一种联检分析仪校准装置的制作方法

1.本实用新型涉及联检分析仪校准领域，尤其涉及一种联检分析仪校准装置。


背景技术：

2.联检分析仪是一种通过检测卡与样品化学反应后生成颜色的分析来得出诊断结果的医疗设备，校准装置是一种通过各种方法来减少测量误差的装置，联检分析仪校准装置是通过校准的手段来减少分析仪分析过程产生的误差，是得出的结果更准确。
3.在联检分析仪进行工作检测时，外界的因素往往会对分析仪产生干扰，仪器放置的不够水平，仪器表面带有的静电和微粒可能都会对检测产生影响，使得出的分析结果不够准确


技术实现要素：

4.本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种联检分析仪校准装置。
5.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种联检分析仪校准装置，包括基板，所述基板的上表面的设置有联检分析仪，所述基板的上表面且位于联检分析仪的左方固定连接有第一去静电器，所述第一去静电器的内部固定连接有去静电风扇，所述基板的上表面且位于第一去静电器的左方设置有滑轨，所述滑轨的内部设置有滑轨滑片，所述滑轨滑片的上表面固定连接有支撑杆，所述支撑杆的上表面固定连接有大转动槽，所述大转动槽的内部设置有l型顶杆，所述l型顶杆的水平右端设置有滑杆，所述滑杆的外表面固定连接有微型转动槽，所述微型转动槽的内部设置有伸缩杆，所述伸缩杆的下表面固定连接有吸尘器，所述吸尘器的下表面固定连接有吸尘口，所述基板的下表面固定连接有四个水平调节器，所述基板的内部固定连接有吹尘器，所述基板的上侧壁设置有吹尘口。
6.作为上述技术方案的进一步描述：
7.所述基板的上表面且位于联检分析仪的右方固定连接有第二去静电器，所述第二去静电器的结构与第一去静电器的结构相同。
8.作为上述技术方案的进一步描述：
9.所述基板的前表面固定连接有开关，所述基板的前表面且位于开关的右方设置有操作按钮，所述开关和操作按钮的外表面设置有提醒标识。
10.作为上述技术方案的进一步描述：
11.所述基板的右侧面固定连接有电线，所述电线的外表面设置有防磨外皮。
12.作为上述技术方案的进一步描述：
13.所述联检分析仪的上表面且位于吸尘器的下方固定连接有检测托盘，所述联检分析仪位于吹尘口的上方。
14.作为上述技术方案的进一步描述：
15.所述滑轨滑片与滑轨滑动连接，所述l型顶杆位于第一去静电器的上方。
16.本实用新型具有如下有益效果：
17.1、与传统相比，该新型校准装置通过设置基板底部的水平调节结构，使得校准装置的基板始终保持水平状态，当检测分析仪放置在基板上时，不会产生高度偏差而影响检测结果。
18.2、与传统相比，该新型校准装置通过两个静电去除装置来去除分析仪表面的静电，在微观反应界面，静电往往也会对反应产生影响，当分析仪放置在基板上时，便会处于两个静电去除装置中间，表面区域全被覆盖。
19.3、与传统相比，该新型校准装置通过设置上下两个去尘装置来去除分析仪上的微粒，微粒也会影响分析结果，上方的去尘装置主要去除检测托盘内部的微粒，下发的去尘装置主要去除分析仪整个表面的颗粒。
附图说明
20.图1为本实用新型提出的一种联检分析仪校准装置的正视图；
21.图2为本实用新型提出的一种联检分析仪校准装置的俯视图；
22.图3为本实用新型提出的一种联检分析仪校准装置的侧视图；
23.图4为图1中a处的放大图。
24.图例说明：
25.1、基板；2、滑轨滑片；3、支撑杆；4、大转动槽；5、去静电风扇；6、l型顶杆；7、滑杆；8、微型转动槽；9、伸缩杆；10、吸尘器；11、第一去静电器；12、联检分析仪；13、电线；14、操作按钮；15、开关；16、水平调节器；17、滑轨；18、吹尘口；19、吹尘器；20、检测托盘；21、吸尘口；22、第二去静电器。
具体实施方式
26.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
27.在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
28.参照图1
‑
4，本实用新型提供的一种实施例：一种联检分析仪校准装置，包括基板1，基板1的上表面的设置有联检分析仪12，基板1的上表面且位于联检分析仪12的左方固定连接有第一去静电器11，第一去静电器11的内部固定连接有去静电风扇5，基板1的上表面
且位于第一去静电器11的左方设置有滑轨17，滑轨17的内部设置有滑轨滑片2，可以使吸尘装置进行滑动，滑轨滑片2的上表面固定连接有支撑杆3，支撑杆3的上表面固定连接有大转动槽4，可以使l型顶杆6在转动槽内转动，改变吸尘装置的位置，大转动槽4的内部设置有l型顶杆6，l型顶杆6的水平右端设置有滑杆7，滑杆7的外表面固定连接有微型转动槽8，微型转动槽8的内部设置有伸缩杆9，伸缩杆9的下表面固定连接有吸尘器10，吸尘器10的下表面固定连接有吸尘口21，启吸尘作用，基板1的下表面固定连接有四个水平调节器16，基板1的内部固定连接有吹尘器19，基板1的上侧壁设置有吹尘口18，启吹尘作用。
29.基板1的上表面且位于联检分析仪12的右方固定连接有第二去静电器22，第二去静电器22的结构与第一去静电器11的结构相同，基板1的前表面固定连接有开关15，基板1的前表面且位于开关15的右方设置有操作按钮14，开关15和操作按钮14的外表面设置有提醒标识，基板1的右侧面固定连接有电线13，电线13的外表面设置有防磨外皮，联检分析仪12的上表面且位于吸尘器10的下方固定连接有检测托盘20，联检分析仪12位于吹尘口18的上方，滑轨滑片2与滑轨17滑动连接，l型顶杆6位于第一去静电器11的上方。
30.工作原理：在进行联检分析前，需要先对分析仪进行校准，将校准装置放置好后，将联检分析仪12放置到基板1上，将电线13连通电源，将开关15打开，通过操作按钮14将校准装置上的两个静电器打开，风扇转动后一段时间便会去除静电，再之后将吹尘器19打开，吹尘器19会将分析仪表面的微粒杂质去除，最后将吸尘器10打开，吸尘器10对准检测托盘20后，便可以将检测托盘20内部的微粒杂志吸出。
31.最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。