一种边缘接触式测试针的制作方法

本实用新型涉及电路板检测的技术领域，尤其是涉及一种边缘接触式测试针。

背景技术：

目前在电路板的生产过程中，在电路板出厂前，需要对每条线路做短路和断路检测，即用多组测试针对每条线路做检测。

现有的测试针包括针管和测试头，针管和测试头由导电金属制成，一般测试头比较细小，使用时将测试头直接插入到电孔中，使测试头和电孔侧壁的导电材料接触。

上述中的现有技术方案存在以下缺陷：直接将测试头插入电孔中，就存在测试头直接穿过电孔而导致不与导电部位接触的情况，影响测量结果。

技术实现要素：

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的之一是提供一种边缘接触式测试针，具有可从电孔边缘外周进行检测的效果。

本实用新型的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种边缘接触式测试针，包括针管和测试头，针管为一端开口的中空设置，测试头的一端同轴滑动穿设于针管内，在针管内沿长度方向设有第一弹簧，第一弹簧两端分别固定于针管和测试头，测试头包括抵针和探针，探针的一端穿设于针管内，探针远离针管的一端为中空的开口设置，抵针的一端同轴滑动穿设于探针内，在探针内沿长度方向设有第二弹簧，第二弹簧两端分别固定于探针和抵针，探针和针管均由导电金属制成。

通过采用上述技术方案，在用该测试针进行电路板的检测时，将抵针对准电孔，然后在测试针下落的过程中，探针会逐渐下降，由于探针和抵针同轴且探针的直径大于抵针，因此在下降过程中探针最终会抵接于电路板表面而非从电孔中穿过，又由于探针和抵针同轴，所以探针开口处圆环形的端面就会同轴抵接于电孔外周的导电层，此时导电金属制成的探针和针管就与电孔形成通路，就可进行测试。区别于传统的测试针，该方案的测试针探接点为电孔上方周边的导电区域，因此就不存在探针从电孔中间直接穿过而不进行接触的情况，减少误判的情况。

上述为所测电孔的直径大于抵针的情况，当电孔的直径小于抵针时，由于抵针和探针为滑动连接，因此探针还是可以继续下降，测试针也可正常使用，此时第二弹簧压缩，方便之后抵针的复位。而在探针抵接到电路板后，在针管内第一弹簧的缓冲作用下，就可防止测试针下压过度而造成电路板的损坏，也可方便之后探针的复位。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：抵针远离探针的一端为圆弧面设置。

通过采用上述技术方案，探针的端面成圆弧面设置，使其在测试时能起到导向面的作用，使探针更容易插入或者同轴抵接于电孔，提高测试的效率。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：抵针远离探针的一端设有柔性的垫层。

通过采用上述技术方案，在抵针下降的过程中柔性的垫层可起到缓冲压力作用，减少抵针对电路板和电孔的损坏。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：探针远离针管一侧的端面成弧面设置。

通过采用上述技术方案，在探针和电孔的导电层抵接的过程，圆弧形的端面不易刮损电孔的导电层，减少电路板的损坏。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：探针包括探针座和探针头，探针座与针管连接，探针座远离针管的一端为开口的中空设置，在探针座的开口处设有环形的连接部，探针头为环形的套筒形，探针头同轴螺纹连接于连接部，抵针同轴穿设于探针头且穿入探针座内部，第二弹簧设于探针座内部，抵针远离探针座的一端露出于探针头端面。

通过采用上述技术方案，使探针分为两部分，其中探针头可拆卸，当探针头破损时，就可对其进行更换，并且还可根据不同的工况更换不同形状的探针头。更换时只需旋转探针头，在沿抵针方向取出即可，安装过程同理。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：探针座的开口处为收口设置，且收口的形状和抵针的横截面相同，在抵针靠近探针座的一端设有限位部，限位部的侧边抵接于探针座的侧壁。

通过采用上述技术方案，在限位部的限位作用下，抵针就不会从探针座中脱出，确保测试针的正常使用。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：在针管的内壁上沿长度方向设有限位槽，在探针座穿入针管一端的侧壁上设有限位块，限位块滑动连接于限位槽内。

通过采用上述技术方案，探针座上的限位块可对其起到周向限位的作用，防止在探针头拆卸和安装的过程中探针座产生转动，方便探针头的拆装。

本实用新型在一较佳示例中可以进一步配置为：在探针的侧壁上沿周向设有限位环。

通过采用上述技术方案，可对探针和针管的相对滑动进行限位。由于在抵针抵接到电孔后，探针和针管还会继续下降，如若出现抵针和探针之间相对滑动阻力大于探针和针管之间相对滑动阻力的情况，则会出现针管继续下降而探针不动的情况，最终导致探针无法与电路板接触，而限位环则可以防止这种情况的出现，在针管下降的过程中，限位环可对其进行限位，在针管的端面抵接限位环后，探针就可正常下降。

综上所述，本实用新型包括以下至少一种有益技术效果：

1.测试时探针和电孔的周边接触，防止出现探针从电孔穿过而不接触的情况；

2.测试过程中不易损坏电路板和电孔；

3.探针头可更换；

4.测试针的运作过程稳定，对抵针、探针和针管均有限位。

附图说明

图1为实施例的结构示意图；

图2为实施例的剖视图。

图中，10、针管；11、第一弹簧；12、限位槽；20、测试头；21、抵针；211、垫层；212、限位部；22、探针；221、探针座；222、探针头；23、第二弹簧；24、连接部；25、限位块；26、限位环。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

参照图1和图2，为本实用新型公开的一种边缘接触式测试针，包括圆柱形的针管10和测试头20，针管10为一端开口的中空设置，测试头20的一端同轴滑动穿设于针管10内，在针管10内沿长度方向设有第一弹簧11，第一弹簧11两端分别固定于针管10和测试头20。在进行测试时，通过将测试头20抵接至电孔处使其形成通路，即可进行测试，第一弹簧11可以起到缓冲作用，防止测试头20在抵接之后对电路板过度挤压造成损坏。

参照图2，测试头20包括圆柱形的抵针21和探针22，探针22的一端穿设于针管10内，探针22远离针管10的一端为中空的开口设置，抵针21的一端同轴滑动穿设于探针22内，在探针22内沿长度方向设有第二弹簧23，第二弹簧23两端分别固定于探针22和抵针21，探针22和针管10均由导电金属制成。抵针21远离探针22的一端设有柔性的垫层211，且抵针21远离探针22的一端为圆弧面设置。探针22远离针管10一侧的端面成弧面设置。在测试过程中，抵针21可起到定位的作用，下降时抵针21会先和电孔接触，然后探针22继续下降，抵针21辅助探针22使其同轴抵接到电孔周边。

参照图2，探针22包括探针座221和探针头222，探针座221与针管10连接，探针座221远离针管10的一端为开口的中空设置。在探针座221的开口处固定有环形的连接部24，探针头222为环形的套筒形，探针头222同轴螺纹连接于连接部24，抵针21同轴穿设于探针头222且穿入探针座221内部，第二弹簧23设于探针座221内部，抵针21远离探针座221的一端露出于探针头222端面。探针22分为两部分，其中探针头222为可拆卸，当其损坏时，就可对其进行更换。

参照图2，探针座221的开口处为收口设置，且收口的形状和抵针21的横截面相同，在抵针21靠近探针座221的一端设有限位部212，限位部212的侧边抵接于探针座221的侧壁，限位部212可防止抵针21从探针座221中脱出。在针管10的内壁上沿长度方向设有限位槽12，在探针座221穿入针管10一端的侧壁上设有限位块25，限位块25滑动连接于限位槽12内，限位块25可防止探针座221产生周向的转动。在探针22的侧壁上沿周向设有限位环26，限位环26则可防止针管10优先于探针22进行下降，保证了探针22可与电孔正常抵接。

本实施例的实施原理为：

1.用该测试针进行电路板的检测时，将抵针21对准电孔，然后在测试针下落的过程中，探针22会逐渐下降，由于探针22和抵针21同轴且探针22的直径大于抵针21，因此在下降过程中探针22最终会抵接于电路板表面而非从电孔中穿过，又由于探针22和抵针21同轴，所以探针22开口处圆环形的端面就会同轴抵接于电孔外周的导电层，此时导电金属制成的探针22和针管10就与电孔形成通路，就可进行测试。

2.上述为所测电孔的直径大于抵针21的情况，当电孔的直径小于抵针21时，由于抵针21和探针22为滑动连接，因此探针22还是可以继续下降，测试针也可正常使用，此时第二弹簧23压缩，方便之后抵针21的复位。而在探针22抵接到电路板后，在针管10内第一弹簧11的缓冲作用下，就可防止测试针下压过度而造成电路板的损坏，也可方便之后探针22的复位。

3.由于探针座221和探针头222为螺纹连接，所以探针头222可更换，防止探针头222损坏后影响测试结果。

4.在使用过程中，如若出现抵针21和探针22之间相对滑动阻力大于探针22和针管10之间相对滑动阻力的情况，则在针管10下降的过程中，限位环26可对其进行限位，在针管10的端面抵接限位环26后，探针22就可正常下降。

本具体实施方式的实施例均为本实用新型的较佳实施例，并非依此限制本实用新型的保护范围，故：凡依本实用新型的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本实用新型的保护范围之内。