一种孔类尺寸及形位综合检具的制作方法

本实用新型属于量规量具领域，具体涉及一种孔类尺寸及形位综合检具。

背景技术：

孔类产品的生产过程中需要对产品的尺寸进行检验，检验常用光滑极限量规进行计数型合格性判定，而对于螺纹孔的检验则通常采用螺纹塞规进行检测。当被检孔为光孔和螺孔的分段式组合阶梯孔，光孔位于螺孔下部，且两段孔之间有关联性形位要求时，常规的标准通止规无法实现准确检测。

技术实现要素：

本实用新型是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种孔类尺寸及形位综合检具。

本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体，其包括依次连接的光轴段、外螺纹段、过渡段和手柄段，光轴段与外螺纹段共轴线，光轴段的外径小于外螺纹段的大径。

在上述技术方案中，所述过渡段、手柄段和外螺纹段共轴线。

在上述技术方案中，所述过渡段的外径小于外螺纹段的小径。

在上述技术方案中，所述手柄段的外径大于于外螺纹段的外径。

在上述技术方案中，所述光轴段的外表面粗糙度小于1.6μm。

在上述技术方案中，所述外螺纹段的外表面粗糙度小于1.6μm。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型提供了一种孔类尺寸及形位综合检具，可实现连续阶梯孔的工件的尺寸及形位误差同时检测，解决传统检测方法无法实现有效检测的问题。

附图说明

图1是本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具的主视图；

图2是本实用新型实施例1中被测工件的剖视图；

图3是本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具检测实施例1中被测工件时的使用状态图。

其中：

1检具主体

11光轴段12外螺纹段

13过渡段14手柄段

2被测工件。

对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，可以根据以上附图获得其他的相关附图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型技术方案，下面结合说明书附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型一种孔类尺寸及形位综合检具的技术方案。

实施例1

如图1、3所示，一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体1，其包括依次连接的光轴段11、外螺纹段12、过渡段13和手柄段14，光轴段11与外螺纹段12共轴线，光轴段11的外径小于外螺纹段12的大径。

所述过渡段13、手柄段14和外螺纹段12共轴线。

所述过渡段13的外径小于外螺纹段12的小径。

所述手柄段14的外径大于于外螺纹段12的外径。

所述光轴段11用于检测被测工件2的阶梯孔的通孔段。光轴段11采用磨削加工的方式成型，并经过热处理提高耐磨性，其外径尺寸依据光滑极限量规国家标准通过计算得到。外表面粗糙度要求小于1.6μm，避免测量时划伤工件2；与基准的同轴度要求，根据被检孔的设计尺寸和形位公差要求确定，一般小于设计精度的1/10。

所述外螺纹段12用于检测被测工件2的阶梯孔的螺孔段。外螺纹段12采用精密车削或磨削加工，为检具的设计基准，并经过热处理提高耐磨性，其几何尺寸依据螺纹塞规国家标准通过计算得到。外表面粗糙度要求小于1.6μm，避免测量时划伤工件2；为了保证螺纹检测时顺利旋入被检螺孔，其圆度设计根据被检螺孔的设计尺寸和形位公差要求确定，一般小于设计精度的1/5。

由于光轴段11和外螺纹段12严格的同轴度要求，可在检测内径尺寸的同时，实现对同轴度的检测。

所述光轴段11和螺纹段12之间进行清根处理，避免加工留存的毛刺划伤工件。

所述过渡段13便于检具主体1进出被测工件2。

所述手柄段14用于使用者握持检具主体1，便于使用。

本实施例中的被测工件2的结构如图2所示，所述被测工件2为圆柱型结构，中间形成阶梯孔，阶梯孔的上段为螺纹孔，下段为光孔，且螺纹孔孔径大于光孔孔径。

本实用新型的使用方法为：

将综合检具1沿轴向方向插入被测工件2螺孔内，当检具1螺纹段与被测工件2内螺孔接触式，开始旋入检具1。若检具1可顺利旋入并旋出，表明工件2的阶梯孔的尺寸及形位公差合格；若在检具1外螺纹未接触工件2螺孔时，即出现配合困难，表明被测工件2光孔不符合要求，此时，不再检测螺孔；若光孔段可顺利配合，旋入螺孔时出现配合困难，表明螺孔不符合设计要求。

本实用新型可满足设计有连续光孔和螺孔的工件尺寸及形位误差检验使用，检具在准确检测连续阶梯孔尺寸的同时，检验了孔间的同轴度和圆度，实现了几何尺寸和形位误差的同步检测。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本实用新型中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

申请人声明，以上所述仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，所属技术领域的技术人员应该明了，任何属于本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，均落在本实用新型的保护范围和公开范围之内。

技术特征：

1.一种孔类尺寸及形位综合检具，其特征在于：包括检具主体（1），其包括依次连接的光轴段（11）、外螺纹段（12）、过渡段（13）和手柄段（14），光轴段（11）与外螺纹段（12）共轴线，光轴段（11）的外径小于外螺纹段（12）的大径。

2.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具，其特征在于：所述过渡段（13）、手柄段（14）和外螺纹段（12）共轴线。

3.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具，其特征在于：所述过渡段（13）的外径小于外螺纹段（12）的小径。

4.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具，其特征在于：所述手柄段（14）的外径大于于外螺纹段（12）的外径。

5.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具，其特征在于：所述光轴段（11）的外表面粗糙度小于1.6μm。

6.根据权利要求1所述的孔类尺寸及形位综合检具，其特征在于：所述外螺纹段（12）的外表面粗糙度小于1.6μm。

技术总结
本实用新型公开了一种孔类尺寸及形位综合检具，包括检具主体，其包括依次连接的光轴段、外螺纹段、过渡段和手柄段，光轴段与外螺纹段共轴线，光轴段的外径小于外螺纹段的大径。本实用新型可满足设计有连续光孔和螺孔的工件尺寸及形位误差检验使用，检具在准确检测连续阶梯孔尺寸的同时，检验了孔间的同轴度和圆度，实现了几何尺寸和形位误差的同步检测。

技术研发人员：王斌;殷红秋;杨建华
受保护的技术使用者：中核(天津)科技发展有限公司
技术研发日：2020.01.09
技术公布日：2020.07.28