一种半导体测试支架的制作方法

本实用新型涉及半导体领域，尤其涉及一种半导体测试支架。

背景技术：

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，在半导体的生产加工过程中，为了保证成品半导体的质量完全过关，需要对半导体进行仪器检测，为了便于测试的进行，需要将半导体放置到专用的测试支架上去。

但是，现有技术中，半导体放置到侧视支架上后，二者之间的稳定较差，在测试的过程中若操作不慎很容易使得半导体从支架上掉落脱离下来，容易对半导体造成一定程度的损伤。

因此，有必要提供一种新的半导体测试支架解决上述技术问题。

技术实现要素：

本实用新型解决的技术问题是提供一种使用方便、便于调节、提高半导体与支架之间连接的稳定牢固性的半导体测试支架。

为解决上述技术问题，本实用新型提供的半导体测试支架包括：支架；四个定连块，四个所述定连块分别固定安装在支架的两侧，四个所述定连块呈矩形列阵分布；两个手调转杆，两个所述手调转杆分别转动安装在四个所述定连块之间；四个接应块，四个所述接应块分别固定安装在两个所述手调转杆上；压按块，所述压按块固定安装在接应块上；防护块，所述防护块固定安装在压按块的一侧上，所述防护块的一侧与支架的一侧相接触；两个装接块，两个所述装接块分别固定安装在对应的所述手调转杆上；焊接定块，所述焊接定块固定安装在装接块的一侧；弧形槽，所述弧形槽开设在焊接定块上；调节杆，所述调节杆转动安装在支架上，所述调节杆的一端通过弧形槽延伸至焊接块外；两个挡隔块，两个所述挡隔块均固定安装在调节杆上；四个限位套块，四个所述限位套块分别固定套设在两个所述手调转杆上。

优选的，两个所述手调转杆的顶端和底端均固定安装有圆状块，四个所述圆状块呈矩形列阵分布。

优选的，所述调节杆远离两个挡隔块的一端转动安装有圆形块，所述圆形块与支架的一侧固定连接。

优选的，四个所述定连块上均开设有经行孔，四个所述经行孔的内壁上均固定安装有第一转接轴承，四个所述第一转接轴承分别固定套设在两个所述手调转杆上。

优选的，所述支架上开设有两个装连槽，两个所述装连槽的内壁上均固定安装有第二转接轴承，两个所述第二转接轴承的内圈分别固定套设在对应的所述调节杆上。

优选的，所述防护块为橡胶材质制成，所述手调转杆、装接块和焊接定块均为不锈钢材质制成。

与相关技术相比较，本实用新型提供的半导体测试支架具有如下有益效果：

本实用新型提供一种半导体测试支架，手动转动调节两个手调转杆，从而对四个压按块的位置进行调整，从而使四个压按块之间相互配合对半导体进行固定限位。

附图说明

图1为本实用新型提供的半导体测试支架的一种较佳实施例的正视剖视结构示意图；

图2为本实用新型的俯视结构示意图；

图3为本实用新型的俯视剖视结构示意图。

图中标号：1、支架；2、定连块；3、手调转杆；4、接应块；5、压按块；6、防护块；7、装接块；8、焊接定块；9、弧形槽；10、调节杆；11、挡隔块；12、限位套块。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本实用新型作进一步说明。

请结合参阅图1、图2和图3，其中，图1为本实用新型提供的半导体测试支架的一种较佳实施例的正视剖视结构示意图；图2为本实用新型的俯视结构示意图；图3为本实用新型的俯视剖视结构示意图。半导体测试支架包括：支架1；四个定连块2，四个所述定连块2分别固定安装在支架1的两侧，四个所述定连块2呈矩形列阵分布；两个手调转杆3，两个所述手调转杆3分别转动安装在四个所述定连块2之间；四个接应块4，四个所述接应块4分别固定安装在两个所述手调转杆3上；压按块5，所述压按块5固定安装在接应块4上；防护块6，所述防护块6固定安装在压按块5的一侧上，所述防护块6的一侧与支架1的一侧相接触；两个装接块7，两个所述装接块7分别固定安装在对应的所述手调转杆3上；焊接定块8，所述焊接定块8固定安装在装接块7的一侧；弧形槽9，所述弧形槽9开设在焊接定块8上；调节杆10，所述调节杆10转动安装在支架1上，所述调节杆10的一端通过弧形槽9延伸至焊接块8外；两个挡隔块11，两个所述挡隔块11均固定安装在调节杆10上；四个限位套块12，四个所述限位套块12分别固定套设在两个所述手调转杆3上。

两个所述手调转杆3的顶端和底端均固定安装有圆状块，四个所述圆状块呈矩形列阵分布。

所述调节杆10远离两个挡隔块11的一端转动安装有圆形块，所述圆形块与支架1的一侧固定连接。

四个所述定连块2上均开设有经行孔，四个所述经行孔的内壁上均固定安装有第一转接轴承，四个所述第一转接轴承分别固定套设在两个所述手调转杆3上。

所述支架1上开设有两个装连槽，两个所述装连槽的内壁上均固定安装有第二转接轴承，两个所述第二转接轴承的内圈分别固定套设在对应的所述调节杆10上。

所述防护块6为橡胶材质制成，所述手调转杆3、装接块7和焊接定块8均为不锈钢材质制成。

本实用新型提供的半导体测试支架的工作原理如下：

当需要对半导体进行测试时，需要先将半导体固定在支架1上；

将半导体放置到支架1的一侧上，然后依次转动两个手调转杆3，手调转杆3在两个定连块2上进行转动运动；

手调转杆3转动时将带动接应块4和装接块7同步进行运动，接应块4移动时将带动压按块5同步进行移动，随着手调转杆3的带动使得压按块5上的防护块6将与支架1上放置的半导体相接触；

装接块7运动带动焊接定块8同步运动，在手调转杆3的作用下焊接定块8上的弧形槽9将逐渐套设在调节杆10上；

确定好压按块5与焊接定块8的位置后即可松开对手调转杆3的控制，然后依次转动两个调节杆10，调节杆10转动的同时带动两个挡隔块11同步进行移动，使两个挡隔块11与弧形槽9之间产生错位，从而使焊接定块8与支架1之间的位置被固定，在四个压按块5的作用下，使得半导体被夹固在支架1上保持稳定。

与相关技术相比较，本实用新型提供的半导体测试支架具有如下有益效果：

本实用新型提供一种半导体测试支架，手动转动调节两个手调转杆3，从而对四个压按块5的位置进行调整，从而使四个压按块5之间相互配合对半导体进行固定限位。

需要说明的是，本实用新型的设备结构和附图主要对本实用新型的原理进行描述，在该设计原理的技术上，装置的动力机构、供电系统及控制系统等的设置并没有完全描述清楚，而在本领域技术人员理解上述实用新型的原理的前提下，可清楚获知其动力机构、供电系统及控制系统的具体。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。