材料可以是非铁磁材料，非铁磁材料在使用过程中不会产生磁场，其不会对x线成像设备等产生影响。

优选的，中间部件130可以与测试本体110和支撑本体120分离，也可以滑动设置在测试本体110上，还可以滑动设置在支撑本体120上，可以理解的是，虽然中间部件130可以在测试本体110和支撑本体120上滑动，但是，当需要将测试夹角调节至目标测试夹角时，可以利用固定结构或者固定部件，将中间部件130固定设置在目标部位。

在使用mtf测试器件测试的过程中，可以利用中间部件130，并基于测试本体110和支撑本体120的连接位置处设置的卡接固定结构，将测试夹角调节至目标测试夹角，具体的，可以利用卡接固定装置将测试本体110和支撑本体120之间的侧视夹角调节为目标测试夹角，为了保证该目标测试夹角的稳定性，可以将中间部件放置在测试本体110和支撑本体120之间，以使测试本体110和支撑本体120之间的夹角始终为目标测试夹角。

图3为本发明实施例提供的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图，如图3所示，mtf测试器件包括测试本体110、支撑本体120和中间部件130，其中，支撑本体120设置有刻度121，刻度121与测试夹角相对应，其中：刻度121用于确定目标位置。

优选的，支撑本体120上设置有与测试角度相对应的刻度，其中，测试角度为在测试mtf的过程中，调制传递函数mtf测试器件相对待测探测器的采样方向所要倾斜的角度。优选的，该测试角度范围可以是1.5-3度。刻度值可以是实际角度值，也可以是从0开始的自然数(此时，需要在刻度板上标注0对应的实际角度值以及刻度之间的角度步长值)，刻度之间的步长以及刻度的起始位置可以根据中间部件130的支撑高度确定。优选的，刻度之间的角度步长值可以是0.1度。优选的，支撑本体120的加工材料也可以是非铁磁材料。

在使用mtf测试器件测试的过程中，可以利用中间部件130，并基于刻度121将测试夹角精确调节至目标测试夹角，具体的，可以将中间部件130设置于刻度121的目标刻度处，并将测试本体110旋转至与中间部件130接触，以使测试本体110和支撑本体120之间的夹角为目标测试角度。优选的，中间部件130的中心位置位于目标刻度处。优选的，可以在目标刻度处设置与中间部件130相匹配的凹槽，该凹槽可以用于固定中间部件130。

在此需要说明的是，刻度121还可以设置在测试本体110上，相应的，在利用中间部件130，并基于刻度121将测试夹角调节至目标测试夹角时，可以将中间部件130设置于刻度121的目标刻度处，并将支撑本体120旋转至与中间部件130接触，以使测试本体110和支撑本体120之间的夹角为目标测试角度。刻度121还可以同时设置在测试本体110和支撑本体120上，相应的，在利用中间部件130，并基于刻度121将测试夹角调节至目标测试夹角时，可以通过调整中间部件130在测试本体110和支撑本体120上的位置，使中间部件130分别位于测试本体110和支撑本体120的目标刻度处，以使测试本体110和支撑本体120之间的夹角为目标测试角度。

图4为本发明实施例提供的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图，如图4所示，mtf测试器件mtf测试器件包括测试本体110、支撑本体120、中间部件130和旋转轴140，支撑本体120设置有刻度121，其中：测试本体110通过旋转轴140与支撑本体120转动连接，通过旋转轴140能够更加灵活的调节测试本体110与支撑本体120之间的测试角度。

其中，旋转轴140可以是一个独立的器件，其可以通过设置于测试本体110上的通孔和设置于支撑本体120上的通孔，使测试本体110与支撑本体120旋转连接，其也可以与测试本体110设置为一体式结构，其通过设置于支撑本体120上的通孔，使测试本体110与支撑本体120旋转连接，其还可以与支撑本体120设置为一体式结构，其通过设置于测试本体110上的通孔，使测试本体110与支撑本体120旋转连接。

图5是本发明实施例提供的另一种调制传递函数mtf测试器件的主视图，如图2所示，该调制传递函数mtf测试器件具体包括测试本体110、支撑本体120、中间部件130和旋转轴140，其中，支撑本体120包括水平刻度板122、垂直刻度板123和连接块124，其中，连接块124用于分别连接水平刻度板122和垂直刻度板123，以使水平刻度板122与垂直刻度板123之间的夹角为直角；连接块124通过旋转轴140与测试本体110相连接。

其中，水平刻度板122和垂直刻度板123上均设置有刻度，中间部件130可以设置于水平刻度板122的目标刻度处，也可以设置于垂直刻度板123的目标刻度处。连接块的形状可以是长方体，也可以是正方体，在此不做特殊限定。通过将支撑本体120进一步优化为水平刻度板122、垂直刻度板123和连接块124，在实现了快速准确地对mtf测试装置的测试角度进行调整的同时，还可以在两个方向上实现对测试角度的调整。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。