一种触控显示模组一体化电性能测试其装置的制作方法

本实用新型涉及光电显示技术领域，具体为一种触控显示模组一体化电性能测试其装置。

背景技术：

现有的触控显示模组产品电测工序大都是电容式触摸屏与显示模组分开进行电测，需要进行独立的两次测试，而且因为两部分是独立的驱动系统，且电测程序、方法均不相同，导致工艺路线分开进行，浪费人力成本的同时效率低下。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种触控显示模组一体化电性能测试其装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种触控显示模组一体化电性能测试其装置，包括触摸屏测试板和显示模组测试架，所述触摸屏测试板和显示模组测试架均电性连接于一体转接电路板，所述一体转接电路板电性连接有触控显示一体模组，所述触控显示一体模组包括触摸屏和显示模组；

所述一体转接电路板上对称设置有两组完全相同的引脚排，每组引脚排的引脚设置有40个，依次分别为led-、led+、rst、gnd、te、d3n、cab、d3p、id、gnd、avdd、d2n、vgh、d2p、vgl、gnd、vcom、ckn、nc、ckp、nc、gnd、nc、d1n、nc、d1p、nc、gnd、nc、don、nc、dop、vsn、gnd、vsp、vcc、gnd、1.8v、5v，所述显示模组测试架上的1-40个引脚依次连接在上侧引脚排上；

两组所述引脚排之间设置有5v、10vcc、vcc、vsp、vsn、vgl、vgh、avdd、reset、bl-、bl+，用来上、下连接两组引脚排的对应引脚；

所述一体转接电路板一侧设置有8个引脚，分别为scl、sda、rst-t、tx-p、rx-p、id2、io2、gnd,其中，引脚scl、sda、rst-t、tx-p、rx-p、id2、io2分别连接在下侧引脚排的七个nc引脚上，所述触摸屏测试板上的1-8个引脚依次连接在一体转接电路板一侧的8个引脚上。

优选的，所述触控显示一体模组的1-40个引脚分别对应连接在所述一体转接电路板上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型将电容式触摸屏与显示模组通过一体测试器件转接电路板进行同步电测，有效的提高作业人员进行电学性能的测试效率，杜绝两次电测工序，提高整体的生产测试效率的同时节省人工成本；减少电测次数的同时也降低了产品因周转，测试环境变化导致的外观、功能损伤的风险。

附图说明

图1为本实用新型的测试装置整体结构示意图；

图2为本实用新型的一体转接电路板的正面引脚结构连接示意图；

图3为本实用新型的一体转接电路板的背面引脚结构连接示意图；

图4为本实用新型的显示模组测试架引脚示意图；

图5为本实用新型的触摸屏测试板引脚示意图；

图6为本实用新型的触控显示一体模组引脚示意图；

图7为本实用新型的显示模组测试架连接引脚示意图；

图8为本实用新型的触摸屏测试板连接引脚示意图；

图9为本实用新型的触控显示一体模组连接引脚示意图。

图中：1计算机、2触摸屏测试板、3显示模组测试架、4一体转接电路板、5触摸屏、6显示模组、7触控显示一体模组、8lcm测试架。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-9，本实用新型提供一种技术方案：

一种触控显示模组一体化电性能测试其装置，包括触摸屏测试板2和显示模组测试架3，触摸屏测试板2和显示模组测试架3均电性连接于一体转接电路板4，如说明书附图7和附图8所示，一体转接电路板4电性连接有触控显示一体模组7，触控显示一体模组7的1-40个引脚分别对应连接在一体转接电路板4上，触控显示一体模组7包括触摸屏5和显示模组6。

一体转接电路板4上对称设置有两组完全相同的引脚排，每组引脚排的引脚设置有40个，依次分别为led-、led+、rst、gnd、te、d3n、cab、d3p、id、gnd、avdd、d2n、vgh、d2p、vgl、gnd、vcom、ckn、nc、ckp、nc、gnd、nc、d1n、nc、d1p、nc、gnd、nc、don、nc、dop、vsn、gnd、vsp、vcc、gnd、1.8v、5v，显示模组测试架3上的1-40个引脚依次连接在上侧引脚排上，其中的gnd引脚全部接地，两组引脚排之间设置有5v、10vcc、vcc、vsp、vsn、vgl、vgh、avdd、reset、bl-、bl+，用来上、下连接两组引脚排的对应引脚，一体转接电路板4一侧设置有8个引脚，分别为scl、sda、rst-t、tx-p、rx-p、id2、io2、gnd,其中，引脚scl、sda、rst-t、tx-p、rx-p、id2、io2分别连接在下侧引脚排的七个nc引脚上，触摸屏测试板2上的1-8个引脚依次连接在一体转接电路板4一侧的8个引脚上，一体转接电路板4的全部gnd引脚全部接地。

在一体转接电路板4的引脚上对应连接上触摸屏测试板2和显示模组测试架3，触摸屏测试板2和显示模组测试架3分别为j2和j3,其引脚分别对应的连接在一体转接电路板4上；

将触摸屏测试板2的引脚连接在tp测试板上，且将tp测试板另外一端的转接线接在计算机1上，将显示模组测试架3的引脚连接上lcm测试架8并通电；

使触摸屏5和显示模组6均连接至一体转接电路板4上的对应引脚上，同步进行电性能测试，即可通过一体测试器件转接电路板进行同步电测，有效的提高作业人员进行电学性能的测试效率，杜绝两次电测工序。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

1.一种触控显示模组一体化电性能测试其装置，包括触摸屏测试板(2)和显示模组测试架(3)，其特征在于：所述触摸屏测试板(2)和显示模组测试架(3)均电性连接于一体转接电路板(4)，所述一体转接电路板(4)电性连接有触控显示一体模组(7)，所述触控显示一体模组(7)包括触摸屏(5)和显示模组(6)；

所述一体转接电路板(4)上对称设置有两组完全相同的引脚排，每组引脚排的引脚设置有40个，依次分别为led-、led+、rst、gnd、te、d3n、cab、d3p、id、gnd、avdd、d2n、vgh、d2p、vgl、gnd、vcom、ckn、nc、ckp、nc、gnd、nc、d1n、nc、d1p、nc、gnd、nc、don、nc、dop、vsn、gnd、vsp、vcc、gnd、1.8v、5v，所述显示模组测试架(3)上的1-40个引脚依次连接在上侧引脚排上；

两组所述引脚排之间设置有5v、10vcc、vcc、vsp、vsn、vgl、vgh、avdd、reset、bl-、bl+，用来上、下连接两组引脚排的对应引脚；

所述一体转接电路板(4)一侧设置有8个引脚，分别为scl、sda、rst-t、tx-p、rx-p、id2、io2、gnd,其中，引脚scl、sda、rst-t、tx-p、rx-p、id2、io2分别连接在下侧引脚排的七个nc引脚上，所述触摸屏测试板(2)上的1-8个引脚依次连接在一体转接电路板(4)一侧的8个引脚上。

2.根据权利要求1所述的一种触控显示模组一体化电性能测试其装置，其特征在于：所述触控显示一体模组(7)的1-40个引脚分别对应连接在所述一体转接电路板(4)上。

技术总结
本实用新型公开了一种触控显示模组一体化电性能测试装置，包括触摸屏测试板和显示模组测试架，所述一体转接电路板上对称设置有两组完全相同的引脚排，每组引脚排设置有40个，依次分别为LED‑、LED+、RST、GND、TE、D3N、CAB、D3P、ID、GND、AVDD、D2N、VGH、D2P、VGL、GND、VCOM、CKN、NC、CKP、NC、GND、NC、D1N、NC、D1P、NC、GND、NC、DON、NC、DOP、VSN、GND、VSP、VCC、GND、1.8V、5V。本实用新型将电容式触摸屏与显示模组通过一体测试器件转接电路板进行同步电测，有效的提高作业人员进行电学性能的测试效率，杜绝两次电测工序，提高整体的生产测试效率的同时节省人工成本；减少电测次数的同时也降低了产品因周转，测试环境变化导致的外观、功能损伤的风险。

技术研发人员：郑琦林;刘月豹;熊立军;廖晓芮;张阳;叶飞
受保护的技术使用者：安徽方兴光电新材料科技有限公司
技术研发日：2020.01.13
技术公布日：2020.09.22