本实用新型涉及芯片管脚测试技术领域，具体是一种芯片管脚用测试装置。
背景技术：
当前自动化控制发展迅速,控制芯片的功能趋于更加的复杂化和多样化，其芯片本身来实现众多的复杂功能。对芯片外部来说基本通过管脚复用的形式来实现芯片各种功能的分时复用。芯片功能和外部管脚的复用同样的越加趋于复杂化，现有的芯片管脚检测开短路测试装置的测试探针都是裸露在外面,易受到空气中的污染物腐蚀,使得测试装置的灵敏度下降；
为此申请号为201720929304.5的专利中提出了一种芯片管脚检测开短路测试装置，其通过手动转动螺纹杆可调整其中一个探针的位置，使得装置可适应不同的芯片，通过将手动转动另一个螺纹杆来将探针收纳在盒体内部，以避免探针暴露在空气中，这种方式操作麻烦。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种芯片管脚用测试装置，以解决现有技术中手动调节其中一个探针的位置比较麻烦，并且手动将探针收回合体内部较为麻烦的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片管脚用测试装置，包括底座，所述底座的上方两侧均设置有支撑侧板，两个所述支撑侧板的上端之间安装有上撑板，所述上撑板上安装有并排的液压缸，所述液压缸的下端固定有升降盒，所述升降盒的内部上方转动安装有横向的电驱双向丝杆，所述电驱双向丝杆上螺纹连接有对称的螺母，所述螺母的下表面固定有探针，所述升降盒上与探针对应的位置开设有第一通孔，所述探针的下部穿过第一通孔，所述底座的上表面中部安装有桥型架，所述桥型架的上表面与探针对应的位置设置有保护外壳，所述桥型架上与保护外壳对应的位置开设有第二通孔。
优选的，所述升降盒的内部固定有横向的导向杆，所述导向杆横向穿过螺母的下部。
优选的，所述升降盒的一侧安装有用以驱动电驱双向丝杆转动的驱动装置，驱动装置包括与电驱双向丝杆相固定的从动轮、设置在从动轮下方的主动轮、用以连接从动轮与主动轮的皮带以及用以驱动主动轮转动的电机。
优选的，所述升降盒的两侧上下方均固定有连接杆，且连接杆远离升降盒的一端固定有滑块，所述支撑侧板的内侧开设有滑道，滑块插入滑道的内部。
优选的，所述电驱双向丝杆的两端通过轴承与升降盒转动连接。
优选的，所述第一通孔的横向长度大于保护外壳的长度。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型设置了电驱双向丝杆，通过驱动装置可使得电驱双向丝杆转动，进而使得两个探针之间的距离可调节，以满足不同尺寸的芯片，操作也较为方便；
2、本实用新型设置了保护外壳，在探针下降进行探测时，探针将脱离保护外壳，其余时间均位于保护外壳内部，避免探针暴露在空气中，并且不需要主动将探针收回，操作也较为简单。
附图说明
附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型升降盒的内部结构示意图；
图3为图1的a区放大图。
图中：1、底座；2、桥型架；21、第二通孔；3、支撑侧板；31、滑道；4、连接杆；41、滑块；5、上撑板；6、液压缸；7、升降盒；71、第一通孔；8、电驱双向丝杆；9、驱动装置；91、从动轮；92、皮带；93、主动轮；94、电机；10、导向杆；11、螺母；12、探针；13、保护外壳。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1所示，本实用新型实施例中，一种芯片管脚用测试装置，包括底座1，底座1的上方两侧均设置有支撑侧板3，两个支撑侧板3的上端之间安装有上撑板5，上撑板5上安装有并排的液压缸6，液压缸6的下端固定有升降盒7，液压缸6共设置有两个，其用于带动升降盒7进行升降；
继续参照图1所示，升降盒7的两侧上下方均固定有连接杆4，且连接杆4远离升降盒7的一端固定有滑块41，支撑侧板3的内侧开设有滑道31，滑块41插入滑道31的内部，在升降盒7升降时，滑块41可在滑道31的内部上下运动，以便于升降盒7的升降能够竖直，不会产生偏歪；
结合图1和图2所示，升降盒7的内部上方转动安装有横向的电驱双向丝杆8，电驱双向丝杆8的两端通过轴承与升降盒7转动连接，升降盒7的一侧安装有用以驱动电驱双向丝杆8转动的驱动装置9，驱动装置9包括与电驱双向丝杆8相固定的从动轮91、设置在从动轮91下方的主动轮93、用以连接从动轮91与主动轮93的皮带92以及用以驱动主动轮93转动的电机94，电机94通过主动轮93、从动轮91和皮带92带动电驱双向丝杆8正反转动；
继续参照图1和图2所示，电驱双向丝杆8上螺纹连接有对称的螺母11，螺母11的下表面固定有探针12，升降盒7的内部固定有横向的导向杆10，导向杆10横向穿过螺母11的下部，电驱双向丝杆8正反转动时，可带动螺母11作水平方向的往复运动，以便于调整两个螺母11之间的距离，进而调整两个探针12之间的距离，以适应不同的芯片管脚；
结合图1、图2和图3所示，升降盒7上与探针12对应的位置开设有第一通孔71，探针12的下部穿过第一通孔71，底座1的上表面中部安装有桥型架2，桥型架2的上表面与探针12对应的位置设置有保护外壳13，第一通孔71的横向长度大于保护外壳13的长度，桥型架2上与保护外壳13对应的位置开设有第二通孔21，探针12在水平运动时，第一通孔71由于空间较大，可适应探针12的左右运动，保护外壳13可对探针12的下端起到保护作用，在升降盒7下降时，保护外壳13可通过第一通孔71插入升降盒7的内部，而探针12可穿过第二通孔21进行探测工作。
本实用新型的工作原理及使用流程：在使用本装置时，将待测试的芯片置于底座1的上表面中部，然后驱动液压缸6，液压缸6伸长带动升降盒7下降，升降盒7带动内部零件向下移动，此时的保护外壳13即可插入升降盒7的内部，探针12即可穿过第二通孔21来对芯片管脚进行测试；
在不进行测试时，探针12位于升降盒7和保护外壳13的内部，所以探针12不会暴露在空气中；
在进行测试时，对于不同的芯片来说，管脚的距离不同，可通过驱动装置9来带动电驱双向丝杆8转动，电驱双向丝杆8正反转动时，可带动螺母11作水平方向的往复运动，以便于调整两个螺母11之间的距离，进而调整两个探针12之间的距离，以适应不同的芯片管脚，操作方便。
最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。