蛇形弹片针组件的制作方法

[0001]
本实用新型涉及电子测试技术领域，具体涉及蛇形弹片针组件。


背景技术：

[0002]
测试制程乃是于ic封装后，测试封装完成的产品的电性功能，以保证出厂ic功能上的完整性，并对已测试的产品依其电性功能作分类，作为ic不同等级产品的评价依据，最后并对产品作外观检验作业。
[0003]
电性功能测试乃针对产品之各种电性参数进行测试以确定产品能正常运作。
[0004]
传统的同一被测端子上两点接触的测试如开尔文测试等，多采用双顶针或双金手指平行并列分布的方式，随着半导体产品尺寸的不断缩小，被测端子的尺寸以及不同被测端子间的间距也在不断缩小，为了顺应这一趋势，传统平行并列分布的双顶针或双金手指测试方式在其密间距的问题上瓶颈日益突出，精度要求越来越高，有些甚至已无法实现了，为了在被测端子上有限的空间内实现两点接触测试，顶针或金手指相应越来越细，其机械结构强度也越来越弱，传统的顶针或金手指的测试接触头较易受磨损，尤其在精度提出更高要求、机械强度相对较低时，磨损程度更大，进而降低了测试治具的使用寿命，为顺应半导体轻薄短小的发展需求，越来越细的顶针或金手指所产生的电阻值不断增大，同时在进行大电流测试时，会产生较大的压降而影响测试数值的判断；另一方面，平行并列分布的双顶针或双金手指的也容易因两者间的位移偏差而产生测试数值的偏差；此外，传统并列分布的双顶针为了缩小两针间的距离而采用两个背对斜面的接触方式，接触头容易因其整体结构中弹簧伸缩的扭力而旋转出被测端子进而影响测试精度。
[0005]
公开号为cn209656848u的一种终端主板性能测试治具，包括检测设备，检测设备上表面设有机架，机架包括托板和压板，托板两端分别设有半圆形的延伸件，延伸件内穿设有导向轴，导向轴一端与检测设备上表面固定连接，导向轴另一端穿过压板向上延伸；托板中部设有位移机构，位移机构上表面安置有主板治具；压板中部设有模板通槽，模板通槽下表面设有若干限位块，模板通槽内部设有测试针板，测试针板上表面设有若干pcb转接板，pcb转接板下方设有探针，探针穿过测试针板延伸向下；pcb转接板与检测设备电性连接；机架背侧设有气缸，气缸包括缸体和活塞，缸体与托板固定连接，活塞与压板固定连接，具有结构合理、操作方便、适应性好和工作效率高的优点。
[0006]
但是上述现有技术仍存在以下缺陷：(1)结构强度较弱；(2)使用寿命较短；(3)测试精度较低。


技术实现要素：

[0007]
本实用新型所要解决的技术问题：提供一种适应性好、结构强度强、并能较高的提升测试精度的一种蛇形弹片针组件。
[0008]
本实用新型的基本方案为：蛇形弹片针组件，包括模芯、异形弹片针和封板，所述异形弹片针包括弹片针头部、弹片针本体和弹片针尾部，且所述弹片针头部、弹片针本体和
弹片针尾部一体成型，所述弹片针头部的自由端设有测试体接触端，所述弹片针本体的首端与弹片针头部连接，所述弹片针本体的末端与弹片针尾部连接，所述弹片针尾部远离弹片针本体的一侧设有导通接触端，所述模芯开有自上而下贯通的第一插孔，所述异形弹片针穿过所述第一插孔，且所述异形弹片针的弹片针头部穿过所述模芯的第一插孔上方，所述测试体接触端延伸在第一插孔外部，所述弹片针本体置于所述第一插孔内，所述封板上开有第二插孔，所述弹片针尾部穿过第二插孔，且所述导通接触端延伸到第二插孔外部。
[0009]
为了确保产品能够正常运作，电性功能测试是非常必要的，现有技术在测试时，特别是利用两点接触进行测试时，多采用双顶针和双金手指平行的测试方法，但是这种方法所适用的测试组件存在制造精度低、测试精度低的问题，而本实用新型所提出的一种用于电性性能测试的蛇形弹片针组件，由模芯、异形弹片针和封板三个部分构成，结构简单，异形弹片针采用一体成型，可以提高制造精度以及生产速率，异形弹片针的弹片针本体置于模芯的第一插孔内，异形弹片针的弹片针尾部穿过封板的第二插孔，通过两端接触导通信号，使被测试体的信号导出并达到测试功能效果，且可自由取出和装入模芯里达到便于更换的效果。
[0010]
因此除了测试体接触端和导通接触端暴露在外，异形弹片针的绝大部分均在模芯内，模芯对异形弹片针既起到限位的作用，也起到保护的作用，可防止异形弹片针的弹片针本体受到其他物体剐蹭，而降低测试精度，且本技术方案中的接触端并没有采用针头式的单点接触，扩大了与待测物体、pcb转接板的接触领域，防止测试时，异形弹片针与待测物体、pcb转接板的接触点发生错位，并且保证了测试精度，此外，相对于针头式的弹片针而言，异形弹片针的形状不是规则的圆柱体或者长条状，具有较好的结构强度，异形弹片针每次使用的接触点都不唯一，使用时的适应性好，并且减小了测试体接触端、导通接触端的磨损，延伸了使用寿命。
[0011]
优选地，所述弹片针尾部的导通接触端具有两个，两个导通接触端分别为第一导通接触端和第二导通接触端，所第一导通接触端和第二导通接触端处于同一水平线上，且所述第一导通接触端和第二导通接触端之间设有矩形凹槽，所述第一导通接触端穿过封板上的第二插孔时，所述矩形凹槽与所述封板上表面贴合，且所述第一导通接触端和第二导通接触端均延伸至封板外部。
[0012]
在具体使用时，弹片针尾部的导通接触端与pcb接触板接触，在此，导通接触端设为两个，分别为第一导通接触端和第二导通接触端，第一导通接触端和第二导通接触端与pcb转接板双重接触，增大了异形弹片针与pcb转接板的接触面积，因此，当第一导通接触端和第二导通接触端中的任意一个发生问题或者不能与pcb转接板接触时，整个蛇形弹片针组件任然能够正常工作。
[0013]
优选地，所述模芯上设有两排第一插孔，每排第一插孔的数量为若干，且所述两排第一插孔呈镜像对称，所述封板上设有两排第二插孔，所述第二插孔的数量与第一插孔的数量相同，所述每个第一插孔内均设有一个异性弹片针，且所述两排第一插孔内的异性弹片针呈镜像对称。
[0014]
随着现在技术的发展，半导体产品的尺寸不断缩小、结构不断发生改变，被测端子的尺寸以及不同被测端子间的间距也在不断缩小，因此，在模芯和封板之间设有多个异形弹片针，不仅能够同时测试多个产品，还能够对同一个产品的多个点进行同时测试，保证测
试精度。
[0015]
优选地，所述模芯的底部的四个角各设有一个固定柱，所述封板上四个角落开有四个固定孔，所述模芯上的固定柱与封板上的固定孔一一对应。
[0016]
利用固定柱和固定块的配合实现模芯和封板之间的定位，限制模芯和封板之间的水平移动，并能使所有的第一插孔、第二插孔实现配合，便于将整个蛇形弹片针组件安装在pcb转接板上进行使用。
[0017]
优选地，所述模芯底部的四个固定柱分别为两个长固定柱和两个短固定柱，处于同一对角线上的两个固定柱的长度相同。
[0018]
在将模芯安装在封板上，如果四个固定柱的长度一致，需要将四个固定柱的轴线与四个固定孔的轴线均对齐才能够顺利将模芯安装在封板上，而将四个固定柱设置为两个长固定柱和两个短固定柱，处于同一对角线上的两个固定柱的长度相同，只需要将同一对角线上的固定柱的轴线和固定块的轴线对齐就能够顺利的完成模芯和封板的安装。
[0019]
优选地，所述模芯左右两侧各设有一个卡槽，所述封板的左右两侧各设有一个卡键，所述封板上的卡键与所述模芯上的卡槽卡合。
[0020]
利用卡键和卡槽的配合，实现封板和模芯之间的固定，防止在测试过程中，封板和模芯之间发生相对移动而降低测试精度。
[0021]
优选地，所述弹片针本体为单蛇形或者双蛇形，且所述弹片针本体的弯曲部分至少形成一个波峰和一个波谷。
[0022]
待测试物体在异形弹片针上方进行测试时，待测试物体的重力作用到异形弹片针上，将弹片针本体设有单蛇形或者双蛇形，弹片针本体之间的弯曲部分发生挤压，而传递到测试体接触端、导通接触端的作用力减小，因此可以减小测试体接触端、导通接触端的磨损，延长异形弹片针的使用寿命，而单蛇形和双蛇形的主要差异在于弹力不同，单蛇形的弹力大于双蛇形的弹力，因此，可根据实际使用时待测物体的自身重力选择合适的异性弹片针。
[0023]
优选地，所述弹片针头部呈长条形，且所述弹片针头部上开有通孔。
[0024]
弹片针头部与待测物体接触，弹片针头部上开设通孔可以减小异形弹片针整体的弹力。
[0025]
优选地，所述测试体接触端和第一导通接触端为锯齿形或不规则伞形，所述第二导通接触端为平头。
[0026]
可针对不同被测试体选择合适的异形弹片针。
[0027]
本实用新型的工作原理在于：
[0028]
将整个蛇形弹片针组件安装与pcb转接板上方，且蛇形单片组件上方放置待测物体(可通过承载结构放置待测物体)，蛇形弹片针组件，由模芯、异形弹片针和封板三个部分构成，异形弹片针的弹片针本体置于模芯的第一插孔内，异形弹片针的弹片针尾部穿过封板的第二插孔，因此除了测试体接触端和导通接触端暴露在外，通过两端接触导通信号，使被测试体的信号导出并达到测试功能效果，且可自由取出和装入模芯里达到便于更换的效果。
[0029]
本实用新型的优点在于：
[0030]
(1)结构简单，异形弹片针采用一体成型，可以提高制造精度以及生产速率；
[0031]
(2)除了测试体接触端和导通接触端暴露在外，异形弹片针的绝大部分均在模芯内，模芯对异形弹片针既起到限位的作用，也起到保护的作用，可防止异形弹片针的弹片针本体受到其他物体剐蹭，而降低测试精度；
[0032]
(3)形弹片针每次使用的接触点都不唯一，使用时的适应性好，并且减小了测试体接触端、导通接触端的磨损，延伸了使用寿命；
[0033]
(4)在模芯和封板之间设有多个异形弹片针，不仅能够同时测试多个产品，还能够对同一个产品的多个点进行同时测试，保证测试精度；
[0034]
(5)弹片针本体设有单蛇形或者双蛇形，弹片针本体之间的弯曲部分发生挤压，而传递到测试体接触端、导通接触端的作用力减小，因此可以减小测试体接触端、导通接触端的磨损，延长异形弹片针的使用寿命；
[0035]
(6)可针对不同被测试体选择合适的异形弹片针。
附图说明
[0036]
图1为本实用新型蛇形弹片针组件的整体结构图；
[0037]
图2为本实用新型蛇形弹片针组件的分解图；
[0038]
图3为本实用新型蛇形弹片针组件的封板的立体结构图；
[0039]
图4为本实用新型蛇形弹片针组件的模芯的立体结构图；
[0040]
图5为本实用新型蛇形弹片针组件的模芯的仰视图；
[0041]
图6为本实用新型蛇形弹片针组件的模芯的俯视图
[0042]
图7图6中a-a部的剖视图；
[0043]
图8为本实用新型蛇形弹片针组件的单蛇形弹片针的立体结构图；
[0044]
图9为本实用新型蛇形弹片针组件的双蛇形弹片针的立体结构图。
[0045]
附图中涉及到的附图标记有：模芯1，第一插孔101，长固定柱102，短固定柱103，安装孔104，卡槽105，异形弹片针2，弹片针头部201，弹片针本体202，弹片针尾部203，测试体接触端204，通孔205，第一导通接触端206，第二导通接触端207，矩形凹槽208，单蛇形本体209，双蛇形本体210，封板3，第二插孔302，固定孔302，卡键303。
具体实施方式
[0046]
下面通过具体实施方式进一步详细的说明：
[0047]
如图1至图9所示，为了确保产品能够正常运作，电性功能测试是非常必要的，现有技术在测试时，特别是利用两点接触进行测试时，多采用双顶针和双金手指平行的测试方法，但是这种方法所适用的测试组件存在制造精度低、测试精度低的问题，一种蛇形弹片针组件，由模芯1、异形弹片针2和封板3三个部分构成，结构简单，异形弹片针2包括弹片针头部201、弹片针本体202和弹片针尾部203，且弹片针头部201、弹片针本体202和弹片针尾部203一体成型。
[0048]
弹片针头部201的自由端设有测试体接触端204，弹片针本体202的首端与弹片针头部201连接，弹片针本体202的末端与弹片针尾部203连接，弹片针尾部203远离弹片针本体202的一侧设有导通接触端，模芯1开有自上而下贯通的第一插孔101，异形弹片针2穿过第一插孔101，且异形弹片针2的弹片针头部201穿过模芯1的第一插孔101上方，测试体接触
端204延伸在第一插孔101外部，弹片针本体202置于第一插孔101内，封板3上开有第二插孔302，弹片针尾部203穿过第二插孔302，且导通接触端延伸到第二插孔302外部，将整个蛇形弹片针组件安装与pcb转接板上方，且蛇形单片组件上方放置待测物体(可通过承载结构放置待测物体)，异形弹片针2的弹片针本体202置于模芯1的第一插孔101内，异形弹片针2的弹片针尾部203穿过封板3的第二插孔302，因此除了测试体接触端204和导通接触端暴露在外，通过两端接触导通信号，使被测试体的信号导出并达到测试功能效果，且可自由取出和装入模芯1里达到便于更换的效果(如图1所示)。
[0049]
除了测试体接触端204和导通接触端暴露在外，异形弹片针2的绝大部分均在模芯1内，模芯1对异形弹片针2既起到限位的作用，也起到保护的作用，可防止异形弹片针2的弹片针本体202受到其他物体剐蹭，而降低测试精度，且本技术方案中的接触端并没有采用针头式的单点接触，扩大了与待测物体、pcb转接板的接触领域，防止测试时，异形弹片针2与待测物体、pcb转接板的接触点发生错位，并且保证了测试精度，此外，相对于针头式的弹片针而言，异形弹片针2的形状不是规则的圆柱体或者长条状，具有较好的结构强度，异形弹片针2每次使用的接触点都不唯一，使用时的适应性好，并且减小了测试体接触端204、导通接触端的磨损，延伸了使用寿命。
[0050]
弹片针尾部203的导通接触端具有两个，两个导通接触端分别为第一导通接触端206和第二导通接触端207，所第一导通接触端206和第二导通接触端207处于同一水平线上，且第一导通接触端206和第二导通接触端207之间设有矩形凹槽208，第一导通接触端206穿过封板3上的第二插孔302时，矩形凹槽208与封板3上表面贴合，且第一导通接触端206和第二导通接触端207均延伸至封板3外部，测试体接触端204和第一导通接触端206为锯齿形或不规则伞形，第二导通接触端207为平头，(也可以选择其他形状，如皇冠状、九爪头、内凹头等)。
[0051]
在具体使用时，弹片针尾部203的导通接触端与pcb接触板接触，在此，导通接触端设为两个，分别为第一导通接触端206和第二导通接触端207，第一导通接触端206和第二导通接触端207与pcb转接板双重接触，增大了异形弹片针2与pcb转接板的接触面积，因此，当第一导通接触端206和第二导通接触端207中的任意一个发生问题或者不能与pcb转接板接触时，整个蛇形弹片针组件任然能够正常工作。
[0052]
模芯1的底部的四个角各设有一个固定柱，封板3上四个角落开有四个固定孔302，模芯1上的固定柱与封板3上的固定孔302一一对应，四个固定柱分别为两个长固定柱102和两个短固定柱103，处于同一对角线上的两个固定柱的长度相同，即两个长固定柱102的长度相同，两个短固定柱103的长度相同，在将模芯1安装在封板3上，如果四个固定柱的长度一致，需要将四个固定柱的轴线与四个固定孔302的轴线均对齐才能够顺利将模芯1安装在封板3上，而将四个固定柱设置为两个长固定柱102和两个短固定柱103，处于同一对角线上的两个固定柱的长度相同，只需要将同一对角线上的固定柱的轴线和固定块的轴线对齐就能够顺利的完成模芯1和封板3的安装。
[0053]
模芯1左右两侧各设有一个卡槽105(如图4所示)，封板3的左右两侧各设有一个卡键303(如图3所示)，封板3上的卡键303与模芯1上的卡槽105卡合，利用卡键303和卡槽105的配合，实现封板3和模芯1之间的固定，防止在测试过程中，封板3和模芯1之间发生相对移动而降低测试精度，模芯1的四个角还开有安装孔104，将异形弹片针2和封板3与模芯1固定
完成后，利用模芯1上的安装孔104将蛇形单片组件整体安装在pcb转接板上。
[0054]
弹片针本体202为单蛇形本体209或者双蛇形本体210(如图和图9所示)，且弹片针本体202的弯曲部分至少形成一个波峰和一个波谷，在本实施例中所采用的的单蛇形本体209或者双蛇形本体210均包括有两个波峰和两个波谷，单蛇形本体209或者双蛇形本体210之间的弯曲部分发生挤压，而传递到测试体接触端204、导通接触端的作用力减小，因此可以减小测试体接触端204、导通接触端的磨损，延长异形弹片针2的使用寿命，而单蛇形本体209、双蛇形本体210的主要差异在于弹力不同，单蛇形的弹力大于双蛇形的弹力，因此，可根据实际使用时待测物体的自身重力选择合适的异性弹片针。
[0055]
模芯1上设有两排第一插孔101，且两排第一插孔101呈镜像对称，封板3上设有两排第二插孔302，第二插孔302的数量与第一插孔101的数量相同，每个第一插孔101内均设有一个异性弹片针，且两排第一插孔101内的异性弹片针呈镜像对称，随着现在技术的发展，半导体产品的尺寸不断缩小、结构不断发生改变，被测端子的尺寸以及不同被测端子间的间距也在不断缩小，因此，在模芯1和封板3之间设有多个异形弹片针2，不仅能够同时测试多个产品，还能够对同一个产品的多个点进行同时测试，保证测试精度。
[0056]
以上所述的仅是本实用新型的实施例，方案中公知的具体结构及特性等常识在此未作过多描述，所属领域普通技术人员知晓申请日或者优先权日之前实用新型所属技术领域所有的普通技术知识，能够获知该领域中所有的现有技术，并且具有应用该日期之前常规实验手段的能力，所属领域普通技术人员可以在本申请给出的启示下，结合自身能力完善并实施本方案，一些典型的公知结构或者公知方法不应当成为所属领域普通技术人员实施本申请的障碍。应当指出，对于本领域的技术人员来说，在不脱离本实用新型结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些也应该视为本实用新型的保护范围，这些都不会影响本实用新型实施的效果和专利的实用性。