技术总结
本实用新型涉及一种厚膜材料介电常数的测量夹具，它包括一回字形金属腔体，通过贯穿所述回字形金属腔体一端的金属壁插接有一同轴线，在所述同轴线上连接有金属导带，且所述金属导带悬空于所述回字形金属腔体内；待测材料插入到所述金属导带正上方或者正下方的回字形金属腔体内完成介电常数的测量。本实用新型可以直接对材料进行介电常数测试，避免了对材料的破坏，打破了测量时待测材料需要压制圆片的局限，且测量频率范围为0.5
技术研发人员：李维佳 陈慧 袁玉灵 谢海岩
受保护的技术使用者：成都佳驰电子科技有限公司
技术研发日：2020.06.18
技术公布日：2021/2/28