对柔性基板执行载荷测量的方法和装置与流程

本申请要求于2019年6月24日提交的发明名称为“METHODS AND APPARATUS TO PERFORM LOAD MEASUREMENTS ON FLEXIBLE SUBSTRATES[对柔性基板执行载荷测量的方法和装置]”的美国临时专利申请序列号62/865,634和于2020年5月29日提交的美国专利申请序列号16/887,960的优先权。美国临时专利申请序列号62/865,634和美国专利申请号16/887,960的全部内容通过援引明确并入本文。

背景技术

本公开内容总体涉及材料测试，更具体地涉及对柔性基板执行载荷测量的方法和装置。

组件或组件的运动部件的可靠性测试可能涉及重复执行部件的预期和/或非预期运动，以验证部件和/或组件在定义的最少运动循环次数内可靠地运行。例如，柔性基板的可靠性测试可能涉及以一种或多种方式重复弯曲基板，同时对设备的持续操作进行测试和/或监测各种故障模式。

技术实现要素：

公开了对柔性基板执行载荷测量的方法和装置，其基本上通过至少一张附图图示并且结合至少一张附图描述，如同在权利要求中更完整地阐述的那样。

附图说明

当参照附图阅读以下详细描述时，本公开内容的这些和其他特征、方面和优点将得到更好的理解，贯穿附图，相同的附图标记表示相同的零件，在附图中：

图1A是根据本公开内容的方面的用于对柔性基板执行机械性能测试的示例柔性基板测试系统的框图。

图2是图1A的柔性基板测试系统的示例实施方式的框图。

图3是图1A的柔性基板测试系统的示例实施方式的立体图。

图4是图1A的包括引导板的示例基板测试系统的立视图。

图5是图3的平移连杆机构的局部分解视图。

图6是图3的示例柔性基板测试系统的立体图，其中第二板已经移动到位置以折叠被测基板。

图7是图1A的柔性基板测试系统的另一示例实施方式的立体图。

图8是图7的示例柔性基板测试系统的立视图。

图9是图7的示例柔性基板测试系统的平面视图。

图10是图7的示例柔性基板测试系统的立视图。

图11是图7的示例第一板、挠性件和测力传感器的更详细视图。

图12是表示测量柔性基板上的载荷的示例方法的流程图，该方法可以由图1A至图11的示例柔性基板测试系统执行。

附图不一定按比例绘制。在适当情况下，相似或相同的附图标记用于表示相似或相同的部件。

具体实施方式

常规的柔性基板测试系统不是在柔性基板折叠或展开期间测量柔性基板上的载荷或应力。代替地，常规的柔性基板测试系统可能涉及比如缺陷分析等测试和其他静态测试和分析。

所公开的示例柔性基板测试系统和方法为柔性基板提供应力测试，包括在比如折叠和/或展开等变形期间对柔性基板上的动态和/或静态载荷的测量。一些公开的示例系统和方法减少或最小化由柔性基板测试系统本身在柔性基板上引起的附加应力。例如，一些公开的柔性基板测试系统包括提供比如柔性显示屏的柔性基板的重复折叠和展开的夹具。公开的示例对夹具进行配置，比如对运动部件进行引导，使得夹具不会在柔性基板的端部折叠在一起或展开时在柔性基板上产生额外的压缩力或张力。

所公开的示例柔性基板测试系统包括：第一基板支撑结构，该第一基板支撑结构被配置为将被测柔性基板的第一部分保持为静止；第二基板支撑结构，该第二基板支撑结构被配置为固持柔性基板的第二部分；致动器，该致动器被配置为移动第二基板支撑结构以折叠柔性基板和展开柔性基板；以及测力传感器，该测力传感器被配置为测量柔性基板上的载荷。

一些示例柔性基板测试系统进一步包括第一引导件，该第一引导件被配置为引导第二基板支撑结构的运动以折叠柔性基板和展开柔性基板。在一些示例柔性基板测试系统中，第一引导件被配置为根据柔性基板的第一预定弯曲半径引导第二基板支撑结构的运动。在一些示例柔性基板测试系统中，第一引导件可与第二引导件互换，该第二引导件被配置为根据柔性基板的第二预定弯曲半径引导第二基板支撑结构的运动。

在一些示例柔性基板测试系统中，第一引导件包括具有凹槽的第一引导板，该凹槽被配置为引导附接到第二基板支撑结构的凸轮从动件。在一些示例柔性基板测试系统中，第一引导板包括致动器凹槽，该致动器凹槽被配置为引导联接到第二基板支撑结构并定位在致动器凹槽内的致动销，并且致动器被配置为通过移动致动销来移动第二基板支撑结构。

在一些示例柔性基板测试系统中，第一引导件被配置为引导第二基板支撑结构的运动，而不会由于第二基板支撑结构的运动或重量在柔性基板上产生附加应力。一些示例柔性基板测试系统进一步包括第二引导件，该第二引导件联接到第二基板支撑结构并且在第二基板支撑结构的与第一引导件相反的一侧上，其中，第二引导板被配置为引导第二基板支撑结构的运动以折叠柔性基板和展开柔性基板。

一些示例柔性基板测试系统包括载荷限制器，该载荷限制器被配置为限制第一基板支撑结构朝向测力传感器移位。一些示例柔性基板测试系统包括控制电路系统，该控制电路系统被配置为基于来自测力传感器的载荷信息来确定柔性基板上的载荷。在一些示例柔性基板测试系统中，控制电路系统被配置为基于在柔性基板折叠或展开期间由测力传感器测量的动态载荷来确定柔性基板上的载荷。在一些示例柔性基板测试系统中，控制电路系统被配置为基于在柔性基板的折叠或展开完成时由测力传感器测量的静态载荷来确定柔性基板上的载荷。

一些示例柔性基板测试系统包括控制电路系统，该控制电路系统被配置为控制致动器沿第一方向移动第二基板支撑结构以折叠柔性基板或沿第二方向移动第二基板支撑结构以展开柔性基板。一些示例柔性基板测试系统包括平移连杆机构，该平移连杆机构被配置为固持第一基板支撑结构并且将第一基板支撑结构的运动限制在测力传感器被配置为测量载荷所沿着的方向。

在一些示例柔性基板测试系统中，测力传感器被配置为测量柔性基板的第一部分上的载荷。在一些示例柔性基板测试系统中，测力传感器被配置为测量柔性基板的第二部分上的载荷的至少一部分。一些示例柔性基板测试系统包括控制电路系统，该控制电路系统被配置为在折叠或展开期间针对第二基板支撑结构的重量和基板支撑结构的动量补偿来自测力传感器的载荷测量结果，并且基于来自测力传感器的载荷信息和补偿来确定柔性基板上的载荷的至少一部分。一些示例柔性基板测试系统包括第二测力传感器，该第二测力传感器被配置为测量柔性基板的第一部分上的载荷的一部分。

所公开的测量柔性基板上的载荷的示例方法包括：通过基板支撑结构将被测柔性基板的第一部分保持为静止；通过致动器移动柔性基板的第二部分以折叠柔性基板或展开柔性基板；以及测量由移动引起的柔性基板上的载荷。

一些其他示例柔性基板测试系统包括：第一板，该第一板包括第一表面，该第一表面被配置为将被测柔性基板的第一侧保持为静止；平移连杆机构，该平移连杆机构被配置为固持第一板并限制板在与板的第一表面平行的方向上的运动；第二板，该第二板包括第二表面，该第二表面被配置为固持柔性基板的第二侧；第一引导板，该第一引导板被配置为引导第二表面的运动以折叠柔性基板和展开柔性基板；致动器，该致动器被配置为根据第一引导板移动第二板以折叠柔性基板和展开柔性基板；以及测力传感器，该测力传感器被配置为在致动器移动第二板时测量第一板上的载荷。

图1A是对柔性基板102执行机械性能测试的示例柔性基板测试系统100的框图。示例柔性基板102可以是柔性显示屏或其他设备、织物、材料和/或任何其他基板。图1A的系统100被配置为重复折叠和展开柔性基板102以测量基板102上的应力。

示例系统100包括第一板104、第二板106、引导板108、致动器110、测力传感器112和平移连杆机构114。系统100可以包括附加特征，比如结构支撑件或框架、处理电路系统、通信和/或输入/输出(I/O)电路系统和/或任何其他部件。

当折叠时，柔性基板102被认为在基板102中的弯曲部120或者折叠部的相反两端上具有第一侧116和第二侧118。第一侧116和第二侧118。图1A展示了处于展开或平坦位置(实线)和折叠位置(虚线)的基板。

第一板104是第一基板支撑结构，并且具有第一表面122，基板102的第一侧116附接或附着到第一表面。基板102的第一侧116相对于第一表面122保持静止。第二板106是第二基板支撑结构，并且具有第二表面124，基板102的第二侧118附接或附着到第二表面。基板102的第二侧相对于第二表面124保持静止。板104、106被间隙隔开，该间隙由基板102的一部分桥接，当基板102被折叠时，该部分形成弯曲部120。

虽然图1A中的第一基板支撑结构和第二基板支撑结构是第一板和第二板，但在其他示例中，第一基板支撑结构和第二基板支撑结构可以不同。例如，其他第一基板支撑结构和第二基板支撑结构可以包括夹子或夹紧件以固持基板102的一些部分以允许折叠，而不将基板102附接到板。

引导板108引导第二板106以及因此引导第二表面124的运动，以折叠和展开柔性基板102。如下文更详细地描述的，引导板108可以包括多个凹槽，这些凹槽由附接到第二板106的对应凸轮从动件接合以引导第二板106的平移和旋转。通过引入多个凹槽和凸轮从动件而不是单个凹槽和凸轮从动件，示例系统100可以避免在基板102上产生附加应力。例如，具有一致间距的多个凹槽防止由于第二板106的重量而引入力矩，该力矩可能在基板102上引起附加应力并影响测试结果。

虽然图1A的示例包括引导板108作为限定折叠路径的引导件，但是在其他示例中，引导件可以不同和/或可以省略以使得柔性基板能够限定折叠和/或展开路径。例如，其他引导件可以包括多个齿轮，其中第一齿轮自由旋转并与基板102的第一侧的边缘对齐，而第二齿轮与第一齿轮啮合并相对于基板102的第二半部固定。其他示例引导件可以包括彼此垂直布置的两个线性致动器的组合，其中一个线性致动器安装到另一个线性致动器，其中第二板106附接到致动器，并且可以在x-y平面中自由移动并描绘出折叠路径。多个线性致动器可以使引导件能够实施不同类型的路径，包括不同半径的折叠部和/或非圆形折叠部。一些其他示例引导件可以包括限定折叠路径的一系列连杆机构。

致动器110联接到第二板106以使第二板106移动。如图1A所展示的，致动器110使第二板106在基板102展开的第一位置(例如，实线所示)和基板102折叠的第二位置(例如，虚线)之间移动。在一些示例中，致动器110可以是经由联接到第二板106的连杆机构和致动销而附接到第二板106的马达。致动销也可以通过引导板108被引导以控制致动器110在第二板106上施加力所沿着的方向。

当致动器110移动第二板106时，测力传感器112测量第一板104上的载荷。具体地，当基板102被折叠时，测力传感器112通过测量由基板102的第一侧116施加到第一板104上的载荷来测量基板102上的应力(例如，折叠力)。测力传感器112可以在折叠和/或展开期间输出载荷测量结果(例如，动态载荷的测量结果)和/或在折叠和/或展开过程结束时输出载荷测量结果(例如，静态载荷的测量结果)。

平移连杆机构114限制第一板104在除测力传感器112由第一板104施加载荷的方向之外的方向上的移动。例如，如果测力传感器112被配置为在垂直于第一表面122的平面的方向上测量载荷，则平移连杆机构114限制第一板104在平行于第一表面122的平面的方向上的移动，同时允许载荷从第一板104传递到测力传感器112。示例平移连杆机构114可以包括一个或多个四连杆机构，这些四连杆机构联接到相对于测力传感器112固定的框架。在一些示例中，平移连杆机构114在朝向测力传感器112的方向上进一步受到限制，以防止测力传感器112过载。例如，停止点可以附接到框架以防止四连杆机构和板104朝向测力传感器112移动超过停止点。

在操作中，在将基板102固定到第一板104和第二板106之后，示例测力传感器112可以被偏移或移位，以从测试测量结果中减去预载荷。例如，由于板104的重量、平移连杆机构114的重量和基板102在第一板104上的第一侧116的重量，可以在测力传感器112上产生预载荷。通过确定测力传感器112上的预载荷，测力传感器112可以被校准或偏移以测量折叠和展开期间基板102上的应力。

图1B是对柔性基板102执行机械性能测试的另一个示例柔性基板测试系统150的框图。图1B的柔性基板测试系统150类似于图1A的柔性基板测试系统100，但测力传感器112联接到第二板106(例如，移动的板)而不是第一板104(例如，静止的板)，并且测量柔性基板102的联接到第二板106的部分上的载荷。在其他示例中，测力传感器可以联接到板104、106二者以测量柔性基板102的两个部分上的力。

在图1B的示例中，针对第二板106的重量和第二板106的惯性载荷，对由测力传感器112输出的测量结果作出补偿，以提供对柔性基板102上的力的测量。例如，在折叠运动期间，第二板106的部分重量和第二板106的由测力传感器112产生可测量力所导致的部分惯性载荷可以连续改变。处理系统(例如，下面公开的处理器203)可以被配置为基于第二板106和/或致动器110的特性、折叠方向、折叠速度和/或折叠路径、和/或折叠和/或展开过程中出现的任何其他动态力来补偿从测力传感器112接收的测量结果。

图2是图1A的柔性基板测试系统100的示例实施方式的框图。如图2所展示的，柔性基板测试系统100包括测试夹具201和计算设备202。

示例计算设备202可以是通用计算机、膝上型计算机、平板计算机、移动设备、服务器、一体机和/或任何其他类型的计算设备。图2的计算设备202包括处理器203，该处理器可以是通用中央处理器(CPU)。在一些示例中，处理器203可以包括一个或多个专用处理单元，比如FPGA、具有ARM核的RISC处理器、图形处理单元、数字信号处理器和/或芯片上系统(SoC)。处理器203执行机器可读指令204，这些机器可读指令在处理器处(例如，在所包括的高速缓存或SoC中)可以被本地存储在随机存取存储器206(或其他易失性存储器)中、在只读存储器208(或比如FLASH存储器等其他非易失性存储器)中、和/或在大容量存储设备210中。示例大容量存储设备210可以是硬盘驱动器、固态存储驱动器、混合驱动器、RAID阵列和/或任何其他大容量数据存储设备。总线212支持处理器203、RAM 206、ROM 208、大容量存储设备210、网络接口214和/或输入/输出接口216之间的通信。

示例网络接口214包括硬件、固件和/或软件，以将计算设备201连接到比如互联网等通信网络218。例如，网络接口214可以包括符合IEEE 202.X的用于发送和/或接收通信数据的无线和/或有线通信硬件。

图2的示例I/O接口216包括硬件、固件和/或软件，用于将一个或多个输入/输出设备220连接到处理器203，从而向处理器203提供输入和/或从处理器203提供输出。例如，I/O接口216可以包括用于与显示设备接口连接的图形处理单元、用于与一个或多个USB兼容设备接口连接的通用串行总线端口、FireWire、现场总线和/或任何其他类型的接口。示例引伸计系统10包括联接到I/O接口216的显示设备224(例如，LCD屏幕)。(多个)其他示例I/O设备220可以包括：键盘、小键盘、鼠标、跟踪球、指点设备、麦克风、音频扬声器、显示设备、光学介质驱动器、多点触摸屏、手势识别接口、磁性介质驱动器和/或任何其他类型的输入和/或输出设备。

计算设备202可以经由I/O接口216和/或I/O设备220访问非暂时性机器可读介质222。图8的机器可读介质222的示例包括：光盘(例如，致密盘(CD)、数字通用/视频光盘(DVD)、蓝光光盘等)、磁性介质(例如，软盘)、便携式存储介质(例如，便携式闪存驱动器、安全数字(SD)卡等)和/或任何其他类型的可移除的和/或安装的机器可读介质。

测试夹具201联接到计算设备202。在图2的示例中，测试夹具201经由I/O接口216联接到计算设备，比如经由USB端口、Thunderbolt端口、FireWire(IEEE 1394)端口和/或任何其他类型的串行或并行数据端口联接到计算设备。在一些示例中，测试夹具201经由有线或无线连接(例如，以太网、Wi-Fi等)直接地或经由网络218联接到网络接口214和/或I/O接口216。

测试夹具201包括框架228、测力传感器230、材料夹具236和控制处理器238。框架228为执行测试的测试夹具201的其他部件提供刚性结构支撑。测力传感器230可以实施图1A的测力传感器112，并且测量由致动器246经由夹持器248(例如，板104、106)施加到被测材料(例如，基板102)的力。

当夹持器246夹持或以其他方式将被测材料联接到致动器234时，致动器246向被测材料施加力和/或迫使被测材料移位。

可以用于提供测试夹具201的部件的力和/或运动的示例致动器包括电动马达、气动致动器、液压致动器、压电致动器、继电器和/或开关。虽然示例测试夹具201使用马达，比如伺服马达或直接驱动线性马达，但是其他系统可以使用不同类型的致动器。例如，基于系统的要求，可以使用液压致动器、气动致动器和/或任何其他类型的致动器。

示例夹持器236包括压板、夹紧件和/或其他类型的夹具，这取决于被测试的机械性能和/或被测材料。夹持器236可以被手动地配置、经由手动输入控制、和/或通过控制处理器238自动地控制。

测试系统100可以进一步包括一个或多个控制面板250，控制面板包括一个或多个输入设备252。输入设备252可以包括位于操作者控制面板上的按钮、开关和/或其他输入设备。例如，输入设备252可以包括控制致动器242使夹持器248小幅移动(例如定位)到期望位置的按钮、(例如经由另一致动器)控制夹持器248关闭或张开的开关(例如脚踏开关)、和/或控制测试夹具201操作的任何其他输入设备。

示例控制处理器238与计算设备202通信以例如从计算设备202接收测试参数和/或向计算设备202报告测量值和/或其他结果。例如，控制处理器238可以包括一个或多个通信或I/O接口以实现与计算设备202的通信。控制处理器238可以控制致动器246在给定方向上移动和/或控制致动器246的速度、控制夹具236夹持或释放被测材料，和/或接收来自位移变换器232、测力传感器230和/或其他换能器的测量值。

示例控制处理器238被配置为实施重复运动测试过程，其中在测试夹具201中对测试样本(例如，基板102)进行测试。例如，为了在一系列折叠和展开运动期间或之后测量基板102上的应力，控制处理器238控制致动器246以移动夹持器248(例如，第一板104和第二板106)，同时监测测力传感器230以测量基板102上的应力。在一些示例中，控制处理器238监测致动器246的马达编码器以确定折叠角度和/或建立每脉冲折叠度比。

示例处理器203可以基于在柔性基板102的折叠或展开完成时由测力传感器230测量的载荷来确定柔性基板102上的静态载荷。在折叠或展开过程之后松弛时间已被允许到期以使得基板102松弛后，静态载荷测量可以发生。附加地或可替代地，示例处理器203可以基于在柔性基板102折叠或展开期间由测力传感器230测量的载荷来确定柔性基板102上的动态载荷。示例处理器203可以对来自测力传感器230的测量结果执行补偿，比如从载荷测量结果中去除第一板104的重量和/或第二板106的重量和惯性载荷的影响。

图3是图1A的柔性基板测试系统100的示例实施方式的立体图。图3的示例视图展示了被配置为移动第二板106的旋转臂301、测力传感器112和平移连杆机构114的示例实施方式。图3中未示出第一板104。第二板106可以附接到旋转臂301。

示例平移连杆机构114包括第一四连杆机构302、第二四连杆机构304和框架306。框架306和测力传感器112通过附接到夹具框架(例如，图2的框架228)而相对于彼此保持静止。第一四连杆机构302和第二四连杆机构304均被配置为经由最内连杆附接第一板104。第一四连杆机构302和第二四连杆机构304限制第一板104在与第一板104的其上安装有基板102的表面平行的方向(在图3中展示为X方向和Y方向)上的移动，同时允许来自第一板104的载荷(例如，通过联接到测力传感器112的延伸柱308)沿垂直于第一板104的表面的方向(在图3中展示为Z方向)传递到测力传感器112。

为了避免测力传感器112过载，框架306包括停止点，该停止点被配置为防止第一四连杆机构302和第二四连杆机构304和/或第一板104朝向测力传感器112行进超过停止点。可以使用例如销或其他刚性紧固件(销或其他刚性紧固件被配置为接触第一四连杆机构302和/或第二四连杆机构304的下侧、框架306的顶部表面)、联接到框架306的顶部表面以通过与第一板104的接触来提供停止点的缓冲器或刚性偏移件和/或任何其他技术来实施停止点。

旋转臂301被配置为相对于第一板104旋转和平移第二板106以折叠和展开基板102。旋转臂301通过旋转组件310联接到引导板108，旋转组件包括凸轮从动件，如下文参照图4所讨论的，这些凸轮从动件构被配置通过引导板108中的凸轮凹槽行进。

图4是图1A的示例柔性基板测试系统100的立视图，该柔性基板测试系统包括引导板402(例如，图1A的引导板108)。示例引导板402包括两个凸轮凹槽404、406，两个凸轮从动件408、410在这两个凸轮凹槽中移动以旋转和移动第二板106。凹槽404、406在凹槽404、406的弧长上间隔开相同的距离，使得凸轮从动件408、410通过旋转臂301和旋转组件310支撑第二板106的重量，并且基本上不会由于第二板106的重量而在基板102上引起应力。

引导板402包括致动器凹槽412，该致动器凹槽被配置为接纳联接到第二板106的致动销414。致动器凹槽412在凸轮凹槽404、致动器凹槽412的弧长上与凸轮凹槽404间隔开相同的距离，并且在凸轮凹槽406、致动器凹槽412的弧长上与凸轮凹槽406间隔开相同的距离。

示例凹槽404、406、412可以被配置为当第二板106朝向第一板104旋转时在基板102中引起指定的弯曲半径。为此，引导板402可以与在基板102中引起不同弯曲半径的其他引导板互换。凹槽404、406、412的布置和几何形状可以通过计算一组角度和位置来确定(凸轮从动件408、410和致动销414在基板102的行进过程中相对于基板102的有效弯曲轴线处于该角度和位置)，使得基板102的长度不改变，因此，不会将压缩力和张力引入基板102。

在图4的示例中，引导板402包括弯曲观察窗口416，通过该弯曲观察窗口，相机或其他监测设备可以观察基板102的弯曲半径。

图5是图3的平移连杆机构114的局部分解视图。具体地，示例平移连杆机构114被示出为具有四连杆机构302、304的分别与中间连杆机构506、508、510、512分开的内连杆机构502、504。中间连杆机构506-512将内连杆机构502、504联接到框架306，框架用作四连杆机构302、304的一部分。

图6是图3的示例柔性基板测试系统100的立体图，其中第二板104已经移动到位置以折叠被测基板102。

图7是可以用于实施图1A的柔性基板测试系统100的另一示例柔性基板测试系统700的立体图。图8是图7的示例柔性基板测试系统700的立视图。图9是图7的示例柔性基板测试系统的平面视图。图10是图7的示例柔性基板测试系统的立视图。

示例柔性基板测试系统700包括第一板704、第二板706、引导板708a、708b和通过驱动轴712驱动的驱动臂710a、710b。第一板704保持静止，而驱动臂710a、710b根据由引导板708a、708b限定的路径移动第二板706以对附接到第一板704和第二板706的基板进行折叠。

在图7至图9的示例中，示例平移连杆机构114包括挠性件714a、714b，挠性件与引导板708a、708b联接到同一底板716。挠性件714a、714b支撑第一板704并允许将载荷从柔性基板转移到测力传感器718。挠性件714a、714b限制第一板704在除了测力传感器718测量力的方向之外的方向上的移动。

示例引导板708a、708b类似于图3中所展示的引导板108。在图7至图9的示例中，引导板708a、708b均包括致动器凹槽720a、720b和一个凸轮凹槽722a、722b。驱动臂710a、710b(例如，通过预加载的致动销724a、724b)联接到相应的致动器凹槽720a、720b以移动(例如，折叠、展开)第二板706。

致动器凹槽720a、720b(例如，通过预加载的凸轮从动件724a、724b)和凸轮凹槽722a、722b(例如，通过凸轮从动件或支承件726a、726b)都联接到第二板706以控制第二板708的移动和折叠路径，以及因此控制基板折叠的路径。示例引导板708a、708b可以包括更多的致动器凹槽720a、720b和/或凸轮凹槽722a、722b。

如图8所展示的，驱动臂710a、710b包括从驱动臂710a、710b的枢转轴线804径向延伸的相应狭槽802a、802b。在图8的示例中，致动器110经由限定枢转轴线804的驱动轴712致动(例如，旋转)驱动臂710a、710b。当驱动臂710a、710b旋转时，狭槽802a、802b引导相应的支承件726a、726b，同时当驱动臂710a、710b旋转时允许支承件726a、726b沿着狭槽802a、802b的长度自由移动。

图11是图7的示例第一板704、挠性件714a、714b和测力传感器120的更详细视图。示例挠性件714a、714b由支架1102a、1102b支撑，这些支架联接到底板310。

挠性件714a、714b包括附接到支架1102a、1102b和第一板110以支撑第一板110的重量的金属条。第一板110也联接到测力传感器120以将载荷传递到测力传感器120进行测量。

为了避免测力传感器120过载，第一板110包括停止点，该停止点被配置为防止第一板110朝向测力传感器120行进超过停止点。在所展示的示例中，使用停止块1104a、1104b来实施停止点。支撑架1106a、1106b将挠性件714a、714b联接到第一板110。停止块1104a、1104b被配置为在支撑架1106a、1106b的预定行程量(例如，第一板110上的预定载荷量)之后使将挠性件714a、714b联接到第一板110的支撑架1106a、1106b停止。

图12是表示测量柔性基板上的载荷的示例方法1200的流程图，该方法可以由图1A至图11的示例柔性基板测试系统执行。下面参考图1A和图2公开示例方法1200。

在框1202处，处理器203和/或控制处理器238校准测力传感器112、230以补偿第一基板支撑结构和/或第二基板支撑结构(例如，第一板104、第二板106)、平移连杆机构114的重量和/或影响测力传感器112、230进行测量的任何其他力。

在框1204处，第一基板支撑结构(例如，第一板104)将柔性基板102的第一部分保持静止。在框1206处，第二基板支撑结构(例如，第二板106)固持柔性基板102的第二部分。

在框1208处，处理器203和/或控制处理器238确定是否折叠柔性基板102。例如，处理器203可以确定是否要执行折叠循环(例如，折叠和展开)。如果不执行折叠(框1208)，则控制循环回到框1208以等待折叠。

当要执行折叠时(框1208)，在框1210处，处理器203和/或控制处理器238控制致动器110在折叠方向上移动第二基板支撑结构以折叠柔性基板102。在一些示例中，一个或多个引导件(比如引导板108)可以用于在折叠期间控制柔性基板102的弯曲半径和/或折叠路径。在框1212处，测力传感器112、230在折叠期间测量柔性基板102上的动态载荷和/或在折叠之后测量柔性基板102上的静态载荷。

在框1214处，处理器203和/或控制处理器238确定是否展开柔性基板102。如果不执行展开(框1214)，则控制循环回到框1214以等待展开。

当要执行展开时(框1214)，在框1216处，处理器203和/或控制处理器238控制致动器110在展开方向上移动第二基板支撑结构以展开柔性基板102。在一些示例中，一个或多个引导件(比如引导板108)可以用于在展开期间控制柔性基板102的弯曲半径和/或折叠路径。在框1218处，测力传感器112、230在展开期间测量柔性基板102上的动态载荷和/或在展开之后测量柔性基板102上的静态载荷。

在框1220处，处理器203和/或控制处理器238确定是否重复折叠循环。例如，柔性基板102可以经受包括多个折叠循环的测试过程。如果要重复折叠循环(框1220)，则控制返回到框1208。如果不重复折叠循环(框1220)，则示例方法1200结束。

可以用硬件、软件、和/或硬件和软件的组合来实现本方法和系统。可以以集中方式在至少一个计算系统中实现本方法和/或系统，或者以不同的要素遍布在若干互连计算系统上的分布式方式实现本方法和/或系统。适用于执行本文所描述的方法的任何种类的计算系统或其他装置都是适合的。硬件与软件的典型组合可以包括具有程序或其他代码的通用计算系统，该程序或其他代码当被加载和执行时控制该计算系统以使得该计算系统执行本文所描述的方法。另一个典型实施方式可以包括专用集成电路或芯片。一些实施方式可以包括非暂时性机器可读(例如，计算机可读)介质(例如，闪存驱动器、光盘、磁存储盘等)，该非暂时性机器可读介质上存储有可由机器执行的一行或多行代码，从而使机器执行如本文所描述的过程。如本文中所使用的，术语“非暂时性机器可读介质”被定义为包括所有类型的机器可读存储介质并且排除传播信号。

如本文所使用的，术语“电路”和“电路系统”是指物理电子部件(即，硬件)以及可以配置硬件、由硬件执行和/或以其他方式与硬件相关联的任何软件和/或固件(“代码”)。如本文中所使用的，例如，特定的处理器和存储器在执行第一一行或多行代码时可以构成第一“电路”，而在执行第二一行或多行代码时可以构成第二“电路”。如本文所使用的，“和/或”是指列表中由“和/或”连接的多个项中的任何一项或多项。例如，“x和/或y”是指三元素集合{(x),(y),(x,y)}中的任何元素。换言之，“x和/或y”是指“x和y中的一个或两个”。作为另一示例，“x、y和/或z”是指七元素集{(x),(y),(z),(x,y),(x,z),(y,z),(x,y,z)}中的任何元素。换言之，“x、y和/或z”是指“x、y和z中的一个或多个”。如本文所使用的，术语“示例性”是指用作非限制性示例、实例、或图示。如本文所使用的，术语“譬如(e.g.)”和“例如(for example)”引出一个或多个非限制性示例、实例、或图示的列表。如本文所使用的，当电路系统包括某一执行功能所必需的硬件和代码(如果有必要)时，电路系统“能够操作”以执行该功能，而无论该功能的执行是被禁用或未被启用(例如，通过用户可配置的设置、出厂调整等)。

尽管已经参考某些实施方式描述了本方法和/或系统，但是本领域技术人员将理解，在不脱离本方法和/或系统的范围的情况下，可以进行各种改变并且可以用等效物替换。例如，所公开的示例的框和/或部件可以被组合、划分、重新布置和/或以其他方式被修改。附加地，在不脱离本公开内容范围的情况下，可以做出许多修改以使特定情况或材料适应于本公开内容的教导。因此，本方法和/或系统不限于所公开的特定实施方式。替代地，本方法和/或系统将包括无论是从字面上还是依据等同原则都落入所附权利要求的范围内的所有实施方式。