硅麦自动测试设备及其测试装置的制作方法

本实用新型涉及电子元件测试设备技术领域，具体涉及一种硅麦自动测试设备及其测试装置。

背景技术：

近年来，随着电子元件的高度集成及不断的升级细化，使得电子产品朝着小型化、低能耗、高精度及智能化的方向发展。而作为电子产品组成基础的各类电子元件，在工厂生产加工后，需对其电性能参数进行测试，以保证电子元件的安全性、稳定性及可靠性，进而保证电子产品的质量。

现有如硅麦自动测试设备一般是通过圆振进行自动上料，然后在测试装置上进行测试。但是，由于圆振在工作时产生的振动会影响测试装置测试硅麦的测试结果，需要圆振在测试装置测试硅麦时停止工作，从而导致现有的硅麦测试效率较低。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的在于提供一种硅麦自动测试设备及其测试装置，以解决背景技术中提出的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种硅麦自动测试设备的测试装置，该测试装置包括减振底座和位于所述减振底座上的测试组件，所述减振底座包括叠层布置的第一基板、第一减振板和第二基板，所述测试组件位于所述第一基板上。

优选地，所述第一减振板为发泡硅胶材料制成。

优选地，所述第一基板的底部设置插装块，所述第一减振板上设置有供所述插装块穿过的第一避位缺口，所述第二基板上设置有供所述插装块穿过的第二避位缺口。

优选地，所述第二基板的底部围绕所述插装块设置有多个围板，所述围板朝向所述插装块的一侧面上设置有与所述插装块侧面贴合的第二减振板。

优选地，所述插装块的侧面上具有可容纳所述第二减振板部分区域的第一定位腔。

优选地，所述围板通过螺钉与所述第二基板连接，相邻两个所述围板通过螺钉连接。

优选地，所述第二基板的顶面具有可容纳所述第一减振板的第二定位腔。

优选地，所述测试组件包括设置在所述第一基板上的基座和设置在所述基座上并可沿竖直方向滑动的滑座，所述基座上设置有测试治具，所述滑座上设置有位于所述测试治具正上方的测试盖板。

优选地，所述第一基板上设置有与所述滑座连接的滑柱，所述插装块上具有供所述滑柱穿过的避位孔，所述插装块的底部设置有与所述滑柱传动连接的举升机构。

本实用新型进一步提出一种硅麦自动测试设备，该硅麦自动测试设备包括机台以及设置在所述机台上的振动式上料装置、测试装置、存储装置、转运装置和上述测试装置，所述转运装置用于依次在所述振动式上料装置、测试装置和存储装置之间运输物料，该测试装置包括减振底座和位于所述减振底座上的测试组件，所述减振底座包括叠层布置的第一基板、第一减振板和第二基板，所述测试组件位于所述第一基板上。

本实用新型实施例提供的硅麦自动测试设备的测试装置，通过在第一基板与第二基板之间设置第一减振板，避免机台上因圆振产生的振动传递到检测组件上，从而即可实现圆振不停机检测硅麦，从而有利于提高硅麦的检测效率。

附图说明

图1为本实用新型中硅麦自动测试设备的测试装置一实施例的结构示意图；

图2为图1中所示减振底座的爆炸示意图；

图3为图2中所示第一基板和插装块的结构示意图；

图4为图2中所示第一减振板的结构示意图；

图5为图2中所示第二基板的结构示意图；

图6为本实用新型中硅麦自动测试设备一实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制，基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提出一种硅麦自动测试设备的测试装置，如图1所示，该测试装置包括减振底座100和位于减振底座100上的测试组件200，减振底座100包括叠层布置的第一基板110、第一减振板120和第二基板130，测试组件200位于第一基板110上。

本实施例中，测试组件200参照现有的测试结构设置在第一基板110上即可，而第二基板130则用于与机台固定，第一基板110和第二基板130可采用硬质金属材料制作，而第一减振板120则采用具有形变量大的弹性材料制成，如发泡硅胶材料，从而即可避免第一基板110上的振动传递到第二基板130上，至于第一基板110的固定方式可以是第一基板110通过螺钉与第二基板130连接，且该螺钉的螺头或螺母与第一基板110之间设置有缓冲垫，如橡胶圈，从而避免振动的传递。本实施例中，通过在第一基板110与第二基板130之间设置第一减振板120，避免机台上因圆振产生的振动传递到检测组件上，从而即可实现圆振不停机检测硅麦，从而有利于提高硅麦的检测效率。

在一较佳实施例中，如图2、图4和图5所示，优选第一基板110的底部设置插装块111，第一减振板120上设置有供插装块111穿过的第一避位缺口121，第二基板130上设置有供插装块111穿过的第二避位缺口131。本实施例中，通过在第一基板110上设置插装块111，并使插装块111依次穿过第一避位缺口121和第二避位缺口131，从而即可有利于利用插装块111的重量降低测试装置的重心，以有利于增加测试装置的稳定性。

在一较佳实施例中，如图2和图3所示，优选第二基板130的底部围绕所述插装块111设置有多个围板132，围板132朝向插装块111的一侧面上设置有与插装块111侧面贴合的第二减振板140。本实施例中，优选插装块111为矩形块状体，围板132的数量为四个，并一一对应插装块111的四个侧边布置，且围板132与插装块111之间间隔距离小于第二减振板140的厚度，从而有利于在利用围板132通过第二减振板140对插装块111形成夹持时利用第二减振板140的形变增加插装块111的稳定性，此时第一基板110则无需通过螺钉与第二基板130进行连接，利用围板132的夹持力则可维持插装块111以及第一基板110的稳定性。

在一较佳实施例中，如图3所示，优选插装块111的侧面上具有可容纳第二减振板140部分区域的第一定位腔112，从而有利于方便利用第一定位腔112卡接第二减振板140的部分区域进行定位后组装围板132，同时还可避免第二减振板140在长时间的使用过程中滑落。其中，第二减振板140也可采用发泡硅胶材料制成。

在一较佳实施例中，优选围板132通过螺钉与第二基板130连接，相邻两个围板132通过螺钉连接。本实施例中，围板132通过螺钉进行可拆卸连接，从而便于插装块111依次穿过第一避位缺口121和第二避位缺口131后在插装块111的周向上组装围板132。其中，优选其中两个相对布置的围板132位于另两个围板132之间的位置，即其中两个围板132对另两个围板132形成夹持。

在一较佳实施例中，如图5所示，优选第二基板130的顶面具有可容纳第一减振板120的第二定位腔133，优选该第二定位腔133则为环绕上述第二避位缺口131布置的环形凹槽，从而便于对第一减振板120进行定位，同时也有利于避免第一减振板120在使用过程中移动。

在一较佳实施例中，如图1所示，测试组件200包括设置在第一基板110上的基座210和设置在基座210上并可沿竖直方向滑动的滑座220，基座210上设置有测试治具221，滑座220上设置有位于测试治具221正上方的测试盖板211。本实施例中，通过将硅麦放置在测试治具221内，然后测试盖板211盖合在测试治具221上，从而利用测试盖板211上的导电探针与硅麦电连接，以对硅麦进行测试。

在一较佳实施例中，如图1所示，优选第一基板110上设置有与滑座220连接的滑柱1，插装块111上具有供滑柱穿过的避位孔，插装块111的底部设置有与滑柱传动连接的举升机构230。本实施例中，通过将举升机构230设置在插装块111的底部，从而有利于进一步降低测试装置的重心，至于举升机构230的形式可以是直线气缸或电机丝杠组件等。

本实用新型进一步提出一种硅麦自动测试设备，如图6所示，该硅麦自动测试设备包括机台1以及设置在机台1上的振动式上料装置2、存储装置3、转运装置4和上述实施例中的测试装置5，转运装置4用于依次在振动式上料装置2、测试装置5和存储装置3之间运输物料，该测试装置4的具体结构参照上述实施例，由于本测试装置4采用了上述所有实施例的全部技术方案，因此至少具有上述实施例的技术方案所带来的所有有益效果，在此不再一一赘述。此时，优选机台1上具有可供上述插装块、围板以及举升机构穿过的避位区域，从而即可使测试装置5通过上述第二基板安装在机台1上。其中，上述振动式上料装置2、存储装置3和转运装置4的具体结构均可参照本公司现有专利所公开的方式进行布置。

以上的仅为本实用新型的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本实用新型保护的范围，凡是在与本实用新型一个整体的构思下，利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本实用新型保护的范围内。