1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：包括测试压块本体(1)，所述测试压块本体(1)的四角处皆开设有安装孔(2)，所述测试压块本体(1)的中间位置处开设有通槽(3)，且通槽(3)的内部设置有测试压头机构(4)，所述测试压头机构(4)的外侧设置有滑动机构(5)，所述通槽(3)的一侧开设有矩形限位孔(6)，且通槽(3)的另一侧开设有圆形限位孔(7)，所述测试压块本体(1)两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔(8)，且定位滑孔(8)的内部皆套设有衬套(9)，所述测试压块本体(1)上靠接定位滑孔(8)的两侧皆设置有固定机构(10)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述滑动机构(5)包括矩形滑槽(11)、滑杆(12)和矩形压板(13)，所述矩形滑槽(11)开设在通槽(3)的内侧，所述矩形滑槽(11)的内侧皆滑动安装有滑杆(12)，所述滑杆(12)皆与测试压头机构(4)固定连接，所述矩形滑槽(11)的内部设置有矩形压板(13)，所述测试压块本体(1)的顶部均匀安装有定位螺栓(14)，所述定位螺栓(14)皆延伸至矩形滑槽(11)的内部。
3.根据权利要求1所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述固定机构(10)包括纵向安装槽(15)、横向安装槽(16)和固定板(17)，所述横向安装槽(16)开设在定位滑孔(8)的两端，所述横向安装槽(16)的一端与定位滑孔(8)导通，且横向安装槽(16)的另一端之间设置有纵向安装槽(15)，所述横向安装槽(16)的内部设置有固定板(17)，且固定板(17)靠近定位滑孔(8)的一端皆安装有夹块(18)，所述固定板(17)远离夹块(18)的一端皆固定有螺杆(19)，两组所述螺杆(19)之间螺纹安装有双向内螺管(20)。
4.根据权利要求3所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述夹块(18)的形状皆为弧形。
5.根据权利要求3所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述双向内螺管(20)的外侧均匀开设有防滑纹。
6.根据权利要求1所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述测试压头机构(4)包括固定块(21)、限位槽(22)和弹簧(23)，所述固定块(21)的内部开设有限位槽(22)，且限位槽(22)的内部设置有弹簧(23)，所述弹簧(23)的底端固定有压头(24)。